Badania symulacyjne wierności odwzorowania charakterystyk częstotliwościowych wzmacniaczy operacyjnych przez ich makromodele — Investigations how the Op-Amp macromodel type influences credibility of calculated circuits frequency response / Tadeusz SIDOR // W: Modelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały IX sympozjum : Krynica, 20–24 września 1999 / Akademia Górniczo-Hutnicza. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Zakład Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo ZM AGH, 1999. — ISBN10: 83-908295-3-3. — S. 216–222. — Bibliogr. s. 222, Streszcz., Abstr.

Badania symulacyjne wpływu tolerancji rezystorów na współczynnik CMRR w różnych strukturach wzmacniaczy pomiarowych — Investigation of the resistors tolerance influence on the CMRR of different structures of instrumentation amplifiers / Tadeusz SIDOR, Arkadiusz ZIENTARA // W: Modelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały X jubileuszowego sympozjum : Krynica, 18–22 września 2000 = Measuring systems-modelling and simulation : 10\textsuperscript{th} anniversary symposium / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Zakład Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo Zakładu Metrologii AGH, 2000. — ISBN10: 83-908295-7-6. — S. 228–235. — Bibliogr. s. 235, Streszcz., Abstr.

Dydaktyka Zakładu Metrologii A. G. H. w dziedzinie elektronicznych układów pomiarowych — Teaching of subjects concerning electronic measuring circuits in Metrology Department of A. G. H / Tadeusz SIDOR, Tadeusz ŻEGLEŃ // W: XXXV MKM 2003 : XXXV Międzyuczelniana Konferencja Metrologów : Kraków, 8–11 września 2003 r. / materiały pod red. Janusza Gajdy. — Kraków : Wydawnictwo Katedry Metrologii AGH, 2003. — ISBN10:  8391862410. — S. 249–252. — Streszcz., Abstr.

Modelowanie i badania symulacyjne czujników inercyjnych pierwszego rzędu o zmiennej dynamice — Modelling and simulation of first order inertial sensors with variable parameters / Tadeusz SIDOR // W: Modelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały XV sympozjum : Krynica, 18–22 września 2005 = Measuring systems-modelling and simulation / pod red. Janusza Gajdy ; Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Katedra Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo Katedry Metrologii AGH, 2005. — S. 161–167. — Bibliogr. s. 167, Streszcz., Abstr.

Optymalny dobór korektora własności dynamicznych czujników wielkości nieelektrycznych — Optimal first order dynamic error corrector for sensors of higher order inertial models / Tadeusz SIDOR // W: Modelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały XII [dwunastego] sympozjum : Krynica, 16–20 września 2002 = Measuring systems-modelling and simulation / pod red. Janusza Gajdy ; Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Zakład Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo Zakładu Metrologii AGH, 2002. — Na k. tyt. dodatkowo: Sympozjum organizowane w roku Jubileuszu 50-lecia Wydziału EAIiE AGH. — S. 151–154. — Bibliogr. s. 154

Porównawcze badania symulacyjne wpływu napięcia wspólnego na różne systemy przetworników sygnałów z mostkowego układu czujników — Comparison of common voltage influence on various systems of signal transducers from the bridge type arrangements of sensors / Tadeusz SIDOR // W: Modelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały XIV sympozjum : Krynica, 19–23 września 2004 / pod red. Janusza Gajdy ; Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Katedra Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo Katedry Metrologii AGH, 2004. — Na k. tyt. dodatkowo: Sympozjum zorganizowane w ramach obchodów 85-lecia Akademii Górniczo-Hutniczej im. St. Staszica w Krakowie. — ISBN10: 8391862445. — S. 199–203. — Bibliogr. s. 203, Streszcz., Abstr.

Programy do symulacji układów elektronicznych w badaniach naukowych i dydaktyce Zakładu Metrologii AGH — [Programs for electronic circuit simulation in research and didactic] / Tadeusz SIDOR // W: Współczesne kierunki rozwoju elektrotechniki, automatyki, informatyki, elektroniki i telekomunikacji : materiały międzynarodowej konferencji zorganizowanej z okazji Jubileuszu 50-lecia Wydziału EAIiE : Kraków, 7–8 czerwca 2002 / kom. red. Tomasz Zieliński, Dariusz Borkowski ; AGH WEAIiE. — [Kraków : WEAIiE], 2002. — Na k. tyt. dodatkowo: Złoty Jubileusz Wydziału Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki Akademii Górniczo-Hutniczej im. Stanisława Staszica w Krakowie. — S. 291–292. — Bibliogr. s. 292, Streszcz.

Symulacyjna weryfikacja własności metrologicznych przetworników A/C typu sigma-delta — Simulation to investigate metrological properties of delta sigma type A/D converters / Tadeusz SIDOR // W: Modelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały XVIII sympozjum = XVIII Symposium on Measuring systems – modelling and simulation : Krynica Zdrój, 18–21 września 2011 / pod red. Janusza Gajdy ; AGH Akademia Górniczo-Hutnicza. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Katedra Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo Katedry Metrologii AGH, 2011. — ISBN: 978-83-61528-28-9. — S. 59–66. — Bibliogr. s. 66, Streszcz., Abstr.

Symulacyjne badania zależności współczynnika CMRR od częstotliwości dla różnych struktur wzmacniaczy pomiarowych — Investigation of the structure influence on the CMRR value in frequency domain for different types of instrumentation amplifiers / Tadeusz SIDOR, Arkadiusz ZIENTARA // W: Modelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały XI [jedenastego] sympozjum : Krynica, 17–21 września 2001 / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Zakład Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo Zakładu Metrologii AGH, 2001. — ISBN10: 8390829592. — S. 175–180. — Bibliogr. s. 180, Streszcz., Abstr.