Wykaz publikacji wybranego autora

Aleksander Gil, prof. dr hab.

profesor zwyczajny

Wydział Inżynierii Materiałowej i Ceramiki
WIMiC-ktspa, Katedra Technologii Szkła i Powłok Amorficznych


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria chemiczna


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-7364-0648 połącz konto z ORCID

ResearcherID: brak

Scopus: 7202429607

PBN: 5e70920a878c28a04738efb5

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
2
3
  • On the oxidation resistance of chromia-forming high entropy alloys / M. JAWAŃSKA, J. DĄBROWA, M. STYGAR, A. GIL, G. Cieślak, T. Kulik, J. JEDLIŃSKI // W: Proceedings of III European summer school on Materials science : 5.X – 9.X.2020 Dresden / ed. by Magdalena Bieda ; Institute of Metallurgy and Materials Science of the Polish Academy of Sciences, Poland, Dresden Fraunhofer Cluster Nanoanalysis, Germany. — Kraków–Dresden : Institute of Metallurgy and Materials Science of the Polish Academy of Sciences, 2020. — ISBN: 978-83-60768-90-7. — S. 44–48. — Bibliogr. s. 47–48, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
5
  • Three-dimensional study of the oxide scale formed on a polycrystalline nickel-based superalloy ATI 718Plus® / Sebastian LECH, Adam KRUK, Aleksander GIL, Grzegorz CEMPURA, Agnieszka Wusatowska-Sarnek, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: EM'2020 [Dokument elektroniczny] : XVII international conference on Electron Microscopy : November 30\textsuperscript{th} - December 2\textsuperscript{nd} 2020, Katowice, Poland : book of abstracts / Silesian University of Technology, Institute of Metallurgy and Materials Science. Polish Academy of Sciences, PTMi. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Poland : Silesian University of Technology], [2020]. — 1 dysk optyczny. — S. 104. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM

  • keywords: FIB-SEM tomography, high temperature oxidation, superalloy, high resolution TEM, high resolution STEM

    cyfrowy identyfikator dokumentu: