Wykaz publikacji wybranego autora

Beata Dubiel, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kppm, Katedra Plastycznej Przeróbki Metali i Metalurgii Ekstrakcyjnej


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-4917-5437 orcid iD

ResearcherID: GRR-7991-2022

Scopus: 55999375600

PBN: 5e70920b878c28a04738f0a7

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • 2\textsuperscript{nd} Stanisław Gorczyca Workshop on Electron microscopy: new TEM techniques : 1–4.10.2008, Kraków : proceedings / eds. Beata DUBIEL, Elżbieta STĘPNIOWSKA, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, 2008. — 311 s.. — ISBN: 978-83-60958-23-0. — Na s. tyt. dod.: ESTEEM – Enabling Science and Technology through European Electron Microscopy

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • 3D imaging and metrology of yttria dispersoids in Incoloy MA956 by electron tomography / KRUK A., DUBIEL B., CZYRSKA-FILEMONOWICZ A. // W: EM 2011 : XIV\textsuperscript{th} international conference on Electron Microscopy : 26–30 June, 2011, Wisła, Poland : programme & abstracts. — [Polska : s. n.], 2011. — S. 67. — Bibliogr. s. 67

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • Analiza mikrostruktury nadstopu SCRY4 po pełzaniuMicrostructural analysis of creep deformed SCRY4 superalloy / Grzegorz Sosin, Beata DUBIEL, Grzegorz MICHTA // W: 85 lat KMiMP : konferencja naukowa zorganizowana z okazji 85-lecia Katedry Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków : Kraków, maj 2007 / pod red. Grzegorza Michty. — Kraków : Akademia Górniczo-Hutnicza im. St. Staszica. Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej. KMiMP, 2007. — Opis częśc. wg okł.. — ISBN: 978-83-87331-81-8. — S. 160–163. — Streszcz.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • Analiza mikrostruktury stopu SCRY4 po pełzaniu[Microstructural analysis of creep deformed SCRY4 superalloy] / Grzegorz Sosin, Beata DUBIEL // W: II Ogólnopolska konferencja studenckich kół naukowych : koła naukowe kuźnią talentów : 20–22 IV 2007, [Warszawa] : materiały konferencyjne / red. Kamil Misztal. — Warszawa : Samorząd Studentów Politechniki Warszawskiej, cop. 2007. — Opis częśc. wg okł.. — ISBN: 978-83-60676-48-6. — S. 129. — Bibliogr. s. 129

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
  • Analiza wydzieleń faz $\gamma$' i $\gamma$” umacniających stop Inconel 718Analysis of strenghteting precipitates of $\gamma$' and $\gamma$” in Inconel 718 superalloy / Elżbieta Stępniowska, Beata DUBIEL, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: 85 lat KMiMP : konferencja naukowa zorganizowana z okazji 85-lecia Katedry Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków : Kraków, maj 2007 / pod red. Grzegorza Michty. — Kraków : Akademia Górniczo-Hutnicza im. St. Staszica. Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej. KMiMP, 2007. — Opis częśc. wg okł.. — ISBN: 978-83-87331-81-8. — S. 164–167. — Bibliogr. s. 167, Streszcz.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6
  • Analiza wydzieleń faz $\gamma$' i $\gamma$” w nadstopie niklu IN718 metodami wysokorozdzielczej mikroskopii elektronowej i holografii elektronowejAnalysis of $\gamma$' and $\gamma$” precipitates in nickel-base superalloy Inconel 718 using HRTEM and electron holography methods / E. STĘPNIOWSKA, B. DUBIEL, D. Geiger, P. Formanek, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: XXXVI Szkoła Inżynierii Materiałowej : Kraków–Krynica, 23–26 IX 2008 / pod red. Jerzego Pacyny ; Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie. Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej. — [Kraków : AGH. WIMiIP], [2008] + CD-ROM. — Na okł. tyt.: Prace Szkoły Inżynierii Materiałowej. — S. 61–65. — Bibliogr. s. 65, Streszcz., Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
  • Analysis of $\gamma$' and $\gamma$” precipitates in nickel-base superalloy inconel 718 using HRTEM and 3D visualisation methods : abstract / E. STĘPNIOWSKA, B. DUBIEL, D. Geiger, G. CEMPURA, J. C. Hernandez, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: 2\textsuperscript{nd} Stanisław Gorczyca Workshop on Electron microscopy: new TEM techniques : 1–4.10.2008, Kraków : proceedings / eds. Beata Dubiel, Elżbieta Stępniowska, Aleksandra Czyrska-Filemonowicz. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, 2008. — Na s. tyt. dod.: ESTEEM – Enabling Science and Technology through European Electron Microscopy. — ISBN: 978-83-60958-23-0. — S. 306–307

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

8
  • Analytical electron microscopy and electron holography of ${Co}$ magnetic layers deposited on ${Cu}$ / E. STĘPNIOWSKA, D. Wolf, H. FIGIEL, F. CIURA, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: EM'2008 : XIII international conference on Electron Microscopy : Zakopane, Poland, 8–11 June 2008 : abstracts. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, cop. 2008. — ISBN: 978-83-60958-15-5. — S. 158

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

9
  • Analytical electron microscopy investigation of topologically close-packed phases in CMSX-4 single crystal superalloy / B. DUBIEL, I. KALEMBA-REC, P. Indyka, T. MOSKALEWICZ // W: XXIII CAC 2015 : Conference on Applied Crystallography : 20–24 September 2015, Krynica-Zdrój, Poland : programme & abstracts. — [Krynica-Zdrój : s. n.], [2015]. — S. 65–66. — Bibliogr. s. 66

  • keywords: CMSX-4, superalloy, TCP phases

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

10
11
  • Analytical electron microscopy studies of precipitates in Inconel 625 additively manufactured by L-PBF technology and subjected to high-temperature annealing / B. DUBIEL, M. Zubko, P. Indyka, M. GAJEWSKA, K. GOLA, S. STAROŃ, H. PASIOWIEC // W: 13\textsuperscript{th} Polish-Japanese joint seminar on Micro and nano analysis : [25–28 September 2022, Ustroń] : abstract book. — [Katowice : University of Silesia], [2022]. — S. 81–82. — Bibliogr. s. 82

  • keywords: Inconel 625, additive manufacturing, analytical electron microscopy

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

12
  • Analytical electron microscopy studies of the CMSX-4 single crystal superalloy subjected to high temperature annealing / B. DUBIEL. P. Indyka, I. KALEMBA-REC, A. KRUK, T. Moskalewicz // W: Abstract book of 11\textsuperscript{th} Polish-Japanese joint seminar on Micro and nano analysis : 11–14 September 2016, Gniew, Poland / PAN, PTMi, Kyushu University. — [Poland : s. n.], [2016]. — S. 61. — Bibliogr. s. 61

  • keywords: electron tomography, EDS, CMSX-4, STEM

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

13
  • Analytical electron microscopy studies of the CMSX-4 single crystal superalloy subjected to high temperature annealing / B. DUBIEL. P. Indyka, I. KALEMBA-REC, T. MOSKALEWICZ // Acta Physica Polonica. A ; ISSN 0587-4246. — 2017 vol. 131 no. 5, s. 1375–1378. — Bibliogr. s. 1378. — 11th Polish–Japanese Joint Seminar on Micro and Nano Analysis : Gniew, September 11–14, 2016. — tekst: https://goo.gl/N4C2bn

    orcid iD
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.12693/APhysPolA.131.1375

14
  • Analytical TEM and electron holography of ferromagnetic cobalt nanolayers : abstract / E. STĘPNIOWSKA, D. Wolf, B. DUBIEL, T. ŚLĘZAK, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: 2\textsuperscript{nd} Stanisław Gorczyca Workshop on Electron microscopy: new TEM techniques : 1–4.10.2008, Kraków : proceedings / eds. Beata Dubiel, Elżbieta Stępniowska, Aleksandra Czyrska-Filemonowicz. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, 2008. — Na s. tyt. dod.: ESTEEM – Enabling Science and Technology through European Electron Microscopy. — ISBN: 978-83-60958-23-0. — S. 308–309

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

15
  • Analytical TEM characterisation of platinum-aluminide coatings on a nickel-base superalloy CMSX-4 / B. DUBIEL, T. MOSKALEWICZ, L. Swadźba, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: EMAS 2009 : 11th European workshop on Modern developments and applications in microbeam analysis : 10 to 14 May 2009 Gdynia/Rumia, Gdańsk, Poland : book of tutorials and abstracts / European Microbeam Analysis Society. — [Poland : EMAS], [2009]. — S. 245

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

16
  • Application of EDS mapping for quantitative microstructural analysis of Waspaloy / Adam KRUK, Beata DUBIEL, Jarosław WOSIK, Heinz Josef Penkalla, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: Proceedings of 3rd Japanese-Polish joint seminar on Materials analysis : 16–19 July 2000, Zakopane, Poland. — [Poland : s. n.], [2000]. — S. 47–48. — Bibliogr. s. 47

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

17
  • Application of EFTEM and FIB electron tomography to 3D visualization and metrology of nanoparticles in Inconel 718 superalloyZastosowanie tomografii EFTEM i FIB do przestrzennej wizualizacji i metrologii nanocząstek w nadstopie Inconel 718 / Adam KRUK, Grzegorz CEMPURA, Beata DUBIEL, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ // Inżynieria Materiałowa ; ISSN 0208-6247. — 2010 R. 31 nr 3, s. 606–609. — Bibliogr. s. 609

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

18
  • Application of electron tomography to analysis of nanoparticles in structural alloys / Grzegorz CEMPURA, Adam KRUK, Beata DUBIEL, Juan C. Hernandes, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: E-MRS 2009 fall meeting : European Materials Research Society : Warsaw (Poland) : 14th – 18th September, 2009 : scientific programme and book of abstracts / Warsaw University of Technology. — [Polska : s. n.], [2009]. — S. 167

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

19
  • Badania wpływu polielektrolitu anionowego PAA na osadzanie elektroforetyczne powłok SiO2 i Ni/SiO2[Influence of anionic polyelectrolyte PAA on the electrophoretic deposition of SiO2 and Ni/SiO2 coatings] / Tomasz RATAJSKI, Izabela KALEMBA-REC, Beata DUBIEL // W: Nowoczesne technologie w inżynierii powierzchni : VI ogólnopolska konferencja naukowa : Łódź-Spała, 25–28 września 2016 / red. nauk. Tomasz Kapitaniak ; Politechnika Łódzka. Instytut Inżynierii Materiałowej. — Łódź : Wydawnictwo Politechniki Łódzkiej, cop. 2016. — ISBN: 978-83-7283-761-5. — S. 75. — Afiliacja autorów: Akademia Górniczo-Hutnicza

  • słowa kluczowe: SiO2, osadzanie elektroforetyczne, PAA, powłoki nanokompozytowe

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

20
  • Characterisation of microstructure evolution during high temperature creep of CMSX-4 superalloy by TEM, HRSTEM and high spatial resolution EDX mapping : [abstract] / DUBIEL Beata, CZYRSKA-FILEMONOWICZ Aleksandra // W: AMT'2013 : Advanced Materials and Technologies : XX physical metallurgy and materials science conference : 9–12 June 2013, Kudowa Zdrój / Częstochowa University of Technology. Institute of Materials Engineering. — [Częstochowa : University of Technology], [2013]. — Opis częśc. wg okł.. — S. 88

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

21
  • Characterisation of microstructure evolution during high temperature creep of CMSX-4 superalloy by TEM, HRSTEM and high spatial resolution EDX mappingCharakterystyka zmian mikrostruktury podczas wysokotemperaturowego pełzania nadstopu CMSX-4 metodami TEM, HRSTEM oraz za pomocą map rozmieszczenia pierwiastków STEM-EDX z wysoką rozdzielczością przestrzenną / Beata DUBIEL, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ // Inżynieria Materiałowa ; ISSN 0208-6247. — 2013 R. 34 nr 3, s. 153–156. — Bibliogr. s. 156, Streszcz., Abstr.

  • słowa kluczowe: monokrystaliczne nadstopy niklu, pełzanie, rafting

    keywords: creep, rafting, single crystal superalloys

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

22
  • Characterisation of TCP phases in CMSX-4 single crystal superalloy subjected to high temperature annealing and creep deformation / B. DUBIEL, P. Indyka, A. KRUK, I. KALEMBA-REC, T. MOSKALEWICZ, K. BERENT, M. GAJEWSKA // W: AMT 2016 : Advanced Materials and Technologies : XXI physical metallurgy and materials science conference : Rawa Mazowiecka, June 5–8, 2016 : conference abstracts. — [Polska] : BEL Studio Sp. z o. o., [2016]. — ISBN: 978-83-7798-600-4. — S. [1–2] CP3

  • keywords: creep, annealing, single crystal nickel-base superalloys, TCP phases

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

23
  • Characterisation of TCP phases in CMSX-4 single crystal superalloy subjected to high temperature annealing and creep deformationCharakterystyka wydzieleń faz TCP w monokrystalicznym nadstopie CMSX-4 po wysokotemperaturowym wyżarzaniu i pełzaniu / Beata DUBIEL, Paulina Indyka, Adam KRUK, Izabela KALEMBA-REC, Tomasz MOSKALEWICZ, Katarzyna BERENT, Marta GAJEWSKA // Inżynieria Materiałowa ; ISSN 0208-6247. — 2016 R. 37 nr 4, s. 150–155. — Bibliogr. s. 154. — Tekst pol.-ang.. — tekst: https://imat.polsl.pl/Archiwum/2016/4/2016-4-1-full%20text.pdf

  • słowa kluczowe: wyżarzanie, monokrystaliczne nadstopy niklu, pełzanie, fazy TCP

    keywords: creep, annealing, single crystal nickel-base superalloys, TCP phases

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.15199/28.2016.4.1

24
  • Characterization of the $\gamma$-TiAl microstructure by analytical electron microscopy / G. CEMPURA, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: 5\textsuperscript{th} Polish-Japanese symposium on Advanced methods of materials characterization : 29. 08.–2. 09. 2004 Niedzica, Poland : programme and abstracts. — [Kraków : Polish Academy Of Science. Institute of Metallurgy and Materials Science], [2004]. — S. 12–14. — Bibliogr. s. 14

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

25
  • Charakterystyczne cechy mikrostruktury ściskanych monokryształów aluminiumCharacteristic features of the microstructure of compressed aluminum monocrystals / Maria RICHERT, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ, Jan RICHERT, Henryk DYBIEC, Agnieszka Wusatowska-Sarnek, Beata DUBIEL // Inżynieria Materiałowa ; ISSN 0208-6247. — 2000 R. 21 nr 4, s. 149–156. — Bibliogr. s. 155–156, Summ.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: