Wykaz publikacji wybranego autora

Adam Bunsch, dr inż.

adiunkt

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kmm, Katedra Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-0818-5068 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 6602974824

PBN: 5e70920b878c28a04738f099

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Charakterystyka elektrolitycznych powłok Cu przy zastosowaniu rentgenowskich metod dyfrakcyjnych[Characterisation of Cu electrolytic coatings using the X-ray diffraction methods] / Stanisław SKRZYPEK, Wiktoria RATUSZEK, Małgorzata WITKOWSKA, Adam BUNSCH, Krzysztof CHRUŚCIEL // W: 50 Konwersatorium Krystalograficzne : II sesja naukowa PTK : Wrocław, 26–28 VI 2008 : program, streszczenia komunikatów, lista uczestników i autorów prac = Polish Crystallographic Meeting / Komitet Krystalografii PAN, Polskie Towarzystwo Krystalograficzne, Instytut Niskich Temperatur i Badań Strukturalnych PAN. — [Wrocław : s. n], [2008]. — S. 280–281. — Bibliogr. s. 281

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: