Wykaz publikacji wybranego autora

Jacek Nalepa, dr inż.

adiunkt

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej
WEAIiIB-kmie, Katedra Metrologii i Elektroniki


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak

OPI Nauka Polska




1
  • [referat, 2004]
  • TytułBaza testów kontrolnych w oprogramowaniu wspomagającym proces dydaktyczny w Laboratorium Metrologii
    AutorzyAndrzej ZATORSKI, Jacek NALEPA
    ŹródłoKM Kongres Metrologii : metrologia w procesie poznania : Wrocław, 6–9. 09. 2004 : materiały konferencyjne, T. 1 / pod red. Janusza Mroczki. — [Zielona Góra : druk: LUMEL S. A.], 2004. — S. 55–58
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • [referat, 2004]
  • TytułCorrection of dynamic error by the “blind” method : a differential algorithm simulation study
    AutorzyJacek NALEPA
    ŹródłoAMS'04 : 10textsuperscript{th} IMEKO TC7 international symposium on Advances of Measurement Science : June 30–July 2, 2004, Saint-Petersburg, Russia : proceedings, Vol. 1 / ed. Sergey V. Muravyov ; International Measurement Confederation IMEKO, Technical Committee on Measurement Science – TC 7. — [Tomsk : Plutechnic University], [2004]. — S. 109–114
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • [referat, 2004]
  • TytułKorekcja błędu dynamicznego metodą „w ciemno” – badania symulacyjne przy nieznajomości modelu toru pomiarowego
    AutorzyJacek NALEPA
    ŹródłoModelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały XIV sympozjum : Krynica, 19–23 września 2004 / pod red. Janusza Gajdy ; Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Katedra Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo Katedry Metrologii AGH, 2004. — S. 47–54
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • [referat, 2004]
  • TytułWirtualne stanowiska w laboratorium podstaw metrologii
    AutorzyBartosz Bidziński, Wojciech Gryga, Jacek NALEPA
    ŹródłoMKM'04 : XXXVI Międzyuczelniana Konferencja Metrologów : Ustroń, 21–23 czerwiec 2004 : materiały konferencyjne / oprac. red. Damian Gonscz, Artur Skórkowski ; Politechnika Śląska. Instytut Metrologii i Automatyki Elektrotechnicznej. — Katowice : Komisja Metrologii Oddziału PAN, 2004. — S. 365–372
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: