Wykaz publikacji wybranego autora

Andrzej Bernasik, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kfms, Katedra Fizyki Materii Skondensowanej

[dyscyplina wiodąca] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk ścisłych / dziedzina nauk fizycznych / fizyka


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-2018-0312

ResearcherID: O-9817-2017

Scopus: 55943414500

PBN: 900705

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




Opisy publikacji wcześniejszych zobacz: bpp.agh.edu.pl/old.


Liczba pozycji spełniających powyższe kryteria selekcji: 199, z ogólnej liczby 199 publikacji Autora


1
  • [referat, 2014]
  • TytułAdsorpcja białek i ich konformacja na cienkich warstwach politiofenów: charakteryzacja spektro- i mikroskopowa
    AutorzyK. Awsiuk, A. Budkowski, M. M. MARZEC, P. Petrou, J. Rysz, A. BERNASIK
    ŹródłoKM 2014 : Kryształy Molekularne 2014 : materiały XIX ogólnopolskiej konferencji : Sromowce Niżne, 8–12 września 2014 r. / red. Piotr Zieliński, Andrzej Budziak ; Instytut Fizyki Jądrowej im. Henryka Niewodniczańskiego Polskiej Akademii Nauk. — Tarnów : Tomasz Mariusz Majka, cop. 2014. — S. 41
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • [referat, 2015]
  • TytułApplication of $Ar-GCIB$ depth profiling with XPS of selected cell lines
    AutorzyM. WYTRWAŁ, M. Woszczek, M. M. MARZEC, S. Prauzner-Bechcicki, M. Lekka, Andrzej BERNASIK
    ŹródłoSIMS XX : 20th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 13–18, 2015, Seattle : technical program & abstracts. — [USA : s. n.], [2015]. — S. 103–104
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
4
  • [referat w czasopiśmie, 2002]
  • TytułApplication of isotopic exposure and SIMS to investigate the failure mechanisms of oxide scales during thermal cycling
    AutorzyJ. JEDLIŃSKI, M. Konopka, A. BERNASIK, G. Borchardt, M. NOCUŃ, J. Camra, K. KOWALSKI
    ŹródłoOchrona przed Korozją. — 2002 wyd. spec., s. 42–47
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
  • [referat, 2013]
  • TytułArgon cluster ion beam depth profiling of organic materials by X-ray photoelectron spectroscopy
    AutorzyAndrzej BERNASIK, Mateusz M. MARZEC, Wojciech ŁUŻNY, Jakub Rysz, Andrzej Budkowski
    ŹródłoWOREN 2013 : 3textsuperscript{rd} Polish-French workshop on Organic electronics and nanophotonics : Muszyna–Złockie, 17–21 February 2013 : book of abstracts / ed.-in-chief Jacek Nizioł, eds. Ewa Gondek, Monika Pokladko-Kowar. — Kraków : Faculty of Physics and Applied Computer Science. AGH University of Science and Technology, 2013. — S. 9
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6
  • [referat, 2013]
  • TytułArgon cluster ion beam depth profiling of polymers by X-ray photoelectron spectroscopy
    AutorzyA. BERNASIK, M. M. MARZEC, J. HABERKO, W. ŁUŻNY, J. Rysz, A. Budkowski
    ŹródłoXIPS 2013 : IX international conference on X-ray investigations of polymer structure : Zakopane, Poland, 3–6 December 2013 : book of abstracts / ed. by Monika Basiura-Cembala ; University of Bielsko-Biała, Catholic University of Leuven, Committee on Material Science of the Polish Academy of Sciences. — Bielsko-Biała : Wydawnictwo Naukowe ATH, [2013]. — S. 38
  • keywords: polymer, sputtering, XPS, GCIB

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
  • [referat, 2013]
  • TytułArgon gas cluster ion beam in XPS analysis of poly(3-alkylthiophene)s
    AutorzyA. BERNASIK, M. M. MARZEC, J. Rysz, W. ŁUŻNY, A. Budkowski
    ŹródłoECASIA'13 : 15th European conference on Applications of surface and interface analysis : 13textsuperscript{th} – 18textsuperscript{th} October 2013 Cagliari, Sardinia (Italy) / ed. A. Rossi, B. Elsener ; Dipartimento di Scienze Chimiche e Geologiche Università di Cagliari, Sardinia, Italy. — [Cagliari : s. n.], [2013]. — S. 80
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

8
  • [referat, 2005]
  • TytułBadania zjawisk samoorganizacji w cienkich warstwach kompozytów polianiliny
    AutorzyWojciech ŁUŻNY, Andrzej BERNASIK, Jakub HABERKO, Joanna Raczkowska, Jakub Rysz, Andrzej Budkowski
    ŹródłoXLVIII Zjazd Naukowy Polskiego Towarzystwa Chemicznego i Stowarzyszenia Inżynierów i Techników Przemysłu Chemicznego : Poznań 18–22 września 2005 : materiały zjazdowe : [abstracts] / zespół red. Bohdan Skalski [et al.] ; PTCh, SITPChem. — Poznań : PUH BETAGRAF, 2005. — S. S9–W4
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

9
10
  • [referat, 2017]
  • TytułBetween single ion magnets and macromolecules: polymer/transition metal-based semi-solid solution
    AutorzyAnna M. Majcher, Paweł Dąbczyński, Mateusz M. MARZEC, Magdalena Ceglarska, Jakub Rysz, Andrzej BERNASIK, Shin-ichi Ohkoshi, Olaf Stefańczyk
    ŹródłoFUNMAT2017 : 3textsuperscript{rd} international conference on Functional Molecular Materials : 8textsuperscript{th}–10textsuperscript{th} November 2017 : book of abstracts / ed. Tomasz Korzeniak. — [Kraków : s. n.], [2017]. — S. 53
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

11
  • [referat, 2014]
  • TytułBovine serum albumin adsorption to thin film surfaces of poly(3-alkylthiopene)s : AFM, XPS and ToF-SIMS studies
    AutorzyK. Awsiuk, A. Budkowski, M. M. MARZEC, P. Petrou, J. Rysz, A. BERNASIK
    Źródło4th international colloids conference [Dokument elektroniczny] : surface design & engineering : 15–18 June 2014, Madrid, Span. — [Spain : s. n.], [2014]. — S. [1–2]
  • keywords: TOF-SIMS, principal component analysis, poly(3-alkylthiophene), bovine serum albumin

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

12
13
14
  • [referat, 2013]
  • TytułCharacterization of silicon biosensor surfaces with Time of Flight Secondary Ion Mass Spectroscopy
    AutorzyJ. Rysz, K. Awsiuk, K. Fornal, P. Petrou, A. Budkowski, A. BERNASIK, S. Kakabakos, M. M. MARZEC, I. Raptis
    ŹródłoSIMS-19 : the 19th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 29–October 4, 2013, ICC Jeju, Jeju, Korea : program and abstracts. — [Korea : s. n.], 2013. — S. 147
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

15
  • [referat, 2012]
  • TytułCharakterystyka złącza polimer-metal metodą kelvinowskiej mikroskopii sił
    AutorzyMARZEC M. M., BERNASIK A., Awsiuk K., Rysz J., Budkowski A., ŁUŻNY W.
    ŹródłoKryształy molekularne : materiały XVIII ogólnopolskiej konferencji : Gdańsk–Sobieszewo, 10–14 września 2012 / Politechnika Gdańska. Wydział Fizyki Technicznej i Matematyki Stosowanej. Katedra Fizyki Zjawisk Elektronowych. — [Gdańsk : PG], [2012]. — S. 32
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

16
  • [referat, 2018]
  • TytułCharge assisted tailoring of electrospun PMMA fibers: surface chemistry and wetting properties
    AutorzyDaniel URA, Mateusz MARZEC, Andrzej BERNASIK, Urszula STACHEWICZ
    ŹródłoISBPPB 2018 [Dokument elektroniczny] : 4th international conference on Biomedical polymers & polymeric biomaterials : 15-18 July 2018, Kraków, Poland : book of abstracts. — Kraków : Scientific Publishing House "Akapit", 2018. — S. 204
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

17
18
  • [referat, 2015]
  • TytułChemical stability of polymers under $Ar-GCIB$ and X-ray irradiation
    AutorzyAndrzej BERNASIK, J. HABERKO, M. M. MARZEC, J. Rysz, W. ŁUŻNY, A. Budkowski
    ŹródłoSIMS XX : 20th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 13–18, 2015, Seattle : technical program & abstracts. — [USA : s. n.], [2015]. — S. 95
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

19
20
  • [referat, 2008]
  • TytułCohesion and adhesion effects in (templated) self-organization of conjugated polymer blend films used in plastic electronics
    AutorzyAndrzej Budkowski, Ellen Moons, Justyna Jaczewska, Andrzej BERNASIK, Jakub Rysz, Ioannis Raptis
    ŹródłoII Krajowa konferencja nanotechnologii : Kraków, 25–28 czerwca 2008 : książka streszczeń. — [Kraków : Centrum Badań Układów Nanoskopowych i Zaawansowanych Materiałów, NANOSAM, Uniwersytetu Jagiellońskiego], [2008]. — S. [1]
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

21
  • [artykuł w czasopiśmie, 2007]
  • TytułCompositional mismatch between chemical patterns on a substrate and polymer blends yielding spin-cast films with subpattern periodicity
    AutorzyJ. Raczkowska, A. BERNASIK, A. Budkowski, J. Rysz, B. Gao, M. Lieberman
    ŹródłoMacromolecules / American Chemical Society. — 2007 vol. 40 iss. 6, s. 2120–2125
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1021/ma062614f

22
  • [artykuł w czasopiśmie, 2005]
  • TytułComposition effects in polymer blends spin-cast on patterned substrates
    AutorzyJ. Raczkowska, P. Cyganik, A. Budkowski, A. BERNASIK, J. Rysz, I. Raptis, P. Czuba, K. KOWALSKI
    ŹródłoMacromolecules / American Chemical Society. — 2005 vol. 38 iss. 20, s. 8486–8493
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1021/ma051242s

23
24
  • [artykuł w czasopiśmie, 2017]
  • TytułContact pin-printing of albumin-fungicide conjugate for silicon nitride-based sensors biofunctionalization: multi-technique surface analysis for optimum immunoassay performance
    AutorzyKatarzyna Gajos, [et al.], Andrzej BERNASIK, [et al.]
    ŹródłoApplied Surface Science. — 2017 vol. 410, s. 79–86. — tekst: https://goo.gl/8PhETQ
  • keywords: atomic force microscopy, time-of-flight secondary ion mass spectrometry, silicon nitride, spectroscopic ellipsometry, contact pin-printing, immunosensor biofunctionalization

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.apsusc.2017.03.100

25
  • [referat, 2017]
  • TytułCore-shell polymer microspheres – depth profiling using cluster ions and XPS : [abstract]
    AutorzyJakub HABERKO, Mateusz M. MARZEC, Andrzej BERNASIK, Monika Gosecka, Joanna Raczkowska, Kamil Awsiuk, Jakub Rysz, Andrzej Budkowski, Teresa Basinska
    ŹródłoSIMS XXI [Dokument elektroniczny] : 21th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : Kraków, Poland, September 10–15, 2017. — [Kraków : s. n.], [2017]. — S. [1] ID RM-Thu2-2-4
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: