Wykaz publikacji wybranego autora

Krzysztof Chruściel, mgr

specjalista

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kmm, Katedra Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-6457-5984 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 6507607580

PBN: 5e7094cb878c28a0473c3dec

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Charakterystyka elektrolitycznych powłok Cu przy zastosowaniu rentgenowskich metod dyfrakcyjnych[Characterisation of Cu electrolytic coatings using the X-ray diffraction methods] / Stanisław SKRZYPEK, Wiktoria RATUSZEK, Małgorzata WITKOWSKA, Adam BUNSCH, Krzysztof CHRUŚCIEL // W: 50 Konwersatorium Krystalograficzne : II sesja naukowa PTK : Wrocław, 26–28 VI 2008 : program, streszczenia komunikatów, lista uczestników i autorów prac = Polish Crystallographic Meeting / Komitet Krystalografii PAN, Polskie Towarzystwo Krystalograficzne, Instytut Niskich Temperatur i Badań Strukturalnych PAN. — [Wrocław : s. n], [2008]. — S. 280–281. — Bibliogr. s. 281

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Sposób określania średniego wskaźnika plastycznej anizotropii blachy głębokotłocznej[Method of determining an average plastic anisotropy index of deep-drawing metal sheet] / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie ; wynalazca: Antoni PAŃTA, Krzysztof CHRUŚCIEL, Wiesław Pawłowski, Jerzy Szopa, Wiesław Migas. — Int.Cl.: G01N 23/203\textsuperscript{(2006.01)}. — Polska. — Opis patentowy ; PL 198931 B1 ; Udziel. 2007-12-28 ; Opubl. 2008-08-29. — Zgłosz. nr P.350865 z dn. 2001-11-26. — tekst: http://patenty.bg.agh.edu.pl/pelneteksty/PL198931B1.pdf

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: