Wykaz publikacji wybranego autora

Krzysztof Chruściel, mgr

specjalista

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kmm, Katedra Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-6457-5984 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 6507607580

PBN: 5e7094cb878c28a0473c3dec

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1

  • Nieniszcząca metoda pomiaru grubości powłok Cu — [Nondestructive method of Cu coating thickness measurement] / S. J. SKRZYPEK, K. CHRUŚCIEL, E. Garcia, M. GOŁY // W: 51 Konwersatorium Krystalograficzne : III sesja naukowa i warsztaty PTK : Wrocław, 25–27 VI 2009 : program, streszczenia komunikatów, lista uczestników i autorów prac = Polish Crystallographic Meeting / Komitet Krystalografii PAN, Polskie Towarzystwo Krystalograficzne, Instytut Niskich Temperatur i Badań Strukturalnych PAN. — [Wrocław : s. n.], [2009]. — Opis częśc. wg okł.. — S. 32

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Stanisław Jan Skrzypek, Marcin Goły

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2

  • Nieniszczące pomiary grubości powłok elektrolitycznych — Thickness measuring of electrolytic layers in non-destructive mode / S. J. SKRZYPEK, K. CHRUŚCIEL, E. Garcia, M. GOŁY // W: XXXVII Szkoła Inżynierii Materiałowej : Kraków–Krynica, 29.IX–2.X.2009 : monografia / pod red. Jerzego Pacyny ; Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie. Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej. — [Kraków : AGH. WIMiIP], [2009]. — Na okł. dod.: Prace XXXVII Szkoły Inżynierii Materiałowej. — ISBN: 978-83-929445-0-8. — S. 225–228. — Bibliogr. s. 228, Streszcz., Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Stanisław Jan Skrzypek, Marcin Goły

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3

  • Nieniszczący pomiar grubości powłok — Thickness measuring of layers in non-destructive mode / S. J. SKRZYPEK, M. GOŁY, K. CHRUŚCIEL, E. Garcia // W: Krajowa konferencja badań radiograficznych : „Popów 2009„ : 24–26 sierpnia 2009 r. : zbiór referatów / Politechnika Poznańska, NDT System – Warszawa. — Warszawa ; Poznań : s. n., 2009. — S. 115–121. — Bibliogr. s. 121, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Stanisław Jan Skrzypek, Marcin Goły

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4

  • Rozwój tekstury w spłaszczanych drutach ze stali austenicznej AISI 302 — [Texture development in austenic steel AISI 302 flattened wires] / Joanna KOWALSKA, Wiktoria RATUSZEK, Krzysztof CHRUŚCIEL // W: 51 Konwersatorium Krystalograficzne : III sesja naukowa i warsztaty PTK : Wrocław, 25–27 VI 2009 : program, streszczenia komunikatów, lista uczestników i autorów prac = Polish Crystallographic Meeting / Komitet Krystalografii PAN, Polskie Towarzystwo Krystalograficzne, Instytut Niskich Temperatur i Badań Strukturalnych PAN. — [Wrocław : s. n.], [2009]. — Opis częśc. wg okł.. — S. 279–280

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Wiktoria Ratuszek, Joanna Kowalska

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5

  • Structural studies of partial meltings of casting surfaces made of cobalt alloy MAR-M509 / Z. Opiekun, K. CHRUŚCIEL // Archives of Foundry Engineering / Polish Academy of Sciences. Commission of Foundry Engineering ; ISSN 1897-3310. — Tytuł poprz.: Archiwum Odlewnictwa. — 2009 vol. 9 iss. 2, s. 197–200. — Bibliogr. s. 200, Abstr.

  • keywords: microstructure, cobalt alloy MAR-M509, GTAW method, X-ray diffraction phase analysis

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6

  • Thickness of polycrystalline copper coating measured by X-ray diffraction / S. J. SKRZYPEK, K. CHRUŚCIEL, M. Solay, E. Garcia, M. GOŁY // W: XXI conference on Applied crystallography : 20–24 September 2009 : Zakopane, Poland : book of abstracts / University of Silesia, Committee of Crystallography and Committee of Material Science of Polish Academy of Sciences. — [Katowice : US. Institute of Material Science], [2009]. — Opis wg okł.. — S. 06

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Stanisław Jan Skrzypek, Marcin Goły

    cyfrowy identyfikator dokumentu: