Wykaz publikacji wybranego autora

Andrzej Bernasik, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kfms, Katedra Fizyki Materii Skondensowanej


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk ścisłych / dziedzina nauk fizycznych / fizyka


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-2018-0312 orcid iD

ResearcherID: O-9817-2017

Scopus: 55943414500

PBN: 5e709208878c28a04738ee59

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Argon cluster ion beam depth profiling of polymers by X-ray photoelectron spectroscopy / A. BERNASIK, M. M. MARZEC, J. HABERKO, W. ŁUŻNY, J. Rysz, A. Budkowski // W: XIPS 2013 : IX international conference on X-ray investigations of polymer structure : Zakopane, Poland, 3–6 December 2013 : book of abstracts / ed. by Monika Basiura-Cembala ; University of Bielsko-Biała, Catholic University of Leuven, Committee on Material Science of the Polish Academy of Sciences. — Bielsko-Biała : Wydawnictwo Naukowe ATH, [2013]. — ISBN: 978-83-63713-59-1. — S. 38. — Bibliogr. s. 38

  • keywords: polymer, sputtering, XPS, GCIB

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Argon gas cluster ion beam in XPS analysis of poly(3-alkylthiophene)s / A. BERNASIK, M. M. MARZEC, J. Rysz, W. ŁUŻNY, A. Budkowski // W: ECASIA'13 : 15th European conference on Applications of surface and interface analysis : 13\textsuperscript{th} – 18\textsuperscript{th} October 2013 Cagliari, Sardinia (Italy) / ed. A. Rossi, B. Elsener ; Dipartimento di Scienze Chimiche e Geologiche Università di Cagliari, Sardinia, Italy. — [Cagliari : s. n.], [2013]. — ISBN: 978-88-907670-0-5. — S. 80

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • Characterization of silicon biosensor surfaces with Time of Flight Secondary Ion Mass Spectroscopy / J. Rysz, K. Awsiuk, K. Fornal, P. Petrou, A. Budkowski, A. BERNASIK, S. Kakabakos, M. M. MARZEC, I. Raptis // W: SIMS-19 : the 19th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 29–October 4, 2013, ICC Jeju, Jeju, Korea : program and abstracts. — [Korea : s. n.], 2013. — Dodatkowo na okł.: Balances between dynamic SIMS and static SIMS, Academia and Industries, Fundamentals and Applications. — S. 147. — Bibliogr. s. 147

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • Cross-linked poly(vinylsiloxanes) as matrices for metallic palladium : [abstract] / M. WÓJCIK-BANIA, J. Olejarka, M. HASIK, A. BERNASIK, A. Krowiak, J. Strzezik // W: Frontiers in polymer science [Dokument elektroniczny] : in association with the Journal Polymer : third international symposium : 21–23 May 2013, Sitges, Spain. — Dane tekstowe. — [Spain : s. n.], [2013]. — S. 59. — Tryb dostępu: https://elsevier.conference-services.net/secureProgramme.asp?conferenceID=3255&uID=619030 [2013-05-29]. — Tekst dostępny po zalogowaniu w części: Poster Abstracts 501 to 566

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
  • Dipole-dipole interactions at buried polymer/metal interfaces examined with Kelvin Probe Force Microscopy and Secondary Ion Mass Spectrometry / M. M. MARZEC, A. BERNASIK, J. Rysz, W. ŁUŻNY, A. Budkowski // W: SIMS-19 : the 19th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 29–October 4, 2013, ICC Jeju, Jeju, Korea : program and abstracts. — [Korea : s. n.], 2013. — Dodatkowo na okł.: Balances between dynamic SIMS and static SIMS, Academia and Industries, Fundamentals and Applications. — S. 155. — Bibliogr. s. 155

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: