Wykaz publikacji wybranego autora

Beata Dubiel, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kppm, Katedra Plastycznej Przeróbki Metali i Metalurgii Ekstrakcyjnej


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-4917-5437 orcid iD

ResearcherID: GRR-7991-2022

Scopus: 55999375600

PBN: 5e70920b878c28a04738f0a7

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • 2\textsuperscript{nd} Stanisław Gorczyca Workshop on Electron microscopy: new TEM techniques : 1–4.10.2008, Kraków : proceedings / eds. Beata DUBIEL, Elżbieta STĘPNIOWSKA, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, 2008. — 311 s.. — ISBN: 978-83-60958-23-0. — Na s. tyt. dod.: ESTEEM – Enabling Science and Technology through European Electron Microscopy

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Analiza wydzieleń faz $\gamma$' i $\gamma$” w nadstopie niklu IN718 metodami wysokorozdzielczej mikroskopii elektronowej i holografii elektronowejAnalysis of $\gamma$' and $\gamma$” precipitates in nickel-base superalloy Inconel 718 using HRTEM and electron holography methods / E. STĘPNIOWSKA, B. DUBIEL, D. Geiger, P. Formanek, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: XXXVI Szkoła Inżynierii Materiałowej : Kraków–Krynica, 23–26 IX 2008 / pod red. Jerzego Pacyny ; Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie. Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej. — [Kraków : AGH. WIMiIP], [2008] + CD-ROM. — Na okł. tyt.: Prace Szkoły Inżynierii Materiałowej. — S. 61–65. — Bibliogr. s. 65, Streszcz., Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • Analysis of $\gamma$' and $\gamma$” precipitates in nickel-base superalloy inconel 718 using HRTEM and 3D visualisation methods : abstract / E. STĘPNIOWSKA, B. DUBIEL, D. Geiger, G. CEMPURA, J. C. Hernandez, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: 2\textsuperscript{nd} Stanisław Gorczyca Workshop on Electron microscopy: new TEM techniques : 1–4.10.2008, Kraków : proceedings / eds. Beata Dubiel, Elżbieta Stępniowska, Aleksandra Czyrska-Filemonowicz. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, 2008. — Na s. tyt. dod.: ESTEEM – Enabling Science and Technology through European Electron Microscopy. — ISBN: 978-83-60958-23-0. — S. 306–307

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • Analytical electron microscopy and electron holography of ${Co}$ magnetic layers deposited on ${Cu}$ / E. STĘPNIOWSKA, D. Wolf, H. FIGIEL, F. CIURA, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: EM'2008 : XIII international conference on Electron Microscopy : Zakopane, Poland, 8–11 June 2008 : abstracts. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, cop. 2008. — ISBN: 978-83-60958-15-5. — S. 158

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
  • Analytical electron microscopy investigations of a microstructure of single and polycrystalline $\beta$-${Mg_{2}Al_{3}}$ Samson phase / A. ZIELIŃSKA-LIPIEC, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: EMC 2008 : 14th European Microscopy Congress : 1–5 September 2008, Aachen, Germany. Vol. 2, Materials science / eds. Silvia Richter, Alexander Schwedt. — Berlin ; Heidelberg : Springer-Verlag, cop. 2008. — ISBN: 978-3-540-85225-4. — S. 517–518. — Bibliogr. s. 517

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6
  • Analytical TEM and electron holography of ferromagnetic cobalt nanolayers : abstract / E. STĘPNIOWSKA, D. Wolf, B. DUBIEL, T. ŚLĘZAK, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: 2\textsuperscript{nd} Stanisław Gorczyca Workshop on Electron microscopy: new TEM techniques : 1–4.10.2008, Kraków : proceedings / eds. Beata Dubiel, Elżbieta Stępniowska, Aleksandra Czyrska-Filemonowicz. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, 2008. — Na s. tyt. dod.: ESTEEM – Enabling Science and Technology through European Electron Microscopy. — ISBN: 978-83-60958-23-0. — S. 308–309

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
  • Analytical TEM and electron holography of magnetic field distribution in nanocrystalline ${Co}$ layers deposited on ${Cu}$ / B. DUBIEL, D. Wolf, E. STĘPNIOWSKA, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: EMC 2008 : 14th European Microscopy Congress : 1–5 September 2008, Aachen, Germany. Vol. 1, Instrumentation and methods / eds. Martina Luysberg, Karsten Tillmann, Thomas Weirich. — Berlin ; Heidelberg : Springer-Verlag, cop. 2008. — ISBN: 978-3-540-85154-7. — S. 253–254. — Bibliogr. s. 254

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

8
9
10
  • High temperature ODS alloys – microstructure and properties / B. DUBIEL, H. Schuster, P. Krautwasser, A. WASILKOWSKA, M. WRÓBEL, H.-J. Penkalla, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: Proceedings of Polish-German workshop on Materials for advanced energy systems : 25 years of co-operation between AGH and FZJ : 17–18. 04. 2008 Kraków, Poland / proceedings ed. Aleksandra Czyrska-Filemonowicz, Grzegorz Cempura ; AGH, Jülich Forschungszentrum. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe„Akapit”, cop. 2008. — ISBN: 978-83-60958-12-4. — S. 15

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

11
  • HRTEM and electron holography studies of strengthening particles in Inconel 718 superalloy / B. DUBIEL, E. STĘPNIOWSKA, P. Formanek, D. Geiger, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: 7-th Polish-Japanese joint seminar on Micro and nano analysis : 7–10 September 2008, Warsaw, Poland : programme and book of abstracts / Institute of Electron Technology. — [Warsaw : IET], [2008]. — S. D1.3. — Bibliogr. s. D1.3

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

12
  • Microstructural changes during high temperature creep of CMSX-4 single crystal ${Ni}$-base superalloy / B. DUBIEL, K. PŁOŃSKA-NIŻNIK, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: EM'2008 : XIII international conference on Electron Microscopy : Zakopane, Poland, 8–11 June 2008 : abstracts. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, cop. 2008. — ISBN: 978-83-60958-15-5. — S. 53

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

13
  • Microstructural development of the PWA 1484 ${Ni}$-base superalloy during creep deformation / M. ZIĘTARA, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: EM'2008 : XIII international conference on Electron Microscopy : Zakopane, Poland, 8–11 June 2008 : abstracts. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, cop. 2008. — ISBN: 978-83-60958-15-5. — S. 172

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

14
  • Quantification and 3D visualisation of strenghtening particles in INCONEL 718 superalloy / E. STĘPNIOWSKA, D. Geiger, G. CEMPURA, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMOWICZ // W: EM'2008 : XIII international conference on Electron Microscopy : Zakopane, Poland, 8–11 June 2008 : abstracts. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, cop. 2008. — ISBN: 978-83-60958-15-5. — S. 159

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

15
  • TEM microstructure investigation of the single and polycrystalline $\beta$-${Al_{3}Mg_{2}}$ Samson phase / A. ZIELIŃSKA-LIPIEC, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: EM'2008 : XIII international conference on Electron Microscopy : Zakopane, Poland, 8–11 June 2008 : abstracts. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, cop. 2008. — ISBN: 978-83-60958-15-5. — S. 170

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

16
  • The correlation of the microstructure and mechanical properties of the ${Fe-30Ni}$ alloy after thermo-mechanical treatment / F. CIURA, B. DUBIEL, W. OSUCH, G. MICHTA, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: EM'2008 : XIII international conference on Electron Microscopy : Zakopane, Poland, 8–11 June 2008 : abstracts. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, cop. 2008. — ISBN: 978-83-60958-15-5. — S. 42

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: