Wykaz publikacji wybranego autora

Adam Bunsch, dr inż.

adiunkt

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kmm, Katedra Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-0818-5068 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 6602974824

PBN: 5e70920b878c28a04738f099

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Tekstura i własności mechaniczne elektrolitycznie nanoszonych warstw miedzi[Texture and mechanical properties of electrolytic drift copper layers] / Stanisław Jan SKRZYPEK, Joanna KOWALSKA, Małgorzata WITKOWSKA, Naroa Molina, Adam BUNSCH, Wiktoria RATUSZEK, Wiesław RAKOWSKI // W: 51 Konwersatorium Krystalograficzne : III sesja naukowa i warsztaty PTK : Wrocław, 25–27 VI 2009 : program, streszczenia komunikatów, lista uczestników i autorów prac = Polish Crystallographic Meeting / Komitet Krystalografii PAN, Polskie Towarzystwo Krystalograficzne, Instytut Niskich Temperatur i Badań Strukturalnych PAN. — [Wrocław : s. n.], [2009]. — Opis częśc. wg okł.. — S. 166

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Texture and mechanical properties of electrodeposited copper thin films / S. J. SKRZYPEK, Naroa Molina, J. KOWALSKA, M. WITKOWSKA, A. BUNSCH, W. RATUSZEK, W. RAKOWSKI // W: XXI conference on Applied crystallography : 20–24 September 2009 : Zakopane, Poland : book of abstracts / University of Silesia, Committee of Crystallography and Committee of Material Science of Polish Academy of Sciences. — [Katowice : US. Institute of Material Science], [2009]. — Opis wg okł.. — S. p24

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: