Wykaz publikacji wybranego autora

Andrzej Bernasik, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kfms, Katedra Fizyki Materii Skondensowanej

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk ścisłych / dziedzina nauk fizycznych / fizyka

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-2018-0312 orcid iD

ResearcherID: O-9817-2017

Scopus: 55943414500

PBN: 5e709208878c28a04738ee59

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1

  • Application of $Ar-GCIB$ depth profiling with XPS of selected cell lines / M. WYTRWAŁ, M. Woszczek, M. M. MARZEC, S. Prauzner-Bechcicki, M. Lekka, Andrzej BERNASIK // W: SIMS XX : 20th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 13–18, 2015, Seattle : technical program & abstracts. — [USA : s. n.], [2015]. — Opis częśc. wg okł.. — S. 103–104. — Bibliogr. s. 104

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Mateusz M. Marzec, Magdalena Wytrwał

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2

  • Chemical stability of polymers under $Ar-GCIB$ and X-ray irradiation / Andrzej BERNASIK, J. HABERKO, M. M. MARZEC, J. Rysz, W. ŁUŻNY, A. Budkowski // W: SIMS XX : 20th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 13–18, 2015, Seattle : technical program & abstracts. — [USA : s. n.], [2015]. — Opis częśc. wg okł.. — S. 95. — Bibliogr. s. 95

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Wojciech Łużny, Jakub Haberko, Mateusz M. Marzec

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3

  • Effect of PDMS substrate stiffness on cancerous cells growth and adhesion / Sz. Prauzner-Bechcicki, J. Raczkowska, E. Madej, J. Pabijan, K. Awsiuk, J. Rysz, A. BERNASIK, A. Budkowski, M. Lekka // W: 50. Zakopane School of Physics : international symposium : breaking frontiers: submicron structures in physics and biology : May 18\textsuperscript{th}–23\textsuperscript{th}, 2015, Zakopane, Poland : book of abstracts. — Kraków : IFJ PAN, 2015. — Opis częśc. wg okł.. — ISBN: 978-83-63542-40-5. — S. 139–140. — Bibliogr. s. 139–140. — A. Bernasik – dod. afiliacja: ACMiN

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4

  • Growth mechanism of and residual stresses in scales on oxide-dispersion-strengthened $Fe20Cr5Al+Y_{2}O_{3}$ alumina former oxidized at $1000^{\circ}$C / Jerzy JEDLIŃSKI, Remigiusz GOŁDYN, Jean Luc Grosseau-Poussard, Kazimierz KOWALSKI, Andrzej BERNASIK, Zbigniew Żurek, Günter Borchardt // Annales de Chimie Science des Matériaux ; ISSN 0151-9107. — 2015 vol. 39 [n.] 3–4, s. 133–140. — Bibliogr. s. 139–140, Abstr., Rés.. — A. Bernasik – dod. afiliacja: ACMiN. — 17\textsuperscript{th} international French-Polish seminar on Reactivity of solids

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Kazimierz Kowalski, Jerzy Jedliński, Remigiusz Gołdyn

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3166/acsm.39.133-140

5

  • Interdiffusion of fullerene derivative into conjugated polymer matrix upon solvent vapor annealing / Jakub Rysz, P. Dabczyński, M. M. MARZEC, A. BERNASIK, A. Budkowski // W: SIMS XX : 20th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 13–18, 2015, Seattle : technical program & abstracts. — [USA : s. n.], [2015]. — Opis częśc. wg okł.. — S. 125–126. — Bibliogr. s. 126

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Mateusz M. Marzec

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6

  • XPS depth profiling of organic photodetectors with the gas cluster ion beam / Jakub HABERKO, M. M. MARZEC, A. BERNASIK, W. ŁUŻNY, P. Lienhard, A. Pereira, J. Faure-Vincent, D. Djurado, A. Revaux // W: SIMS XX : 20th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 13–18, 2015, Seattle : technical program & abstracts. — [USA : s. n.], [2015]. — Opis częśc. wg okł.. — S. 94. — Bibliogr. s. 94

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Wojciech Łużny, Jakub Haberko, Mateusz M. Marzec

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7

  • XPS/UPS depth profiling with gas cluster ion beam for characterization of interfaces in thin multilayer organic structures / Mateusz M. MARZEC, J. Rysz, J. HABERKO, A. BERNASIK, A. Budkowski // W: SIMS XX : 20th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 13–18, 2015, Seattle : technical program & abstracts. — [USA : s. n.], [2015]. — Opis częśc. wg okł.. — S. 93–94. — Bibliogr. s. 94

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Jakub Haberko, Mateusz M. Marzec

    cyfrowy identyfikator dokumentu: