Porównawcze badania wrażliwości elektronicznych przetworników pomiarowych na tolerancje podzespołów przy wykorzystaniu analizy Monte Carlo — Comparing electronics measuring transducers sensitivity to component tolerances using the Monte Carlo analysis / Tadeusz SIDOR, Arkadiusz ZIENTARA // Pomiary, Automatyka, Kontrola / Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich. Sekcja Metrologii, Polskie Stowarzyszenie Pomiarów Automatyki i Robotyki POLSPAR ; ISSN 0032-4140. — 2001 nr 10, s. 9–12. — Bibliogr. s. 12, Streszcz., Abstr.

Symulacyjne badania zależności współczynnika CMRR od częstotliwości dla różnych struktur wzmacniaczy pomiarowych — Investigation of the structure influence on the CMRR value in frequency domain for different types of instrumentation amplifiers / Tadeusz SIDOR, Arkadiusz ZIENTARA // W: Modelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały XI [jedenastego] sympozjum : Krynica, 17–21 września 2001 / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Zakład Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo Zakładu Metrologii AGH, 2001. — ISBN10: 8390829592. — S. 175–180. — Bibliogr. s. 180, Streszcz., Abstr.