Wykaz publikacji wybranego autora

Andrzej Bernasik, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kfms, Katedra Fizyki Materii Skondensowanej


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk ścisłych / dziedzina nauk fizycznych / fizyka


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-2018-0312 orcid iD

ResearcherID: O-9817-2017

Scopus: 55943414500

PBN: 5e709208878c28a04738ee59

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Rozpylanie jonowe cienkich warstw polimerów syntetycznych - wpływ restrukturyzacji na interpretację profilowania głębokościowego[Ion sputtering of synthetic polymer thin films - influence of restructuralization on depth profiles interpretation] / Paweł Dąbczyński, Jakub Rysz, Mateusz MARZEC, Andrzej BERNASIK, Benedykt Jany, Franciszek Krok, Andrzej Budkowski // W: STM/AFM 2016 : IX seminarium Badania prowadzone metodami skaningowej mikroskopii bliskich oddziaływań oraz IV Szkoła skaningowej mikroskopii i spektroskopii bliskich oddziaływań SPM : Zakopane, 30 listopada–4 grudnia 2016 : streszczenia / Centrum Badań Układów Nanoskopowych i Zaawansowanych Materiałów (Nanometer-scale Science and Advanced Matewrials) - NANOSAM, Instytut Fizyki Uniwersytetu Jagiellońskiego. — [Kraków : s. n.], [2016]. — S. 48. — A. Bernasik - pierwsza afiliacja: ACMIN AGH

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: