Wykaz publikacji wybranego autora

Andrzej Baczmański, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kfms, Katedra Fizyki Materii Skondensowanej


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk ścisłych / dziedzina nauk fizycznych / fizyka


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-6137-8822 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 55894710500

PBN: 5e709208878c28a04738ee57

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Analiza tendencji w ewolucji tekstury aluminium w warunkach naprężeń ściskającychThe analysis of tendency of texture evolution in aluminium defomed in compression state of stresses / Maria RICHERT, Andrzej BACZMAŃSKI, Andrzej KORBEL // Inżynieria Materiałowa ; ISSN 0208-6247. — 2000 R. 21 nr 1, s. 18–20. — Bibliogr. s. 20, Streszcz., Summ.

  • słowa kluczowe: aluminium, tekstura, odkształcenie plastyczne, metoda cyklicznego wyciskania ściskającego, metoda CWS, model L-W

    keywords: aluminium, texture, plastic deformation, compressive stresses, cyclic extrusion compression method, pole figures, CWS method, naprężenie ściskające, LW model

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Different methods of slip system selection used in plastic deformation models / A. BACZMAŃSKI, P. Zattarin, P. Lipiński, K. WIERZBANOWSKI // W: JSTMM2000 : les troisiémes journées scientifiques et techniques de mécanique et matériaux : approches multi-échelles, pour l'étude du comportement mécanique des matériaux de structure : 2–3 novembre 2000 Hammamet – Tunisie. — [Tunis : UT], [2000]. — (L'Ecole Superieure des Sciences et Techniques de Tunis / Université Tunis ; 2). — S. 33-1–33-7. — Bibliogr. s. 33-7, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • Influence of texture on mechanical stiffness coeffitients in tin coatings / S. J. SKRZYPEK, W RATUSZEK, A. BACZMAŃSKI // W: XVIII conference on Applied crystallography : 4–7 September 2000 Katowice–Wisła, Poland and Rietveld method workshop : 7–9 September 2000 / University of Silesia ; Committee of Crystallography and Committee of Material Science of Polish Academy od Sciences. — [Katowice : UŚ], [2000]. — S. 99

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • Opracowanie i wdrożenie nowej nieniszczącej metody pomiaru naprężeń własnych opartej na geometrii dyfrakcji promieniowania X przy stałym kącie padaniaMacro-residual stresses in tin coatings – measurement based on the $sin^{2}\psi$ method due to grazing angle incidence X-ray scattering geometry / Stanisław J. SKRZYPEK, Andrzej BACZMAŃSKI, Edward KUSIOR // Problemy Eksploatacji = Maintenance Problems ; ISSN 1232-9312. — 2000 nr 2, s. 313–333. — Bibliogr. s. 330–332, Streszcz., Summ.. — Inżynieria Powierzchni 2000 : 3 ogólnopolska konferencja naukowa : 2000, Radom–Kazimierz Dolny, Polska

  • słowa kluczowe: dyfrakcyjne metody pomiaru makro-naprężeń własnych, nieniszcząca metoda pomiaru, dyfrakcja w geometrii stałego kąta padania, warstwy TiN

    keywords: macro-residual stresses, TiN layers

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
  • Pomiary makronaprężeń własnych (NW) przy użyciu dyfrakcji promieni X przy stałym kącie padania – metoda g-$\sin^{2}\psi$Macro-residual stresses – measurements based on the g-$\sin^{2}\psi$ method due to grazing angle incidence X-ray scattering geometry / Stanisław J. SKRZYPEK, Andrzej BACZMAŃSKI, Edward KUSIOR // Zeszyty Naukowe / Politechnika Świętokrzyska ; ISSN 1897-2683. Mechanika ; ISSN 0239-4979. — 2000 [z.] 72, s. 463–470. — Bibliogr. s. 468–469, Streszcz., Summ.. — Problemy metaloznawstwa w technice XXI wieku : konferencja / kom. nauk. Jan Adamczyk [et al.]. — Kielce : Wydawnictwo Politechniki Świętokrzyskiej, 2000

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6
  • Problem of elastic anisotropy in stress measurement using graizing angle scattering geometry / A. BACZMAŃSKI, S. J. SKRZYPEK // W: MECA-SENS 2000 : stress evaluation by neutron and synchrotron radiation : international conference : 13–14 December 2000 Reims : abstracts. — [France : s. n.], [2000]. — S. 40. — Bibliogr. s. 40

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
  • Progress in the X-ray diffraction of the residual macro-stresses determination related to surface layer gradients and anisotropy / S. J. SKRZYPEK, A. BACZMAŃSKI // W: 49\textsuperscript{th} Annual Denver X-ray conference : 31 July–4 August 2000 : abstracts / International Centre for Diffraction Data. — [USA : s. n. : ICDD], [2000]. — S. 155

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

8
  • Residual macrostresses of metal plates after laser forming / S. J. SKRZYPEK, Z. Wesołowski, A. BACZMAŃSKI, E. KUSIOR // W: XVIII conference on Applied crystallography : 4–7 September 2000 Katowice–Wisła, Poland and Rietveld method workshop : 7–9 September 2000 / University of Silesia ; Committee of Crystallography and Committee of Material Science of Polish Academy od Sciences. — [Katowice : UŚ], [2000]. — S. 34

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

9
  • Residual stress by neutron diffraction and numerical modelling in austeno-ferrictic steel / D. Gigout, A. BACZMAŃSKI, C. Ohms, A. Youtsos, A. Lodini // W: MECA-SENS 2000 : stress evaluation by neutron and synchrotron radiation : international conference : 13–14 December 2000 Reims : abstracts. — [France : s. n.], [2000]. — S. 17. — Bibliogr. s. 17

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

10
  • Thermal microstresses determined using diffraction and self-consistent model / A. BACZMAŃSKI, S. SKRZYPEK, K. WIERZBANOWSKI, P. Lipinski // W: MECA-SENS 2000 : stress evaluation by neutron and synchrotron radiation : international conference : 13–14 December 2000 Reims : abstracts. — [France : s. n.], [2000]. — S. 16. — Bibliogr. s. 16

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: