Wykaz publikacji wybranego autora

Beata Dubiel, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kmsż, Katedra Metalurgii Stopów Żelaza

[dyscyplina wiodąca] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-4917-5437

ResearcherID: A-2796-2013

Scopus: 55999375600

PBN: 901295

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)



Statystyka obejmuje publikacje afiliowane AGH od 2008 roku włącznie

typ publikacji
rocznikl. publ.książkifragm.referatyartykułypatentymapyred. czas.inne
ogółem190559882
2020615
2019761
2018532
20171028
201619298
20158161
20148134
2013835
20121073
20119153
201013310
20097142
2008161132
200715186
2006927
2005532
20045131
20034112
2002743
2001844
2000752
1999431
język publikacji
rocznikrazempolskojęzyczneanglojęzycznepozostałe języki
ogółem190371494
2020615
2019725
2018523
20171010
2016195113
2015817
2014817
201388
20121010
2011927
201013211
2009716
200816115
20071569
2006936
200555
2004514
200344
20027241
2001826
2000743
1999413
kraj wydania
rocznikrazempubl. krajowepubl. zagraniczne
ogółem19012466
2020615
2019761
2018532
20171064
201619172
2015862
2014844
2013835
20121037
2011963
20101376
2009743
200816124
200715132
2006945
2005541
2004541
2003422
2002743
2001862
2000761
1999431
Lista Filadelfijska
rocznikrazempubl. z LFpubl. pozostałe
ogółem19043147
2020642
2019716
2018523
20171082
201619415
2015817
2014835
2013817
20121010
2011918
201013310
2009725
200816214
200715213
2006945
2005514
200455
2003422
2002716
2001817
200077
199944
punktacja MNiSW
rocznikrazempubl. z pkt. MNiSWpubl. pozostałe
ogółem19061129
2020651
2019716
2018523
20171082
201619811
2015817
2014844
2013853
20121037
2011945
201013103
2009725
200816214
20071569
200699
200555
200455
200344
200277
200188
200077
199944
publikacje recenzowane
rocznikrazempubl. recenzowanepubl. nierecenzowane
ogółem19086104
2020651
2019734
2018541
20171082
201619109
2015826
2014853
2013853
20121037
2011945
201013103
2009734
200816313
200715312
2006945
2005523
2004514
2003422
2002725
2001844
2000725
1999413



1
  • 2\textsuperscript{nd} Stanisław Gorczyca Workshop on Electron microscopy: new TEM techniques : 1–4.10.2008, Kraków : proceedings / eds. Beata DUBIEL, Elżbieta STĘPNIOWSKA, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, 2008. — 311 s.. — ISBN: 978-83-60958-23-0. — Na s. tyt. dod.: ESTEEM – Enabling Science and Technology through European Electron Microscopy

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • 3D characterization and metrology of oxide nanoparticles in ODS alloy by electron tomography / A. KRUK, B. DUBIEL, W. OSUCH, G. CEMPURA, J. C. Hernandez, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: MC 2009 [Dokument elektroniczny] : Microscopy Conference in Graz, Austria : 30 August–4 September 2009 / eds. G. Kothleitner, [et al.]. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Graz : Verlag der TU, cop. 2009. — 1 dysk optyczny. — Na dysku optycznym dod.: First joint meeting of Dreiländertagung & Multinational congress on Microscopy. — ISBN: 978-3-85125-062-6. — S. 101–102. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 102. — Toż W: MC 2009 : Microscopy Conference, Graz, Austria, 30 August– 4 September 2009 : first joint meeting of Dreiländertagung & Multinational congress on Microscopy. Vol. 1, Instrumentation and methodology / eds. Gerald Kothleitner, Manfred Leisch. — Graz : Verlag der Technischen Universität : Austrian Society of Electron Microscopy, cop. 2009

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • 3D imaging and metrology of yttria dispersoids in Incoloy MA956 by electron tomography / KRUK A., DUBIEL B., CZYRSKA-FILEMONOWICZ A. // W: EM 2011 : XIV\textsuperscript{th} international conference on Electron Microscopy : 26–30 June, 2011, Wisła, Poland : programme & abstracts. — [Polska : s. n.], 2011. — S. 67. — Bibliogr. s. 67

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • 3D imaging and metrology of yttria dispersoids in INCOLOY MA956 by electron tomography / Adam KRUK, Beata DUBIEL, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ // Diffusion and Defect Data – Solid State Data. Part B, Solid State Phenomena ; ISSN 1012-0394. — 2012 vol. 186, s. 37–40. — Bibliogr. s. 40, Abstr.. — Electron Microscopy XIV : selected peer reviewed papers from the XIV international conference on Electron Microscopy (EM 2011) : June 26–30, 2011, Wisla, Poland / ed. Danuta Stróż, Krystian Prusik. — Durnten-Zurich : Trans Tech Publications Ltd, cop. 2012. — ISBN-13 978-3-03785-381-8. — tekst: http://www.scientific.net/SSP.186.37

  • keywords: INCOLOY MA956, HAADF-STEM tomography, FIB/SEM tomography

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.4028/www.scientific.net/SSP.186.37

5
6
  • Analiza mikrostruktury nadstopu SCRY4 po pełzaniuMicrostructural analysis of creep deformed SCRY4 superalloy / Grzegorz Sosin, Beata DUBIEL, Grzegorz MICHTA // W: 85 lat KMiMP : konferencja naukowa zorganizowana z okazji 85-lecia Katedry Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków : Kraków, maj 2007 / pod red. Grzegorza Michty. — Kraków : Akademia Górniczo-Hutnicza im. St. Staszica. Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej. KMiMP, 2007. — Opis częśc. wg okł.. — ISBN: 978-83-87331-81-8. — S. 160–163. — Streszcz.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
  • Analiza mikrostruktury stopu SCRY4 po pełzaniu[Microstructural analysis of creep deformed SCRY4 superalloy] / Grzegorz Sosin, Beata DUBIEL // W: II Ogólnopolska konferencja studenckich kół naukowych : koła naukowe kuźnią talentów : 20–22 IV 2007, [Warszawa] : materiały konferencyjne / red. Kamil Misztal. — Warszawa : Samorząd Studentów Politechniki Warszawskiej, cop. 2007. — Opis częśc. wg okł.. — ISBN: 978-83-60676-48-6. — S. 129. — Bibliogr. s. 129

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

8
  • Analiza wydzieleń faz $\gamma$' i $\gamma$” umacniających stop Inconel 718Analysis of strenghteting precipitates of $\gamma$' and $\gamma$” in Inconel 718 superalloy / Elżbieta Stępniowska, Beata DUBIEL, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: 85 lat KMiMP : konferencja naukowa zorganizowana z okazji 85-lecia Katedry Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków : Kraków, maj 2007 / pod red. Grzegorza Michty. — Kraków : Akademia Górniczo-Hutnicza im. St. Staszica. Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej. KMiMP, 2007. — Opis częśc. wg okł.. — ISBN: 978-83-87331-81-8. — S. 164–167. — Bibliogr. s. 167, Streszcz.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

9
  • Analiza wydzieleń faz $\gamma$' i $\gamma$” w nadstopie niklu IN718 metodami wysokorozdzielczej mikroskopii elektronowej i holografii elektronowejAnalysis of $\gamma$' and $\gamma$” precipitates in nickel-base superalloy Inconel 718 using HRTEM and electron holography methods / E. STĘPNIOWSKA, B. DUBIEL, D. Geiger, P. Formanek, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: XXXVI Szkoła Inżynierii Materiałowej : Kraków–Krynica, 23–26 IX 2008 / pod red. Jerzego Pacyny ; Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie. Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej. — [Kraków : AGH. WIMiIP], [2008] + CD-ROM. — Na okł. tyt.: Prace Szkoły Inżynierii Materiałowej. — S. 61–65. — Bibliogr. s. 65, Streszcz., Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

10
  • Analysis of $\gamma$' and $\gamma$” precipitates in nickel-base superalloy inconel 718 using HRTEM and 3D visualisation methods : abstract / E. STĘPNIOWSKA, B. DUBIEL, D. Geiger, G. CEMPURA, J. C. Hernandez, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: 2\textsuperscript{nd} Stanisław Gorczyca Workshop on Electron microscopy: new TEM techniques : 1–4.10.2008, Kraków : proceedings / eds. Beata Dubiel, Elżbieta Stępniowska, Aleksandra Czyrska-Filemonowicz. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, 2008. — Na s. tyt. dod.: ESTEEM – Enabling Science and Technology through European Electron Microscopy. — ISBN: 978-83-60958-23-0. — S. 306–307

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

11
  • Analytical electron microscopy and electron holography of ${Co}$ magnetic layers deposited on ${Cu}$ / E. STĘPNIOWSKA, D. Wolf, H. FIGIEL, F. CIURA, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: EM'2008 : XIII international conference on Electron Microscopy : Zakopane, Poland, 8–11 June 2008 : abstracts. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, cop. 2008. — ISBN: 978-83-60958-15-5. — S. 158

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

12
  • Analytical electron microscopy investigation of topologically close-packed phases in CMSX-4 single crystal superalloy / B. DUBIEL, I. KALEMBA-REC, P. Indyka, T. MOSKALEWICZ // W: XXIII CAC 2015 : Conference on Applied Crystallography : 20–24 September 2015, Krynica-Zdrój, Poland : programme & abstracts. — [Krynica-Zdrój : s. n.], [2015]. — S. 65–66. — Bibliogr. s. 66

  • keywords: CMSX-4, superalloy, TCP phases

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

13
14
  • Analytical electron microscopy investigations of a microstructure of single and polycrystalline $\beta$-${Mg_{2}Al_{3}}$ Samson phase / A. ZIELIŃSKA-LIPIEC, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: EMC 2008 : 14th European Microscopy Congress : 1–5 September 2008, Aachen, Germany. Vol. 2, Materials science / eds. Silvia Richter, Alexander Schwedt. — Berlin ; Heidelberg : Springer-Verlag, cop. 2008. — ISBN: 978-3-540-85225-4. — S. 517–518. — Bibliogr. s. 517

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

15
  • Analytical electron microscopy studies of the CMSX-4 single crystal superalloy subjected to high temperature annealing / B. DUBIEL. P. Indyka, I. KALEMBA-REC, A. KRUK, T. Moskalewicz // W: Abstract book of 11\textsuperscript{th} Polish-Japanese joint seminar on Micro and nano analysis : 11–14 September 2016, Gniew, Poland / PAN, PTMi, Kyushu University. — [Poland : s. n.], [2016]. — S. 61. — Bibliogr. s. 61

  • keywords: electron tomography, EDS, CMSX-4, STEM

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

16
  • Analytical electron microscopy studies of the CMSX-4 single crystal superalloy subjected to high temperature annealing / B. DUBIEL. P. Indyka, I. KALEMBA-REC, T. MOSKALEWICZ // Acta Physica Polonica. A ; ISSN 0587-4246. — 2017 vol. 131 no. 5, s. 1375–1378. — Bibliogr. s. 1378. — 11th Polish–Japanese Joint Seminar on Micro and Nano Analysis : Gniew, September 11–14, 2016. — tekst: https://goo.gl/N4C2bn

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.12693/APhysPolA.131.1375

17
  • Analytical TEM and electron holography of ferromagnetic cobalt nanolayers : abstract / E. STĘPNIOWSKA, D. Wolf, B. DUBIEL, T. ŚLĘZAK, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: 2\textsuperscript{nd} Stanisław Gorczyca Workshop on Electron microscopy: new TEM techniques : 1–4.10.2008, Kraków : proceedings / eds. Beata Dubiel, Elżbieta Stępniowska, Aleksandra Czyrska-Filemonowicz. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, 2008. — Na s. tyt. dod.: ESTEEM – Enabling Science and Technology through European Electron Microscopy. — ISBN: 978-83-60958-23-0. — S. 308–309

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

18
  • Analytical TEM and electron holography of magnetic field distribution in nanocrystalline ${Co}$ layers deposited on ${Cu}$ / B. DUBIEL, D. Wolf, E. STĘPNIOWSKA, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: EMC 2008 : 14th European Microscopy Congress : 1–5 September 2008, Aachen, Germany. Vol. 1, Instrumentation and methods / eds. Martina Luysberg, Karsten Tillmann, Thomas Weirich. — Berlin ; Heidelberg : Springer-Verlag, cop. 2008. — ISBN: 978-3-540-85154-7. — S. 253–254. — Bibliogr. s. 254

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

19
20
  • Analytical TEM characterisation of platinum-aluminide coatings on a nickel-base superalloy CMSX-4 / B. DUBIEL, T. MOSKALEWICZ, L. Swadźba, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: EMAS 2009 : 11th European workshop on Modern developments and applications in microbeam analysis : 10 to 14 May 2009 Gdynia/Rumia, Gdańsk, Poland : book of tutorials and abstracts / European Microbeam Analysis Society. — [Poland : EMAS], [2009]. — S. 245

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

21
  • Application of ChemiSTEM EDX to elemental mapping of $\gamma'$ and $\gamma”$ nanoparticles in Inconel 718 superalloy / K. KULAWIK, P. A. BUFFAT, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: emc2012 Manchester [Dokument elektroniczny] : proceedings of the 15th European Microscopy Congress : 16th–21st September 2012, Manchester, UK / RMS The Royal Microscopical Society, IFSM International Federation of Societies for Microscopy. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [UK : s. n.], [2012]. — 1 dysk optyczny. — S. [1–2]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD. — Bibliogr. s. [1–2]. — Tyt. przejeto z ekranu tytułowego. — Dod. afiliacja autora: P. A. Buffat'a: Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

22
  • Application of EDS mapping for quantitative microstructural analysis of Waspaloy / Adam KRUK, Beata DUBIEL, Jarosław WOSIK, Heinz Josef Penkalla, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: Proceedings of 3rd Japanese-Polish joint seminar on Materials analysis : 16–19 July 2000, Zakopane, Poland. — [Poland : s. n.], [2000]. — S. 47–48. — Bibliogr. s. 47

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

23
  • Application of EFTEM and FIB electron tomography to 3D visualization and metrology of nanoparticles in Inconel 718 superalloyZastosowanie tomografii EFTEM i FIB do przestrzennej wizualizacji i metrologii nanocząstek w nadstopie Inconel 718 / Adam KRUK, Grzegorz CEMPURA, Beata DUBIEL, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ // Inżynieria Materiałowa ; ISSN 0208-6247. — 2010 R. 31 nr 3, s. 606–609. — Bibliogr. s. 609

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

24
  • Application of electron tomography to analysis of nanoparticles in structural alloys / Grzegorz CEMPURA, Adam KRUK, Beata DUBIEL, Juan C. Hernandes, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: E-MRS 2009 fall meeting : European Materials Research Society : Warsaw (Poland) : 14th – 18th September, 2009 : scientific programme and book of abstracts / Warsaw University of Technology. — [Polska : s. n.], [2009]. — S. 167

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

25
  • Badania wpływu polielektrolitu anionowego PAA na osadzanie elektroforetyczne powłok SiO2 i Ni/SiO2[Influence of anionic polyelectrolyte PAA on the electrophoretic deposition of SiO2 and Ni/SiO2 coatings] / Tomasz RATAJSKI, Izabela KALEMBA-REC, Beata DUBIEL // W: Nowoczesne technologie w inżynierii powierzchni : VI ogólnopolska konferencja naukowa : Łódź-Spała, 25–28 września 2016 / red. nauk. Tomasz Kapitaniak ; Politechnika Łódzka. Instytut Inżynierii Materiałowej. — Łódź : Wydawnictwo Politechniki Łódzkiej, cop. 2016. — ISBN: 978-83-7283-761-5. — S. 75. — Afiliacja autorów: Akademia Górniczo-Hutnicza

  • słowa kluczowe: SiO2, osadzanie elektroforetyczne, PAA, powłoki nanokompozytowe

    cyfrowy identyfikator dokumentu: