Wykaz publikacji wybranego autora

Andrzej Bernasik, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kfms, Katedra Fizyki Materii Skondensowanej

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk ścisłych / dziedzina nauk fizycznych / fizyka

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-2018-0312 orcid iD

ResearcherID: O-9817-2017

Scopus: 55943414500

PBN: 5e709208878c28a04738ee59

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1

  • Argon cluster ion beam depth profiling of organic materials by X-ray photoelectron spectroscopy / Andrzej BERNASIK, Mateusz M. MARZEC, Wojciech ŁUŻNY, Jakub Rysz, Andrzej Budkowski // W: WOREN 2013 : 3\textsuperscript{rd} Polish-French workshop on Organic electronics and nanophotonics : Muszyna–Złockie, 17–21 February 2013 : book of abstracts / ed.-in-chief Jacek Nizioł, eds. Ewa Gondek, Monika Pokladko-Kowar. — Kraków : Faculty of Physics and Applied Computer Science. AGH University of Science and Technology, 2013. — ISBN: 978-83-925779-4-2. — S. 9. — Bibliogr. s. 9

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Wojciech Łużny, Mateusz M. Marzec

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2

  • Argon cluster ion beam depth profiling of polymers by X-ray photoelectron spectroscopy / A. BERNASIK, M. M. MARZEC, J. HABERKO, W. ŁUŻNY, J. Rysz, A. Budkowski // W: XIPS 2013 : IX international conference on X-ray investigations of polymer structure : Zakopane, Poland, 3–6 December 2013 : book of abstracts / ed. by Monika Basiura-Cembala ; University of Bielsko-Biała, Catholic University of Leuven, Committee on Material Science of the Polish Academy of Sciences. — Bielsko-Biała : Wydawnictwo Naukowe ATH, [2013]. — ISBN: 978-83-63713-59-1. — S. 38. — Bibliogr. s. 38

  • keywords: polymer, sputtering, XPS, GCIB

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Wojciech Łużny, Jakub Haberko, Michał Marzec

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3

  • Organic thin films depth profiling with large $Ar_{n}^{+}$ cluster ion beam by X-ray photoelectron spectroscopy / Mateusz M. MARZEC, Andrzej BERNASIK, Jakub Rysz, Wojciech ŁUŻNY, Andrzej Budkowski // W: WOREN 2013 : 3\textsuperscript{rd} Polish-French workshop on Organic electronics and nanophotonics : Muszyna–Złockie, 17–21 February 2013 : book of abstracts / ed.-in-chief Jacek Nizioł, eds. Ewa Gondek, Monika Pokladko-Kowar. — Kraków : Faculty of Physics and Applied Computer Science. AGH University of Science and Technology, 2013. — ISBN: 978-83-925779-4-2. — S. 113

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Wojciech Łużny, Mateusz M. Marzec

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4

  • Self-assembled monolayers influence on polymer/metal interfaces examined by means of Kelvin Probe Force Microscopy and secondary ion mass spectrometry / Mateusz M. MARZEC, Andrzej BERNASIK, Jakub Rysz, Wojciech ŁUŻNY, Andrzej Budkowski // W: WOREN 2013 : 3\textsuperscript{rd} Polish-French workshop on Organic electronics and nanophotonics : Muszyna–Złockie, 17–21 February 2013 : book of abstracts / ed.-in-chief Jacek Nizioł, eds. Ewa Gondek, Monika Pokladko-Kowar. — Kraków : Faculty of Physics and Applied Computer Science. AGH University of Science and Technology, 2013. — ISBN: 978-83-925779-4-2. — S. 79

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Wojciech Łużny, Mateusz M. Marzec

    cyfrowy identyfikator dokumentu: