Wykaz publikacji wybranego autora

Beata Dubiel, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kppm, Katedra Plastycznej Przeróbki Metali i Metalurgii Ekstrakcyjnej


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-4917-5437 orcid iD

ResearcherID: GRR-7991-2022

Scopus: 55999375600

PBN: 5e70920b878c28a04738f0a7

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • 3D imaging and metrology of yttria dispersoids in INCOLOY MA956 by electron tomography / Adam KRUK, Beata DUBIEL, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ // Diffusion and Defect Data – Solid State Data. Part B, Solid State Phenomena ; ISSN 1012-0394. — 2012 vol. 186, s. 37–40. — Bibliogr. s. 40, Abstr.. — Electron Microscopy XIV : selected peer reviewed papers from the XIV international conference on Electron Microscopy (EM 2011) : June 26–30, 2011, Wisla, Poland / ed. Danuta Stróż, Krystian Prusik. — Durnten-Zurich : Trans Tech Publications Ltd, cop. 2012. — ISBN-13 978-3-03785-381-8. — tekst: http://www.scientific.net/SSP.186.37

  • keywords: INCOLOY MA956, HAADF-STEM tomography, FIB/SEM tomography

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.4028/www.scientific.net/SSP.186.37

2
  • Application of ChemiSTEM EDX to elemental mapping of $\gamma'$ and $\gamma”$ nanoparticles in Inconel 718 superalloy / K. KULAWIK, P. A. BUFFAT, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: emc2012 Manchester [Dokument elektroniczny] : proceedings of the 15th European Microscopy Congress : 16th–21st September 2012, Manchester, UK / RMS The Royal Microscopical Society, IFSM International Federation of Societies for Microscopy. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [UK : s. n.], [2012]. — 1 dysk optyczny. — S. [1–2]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD. — Bibliogr. s. [1–2]. — Tyt. przejeto z ekranu tytułowego. — Dod. afiliacja autora: P. A. Buffat'a: Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • Characterisation of $\gamma - \gamma'$ interfaces in Ni-based superalloys by STEM-HAADF and high spatial resolution EDX mapping / B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: emc2012 : proceedings of the 15\textsuperscript{th} European Microscopy Congress : 16\textsuperscript{th}–21\textsuperscript{st} September 2012, Manchester, UK. Vol. 1, Physical sciences: applications / eds. D. J. Stokes, W. M. Rainforth ; RMS Royal Microscopical Society, IFSM International Federation of Societies for Microscopy. — UK : RMS, cop. 2012 + CD-ROM. — ISBN: 978-0-9502463-5-2. — S. 241–242. — Bibliogr. s. 241–242

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • High spatial resolution EDX mapping of chemical elements partitioning between the $\gamma$ and $\gamma$' phases in single crystal Ni-base superalloy CMSX-4 / B. DUBIEL. A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: C-MAC Days 2012 : 10–13.12.2012 Kraków, Poland : proceedings / eds. M. Lipińska-Chwałek, A. Czyrska-Filemonowicz. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe AKAPIT, 2012. — ISBN: 978-83-63663-07-0. — S. 13

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
  • Metrology and morphology of $\gamma$' and $\gamma$” nanoparticles in Inconel 718 measured by FIB/SEM tomography / K. KULAWIK, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: STERMAT 2012 : IX international conference on Stereology and image analysis in materials : 3–6 September, 2012, Zakopane, Poland : program & abstracts. — [Poland : s. n.], [2012]. — Opis częśc. wg okł.. — S. 9. — Bibliogr. s. 9

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6
  • Phase transformations in Al alloys during heat treatment investigated by {\em in situ} TEM / S. R. K. Malladi, Q. Xu, G. Pandraud, F. D. Tichelaar, H. W. Zandbergen, K. Kulawik, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: emc2012 Manchester [Dokument elektroniczny] : proceedings of the 15th European Microscopy Congress : 16th–21st September 2012, Manchester, UK / RMS The Royal Microscopical Society, IFSM International Federation of Societies for Microscopy. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [UK : s. n.], [2012]. — 1 dysk optyczny. — S. [1–2]. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. [2]. — Tyt. przejęto z ekranu tytułowego

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
  • Probe Cs-corrected STEM with ChemiSTEM EDX microanalysis system for characterisation of $\gamma$' and $\gamma$” nanoparticles strengthening Inconel 718 superalloy / K. KULAWIK, P. A. BUFFAT, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: C-MAC Days 2012 : 10–13.12.2012 Kraków, Poland : proceedings / eds. M. Lipińska-Chwałek, A. Czyrska-Filemonowicz. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe AKAPIT, 2012. — ISBN: 978-83-63663-07-0. — S. 25. — Bibliogr. s. 25. — Dod. afiliacja P. A. Buffat: Ecole Politechnique Fédérale de Lausanne, Switzerland

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

8
  • TEM analyses of microstructure evolution in ex-service single crystal CMSX-4 gas turbine blade / Beata DUBIEL, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ // Diffusion and Defect Data – Solid State Data. Part B, Solid State Phenomena ; ISSN 1012-0394. — 2012 vol. 186, s. 139–142. — Bibliogr. s. 142, Abstr.. — Electron Microscopy XIV : selected peer reviewed papers from the XIV international conference on Electron Microscopy (EM 2011) : June 26–30, 2011, Wisla, Poland / ed. Danuta Stróż, Krystian Prusik. — Durnten-Zurich : Trans Tech Publications Ltd, cop. 2012. — ISBN-13 978-3-03785-381-8. — tekst: http://www.scientific.net/SSP.186.139.pdf

  • keywords: creep, single crystal superalloy, gamma' phase

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.4028/www.scientific.net/SSP.186.139

9
  • The 3D imaging and metrology of CMSX-4 superalloy microstructure using FIB/SEM and STEM-EDX tomography methods / A. KRUK, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: emc2012 Manchester [Dokument elektroniczny] : proceedings of the 15th European Microscopy Congress : 16th–21st September 2012, Manchester, UK / RMS The Royal Microscopical Society, IFSM International Federation of Societies for Microscopy. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [UK : s. n.], [2012]. — 1 dysk optyczny. — S. [1–2]. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. [2]. — Tyt. przejęto z ekranu tytułowego

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

10
  • Three-dimensional visualization and metrology of nanoparticles in Inconel 718 by electron tomography / Krzysztof KULAWIK, Adam KRUK, Beata DUBIEL, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ // Diffusion and Defect Data – Solid State Data. Part B, Solid State Phenomena ; ISSN 1012-0394. — 2012 vol. 186, s. 45–48. — Bibliogr. s. 48, Abstr.. — Electron Microscopy XIV : selected peer reviewed papers from the XIV international conference on Electron Microscopy (EM 2011) : June 26–30, 2011, Wisla, Poland / ed. Danuta Stróż, Krystian Prusik. — Durnten-Zurich : Trans Tech Publications Ltd, cop. 2012. — ISBN-13 978-3-03785-381-8. — tekst: http://www.scientific.net/SSP.186.45.pdf

  • keywords: electron tomography, nano particles, Inconel 718, FIB tomography

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.4028/www.scientific.net/SSP.186.45