Wykaz publikacji wybranego autora

Józef Korecki, prof. dr hab.

profesor zwyczajny

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kfc, Katedra Fizyki Ciała Stałego

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk ścisłych / dziedzina nauk fizycznych / fizyka

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-0964-4155 połącz konto z ORCID

ResearcherID: K-1548-2014

Scopus: 56250820700

PBN: 5e709208878c28a04738ee82

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1

  • Characterization and measurement of magnetic materials using X-Ray and Threshold Photoemission Electron Microscopy / T. Giela, D. Wilgocka-Ślęzak, N. Spiridis, J. KORECKI // Synchrotron Radiation in Natural Science : Bulletin of the Polish Synchrotron Radiation Society ; ISSN 1644-7190. — 2019 vol. 18 no. 1–2, s. 27. — Bibliogr. s. 27. — J. Korecki - pierwsza afiliacja: Jerzy Haber Institute of Catalysis and Surface Chemistry, Polish Academy of Sciences, Kraków. — ISSRNS'2019 : 14\textsuperscript{th} International School and Symposium on Synchrotron Radiation in Natural Science : 9–14 June 2019, Zakopane, Poland

  • keywords: magnetic circular dichroism, X-ray absorption spectroscopy, threshold photoemission, photoelectron emission microscopy

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
3
4
5
6

  • The first experimental results from PEEM/XAS beamline at Solaris / M. Zając, P. DRÓŻDŻ, [et al.], J. KORECKI, [et al.], M. SIKORA, [et al.], J. STĘPIEŃ, [et al.], M. ŚLĘZAK, T. ŚLĘZAK, [et al.] // Synchrotron Radiation in Natural Science : Bulletin of the Polish Synchrotron Radiation Society ; ISSN 1644-7190. — 2019 vol. 18 no. 1–2, s. 37. — Bibliogr. s. 37. — J. Korecki - dod. afiliacja: Jerzy Haber Institute of Catalysis and Surface Chemistry, Polish Academy of Sciences, Kraków. — ISSRNS'2019 : 14\textsuperscript{th} International School and Symposium on Synchrotron Radiation in Natural Science : 9–14 June 2019, Zakopane, Poland

  • keywords: synchrotron radiation, photoelectron emission microscopy, soft X-ray absorption spectroscopy

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Ślęzak, Marcin Sikora, Joanna Stępień, Michał Ślęzak, Piotr Dróżdż

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7