Application of $Ar-GCIB$ depth profiling with XPS of selected cell lines / M. WYTRWAŁ, M. Woszczek, M. M. MARZEC, S. Prauzner-Bechcicki, M. Lekka, Andrzej BERNASIK // W: SIMS XX : 20th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 13–18, 2015, Seattle : technical program & abstracts. — [USA : s. n.], [2015]. — Opis częśc. wg okł.. — S. 103–104. — Bibliogr. s. 104

Chemical stability of polymers under $Ar-GCIB$ and X-ray irradiation / Andrzej BERNASIK, J. HABERKO, M. M. MARZEC, J. Rysz, W. ŁUŻNY, A. Budkowski // W: SIMS XX : 20th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 13–18, 2015, Seattle : technical program & abstracts. — [USA : s. n.], [2015]. — Opis częśc. wg okł.. — S. 95. — Bibliogr. s. 95

Effect of PDMS substrate stiffness on cancerous cells growth and adhesion / Sz. Prauzner-Bechcicki, J. Raczkowska, E. Madej, J. Pabijan, K. Awsiuk, J. Rysz, A. BERNASIK, A. Budkowski, M. Lekka // W: 50. Zakopane School of Physics : international symposium : breaking frontiers: submicron structures in physics and biology : May 18\textsuperscript{th}–23\textsuperscript{th}, 2015, Zakopane, Poland : book of abstracts. — Kraków : IFJ PAN, 2015. — Opis częśc. wg okł.. — ISBN: 978-83-63542-40-5. — S. 139–140. — Bibliogr. s. 139–140. — A. Bernasik – dod. afiliacja: ACMiN

Growth mechanism of and residual stresses in scales on oxide-dispersion-strengthened $Fe20Cr5Al+Y_{2}O_{3}$ alumina former oxidized at $1000^{\circ}$C / Jerzy JEDLIŃSKI, Remigiusz GOŁDYN, Jean Luc Grosseau-Poussard, Kazimierz KOWALSKI, Andrzej BERNASIK, Zbigniew Żurek, Günter Borchardt // Annales de Chimie Science des Matériaux ; ISSN 0151-9107. — 2015 vol. 39 [n.] 3–4, s. 133–140. — Bibliogr. s. 139–140, Abstr., Rés.. — A. Bernasik – dod. afiliacja: ACMiN. — 17\textsuperscript{th} international French-Polish seminar on Reactivity of solids

Imaging and spectroscopic comparison of multi-step methods to form DNA arrays based on the biotin-streptavidin system / Katarzyna Gajos, Panagiota Petrou, Andrzej Budkowski, Kamil Awsiuk, Andrzej BERNASIK, Konstantinos Misiakos, Jakub Rysz, Ioannis Raptis, Sotirios Kakabakos // Analyst ; ISSN 0003-2654. — 2015 vol. 140 iss. 4, s. 1127–1139. — Bibliogr. s. 1138–1139. — Publikacja dostępna online od: 2014-12-09. — tekst: http://goo.gl/KZ2FXW

Interdiffusion of fullerene derivative into conjugated polymer matrix upon solvent vapor annealing / Jakub Rysz, P. Dabczyński, M. M. MARZEC, A. BERNASIK, A. Budkowski // W: SIMS XX : 20th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 13–18, 2015, Seattle : technical program & abstracts. — [USA : s. n.], [2015]. — Opis częśc. wg okł.. — S. 125–126. — Bibliogr. s. 126

Measuring compositions in organic depth profiling: results from a VAMAS interlaboratory study / Alexander G. Shard, [et al.], Andrzej BERNASIK, [et al.], Mateusz M. MARZEC, [et al.] // Journal of Physical Chemistry. B ; ISSN 1520-6106. — 2015 vol. 119 iss. 33, s. 10784–10797. — Bibliogr. s. 10796–10797, Abstr.

PDMS substrate stiffness affects the morphology and growth profiles of cancerous prostate and melanoma cells / Szymon Prauzner-Bechcicki, Joanna Raczkowska, Ewelina Madej, Joanna Pabijan, Jaroslav Lukes, Josef Sepitka, Jakub Rysz, Kamil Awsiuk, Andrzej BERNASIK, Andrzej Budkowski, Małgorzata Lekka // Journal of the Mechanical Behavior of Biomedical Materials ; ISSN 1751-6161. — 2015 vol. 41, s. 13–22. — Bibliogr. s. 21–22, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2014-10-02. — A. Bernasik – dod. afiliacja: ACMiN. — tekst: http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S175161611400304X/pdfft?md5=9e3e7798c28dff3becb2e826bee31539&pid=1-s2.0-S175161611400304X-main.pdf

Synthesis and postpolymerization modification of thermoresponsive coatings based on pentaerythritol monomethacrylate: surface analysis, wettability, and protein adsorption / Yurij Stetsyshyn, Joanna Raczkowska, Andrzej Budkowski, Andrij Kostruba, Khrystyna Harhay, Halyna Ohar, Kamil Awsiuk, Andrzej BERNASIK, Nazar Ripak, Joanna Zemła // Langmuir ; ISSN 0743-7463. — 2015 vol. 31 iss. 35, s. 9675–9683. — Bibliogr. s. 9682–9683, Abstr.. — A. Bernasik - dod. afiliacja: Academic Centre for Materials and Nanotechnology AGH

XPS depth profiling of organic photodetectors with the gas cluster ion beam / Jakub HABERKO, M. M. MARZEC, A. BERNASIK, W. ŁUŻNY, P. Lienhard, A. Pereira, J. Faure-Vincent, D. Djurado, A. Revaux // W: SIMS XX : 20th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 13–18, 2015, Seattle : technical program & abstracts. — [USA : s. n.], [2015]. — Opis częśc. wg okł.. — S. 94. — Bibliogr. s. 94

XPS/UPS depth profiling with gas cluster ion beam for characterization of interfaces in thin multilayer organic structures / Mateusz M. MARZEC, J. Rysz, J. HABERKO, A. BERNASIK, A. Budkowski // W: SIMS XX : 20th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 13–18, 2015, Seattle : technical program & abstracts. — [USA : s. n.], [2015]. — Opis częśc. wg okł.. — S. 93–94. — Bibliogr. s. 94