Badania symulacyjne wpływu tolerancji rezystorów na współczynnik CMRR w różnych strukturach wzmacniaczy pomiarowych — Investigation of the resistors tolerance influence on the CMRR of different structures of instrumentation amplifiers / Tadeusz SIDOR, Arkadiusz ZIENTARA // W: Modelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały X jubileuszowego sympozjum : Krynica, 18–22 września 2000 = Measuring systems-modelling and simulation : 10\textsuperscript{th} anniversary symposium / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Zakład Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo Zakładu Metrologii AGH, 2000. — ISBN10: 83-908295-7-6. — S. 228–235. — Bibliogr. s. 235, Streszcz., Abstr.