profesor zwyczajny
Faculty of Metals Engineering and Industrial Computer Science WIMiIP-kip
ORCID: brak
ResearcherID: brak
Scopus: 7004049112
OPI Nauka Polska
Electron microscopy investigation of ageing behavior in a Cu-Ni-Si alloy / Stanisław DYMEK, Paweł KWAŚNIEWSKI, Marek BLICHARSKI, Tadeusz KNYCH // Diffusion and Defect Data – Solid State Data. Part B, Solid State Phenomena ; ISSN 1012-0394. — 2012 vol. 186, s. 267–270. — Bibliogr. s. 270, Abstr.. — Electron Microscopy XIV : selected peer reviewed papers from the XIV international conference on Electron Microscopy (EM 2011) : June 26–30, 2011, Wisla, Poland / ed. Danuta Stróż, Krystian Prusik. — Durnten-Zurich : Trans Tech Publications Ltd, cop. 2012. — ISBN-13 978-3-03785-381-8. — tekst: http://www.scientific.net/SSP.186.267.pdf
keywords: thermomechanical treatment, Cu-Ni-Si alloys, precipitation strengthening
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Stanisław Dymek, Tadeusz Knych, Paweł Kwaśniewski
cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.4028/www.scientific.net/SSP.186.267