A simulation investigation of differential algorithm for the ”blind correction” of dynamic error in measuring channels with periodic nonstationarity / Jerzy NABIELEC, Jacek NALEPA // W: IMEKO XVIII world congress and IV Brazilian congress of metrology [Dokument elektroniczny] : IMEKO world congress metrologia Brazil 2006 : metrology for a sustainable development : September 17–22, 2006, Rio de Janeiro, Brazil / IMEKO. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Rio de Janeiro, Brazil : LETRA CAPITAL Editora], [2006]. — 1 dysk optyczny. — Opis cześc. wg obwoluty. — S. 1–3. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 3, Abstr.. — Tyt. przejęto z ekranu tytułowego (po wybraniu opcji “Authors”)

Badania symulacyjne algorytmu różnicowego korekcji „w ciemno” błędu dynamicznego dla wybranego przypadku niestacjonarnych torów pomiarowych — A simulation investigation of differential algorithm for the “blind correction” of dynamic error in particular case measuring channels with periodic nonstationarity / Jacek NALEPA // Pomiary, Automatyka, Kontrola / Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich. Sekcja Metrologii, Polskie Stowarzyszenie Pomiarów Automatyki i Robotyki POLSPAR ; ISSN 0032-4140. — 2006 [nr] 10bis wyd. spec. dodatkowe, s. 16–18. — Bibliogr. s. 18, Streszcz., Abstr.. — MiSSP '2006 : XVI sympozjum Modelowanie i Symulacja Systemów Pomiarowych : Krynica, 17–21 września 2006 r. / pod red. Janusza Gajdy ; Organ Polskiego Stowarzyszenia POLSPAR, Organ Sekcji Metrologii SIMP. — Warszawa : Agenda Wydawnicza SIMP, 2006

Badania symulacyjne systemu korekcji dynamicznej metodą „w ciemno” przy autoidentyfikacji charakterystyk statycznych obu korygowanych torów — Simulation investigation of the “blind” dynamic correction system with static characteristic auto-identification in both channels / Jacek NALEPA // Pomiary, Automatyka, Kontrola / Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich. Sekcja Metrologii, Polskie Stowarzyszenie Pomiarów Automatyki i Robotyki POLSPAR ; ISSN 0032-4140. — 2007 vol. 53 nr 9bis, s. 220–223. — Bibliogr. s. 223, Streszcz., Abstr.. — Kongres Metrologii „Metrologia – narzędzie poznania i droga rozwoju” : Kraków 9–13 września 2007, T. 1 / SIiTMP SM, PSPAiR POLSPAR. — Warszawa : Agenda Wydawnicza SIMP, 2007 + CD-ROM. — Na okł. dodatkowo: 50 Lat Katedry Metrologii AGH, 55 Lat Wydziału Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki

Badania symulacyjne systemu korekcji dynamicznej metodą „w ciemno” przy niespełnieniu warunku jednakowych wzmocnień w obu torach — Simulation investigation of the “blind” dynamic correction system with the condition of equal gain in both channels not being satisfied / Jacek NALEPA // Pomiary, Automatyka, Kontrola / Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich. Sekcja Metrologii, Polskie Stowarzyszenie Pomiarów Automatyki i Robotyki POLSPAR ; ISSN 0032-4140. — 2006 [nr] 10bis wyd . spec. dodatkowe, s. 12–15. — Bibliogr. s. 15, Streszcz., Abstr.. — MiSSP '2006 : XVI sympozjum Modelowanie i Symulacja Systemów Pomiarowych : Krynica, 17–21 września 2006 r. / pod red. Janusza Gajdy ; Organ Polskiego Stowarzyszenia POLSPAR, Organ Sekcji Metrologii SIMP. — Warszawa : Agenda Wydawnicza SIMP, 2006

Badania symulacyjne wybranego algorytmu korekcji błędu dynamicznego metodą „w ciemno” dla dwuinercyjnego toru pomiarowego — Simulation of selected algorithm of the “blind” dynamical error correction for second order inertial measurement channel / Jacek NALEPA // W: Modelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały XII [dwunastego] sympozjum : Krynica, 16–20 września 2002 = Measuring systems-modelling and simulation / pod red. Janusza Gajdy ; Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Zakład Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo Zakładu Metrologii AGH, 2002. — Na k. tyt. dodatkowo: Sympozjum organizowane w roku Jubileuszu 50-lecia Wydziału EAIiE AGH. — S. 183–190. — Bibliogr. s. 190, Streszcz., Abstr.

Badania symulacyjne wybranego algorytmu korekcji błędu dynamicznego metodą “w ciemno” dla niestacjonarnych torów pomiarowych – ostatnie badania — Simulation experiments of a selected correction algorithm of the dynamic error, using the “blind” method for nonstationary measurement channels – recent results / Jacek NALEPA // W: Modelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały XVII sympozjum : Krynica, 20-24 września 2009 = Measuring systems – modelling and simulation / pod red. Janusza Gajdy ; Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica. Wydział Eletrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Katedra Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo KM AGH, 2009. — Na s. tytułowej dodatkowo: Sympozjum organizowane w roku Jubileuszu 90-lecia Akademii Górniczo-Hutniczej im. Stanisława Staszica w Krakowie. — ISBN: 978-83-61528-12-8. — S. 119–126. — Bibliogr. s. 125-126, Streszcz., Abstr.

Baza testów kontrolnych w oprogramowaniu wspomagającym proces dydaktyczny w Laboratorium Metrologii — [Testing questions for didactic software in Metrology Laboratory] / Andrzej ZATORSKI, Jacek NALEPA // W: KM Kongres Metrologii : metrologia w procesie poznania : Wrocław, 6–9. 09. 2004 : materiały konferencyjne, T. 1 / pod red. Janusza Mroczki. — [Zielona Góra : druk: LUMEL S. A.], 2004. — S. 55–58. — Bibliogr. s. 58, Streszcz.

Correction of dynamic error by the “blind” method : a differential algorithm simulation study / Jacek NALEPA // W: AMS'04 : 10\textsuperscript{th} IMEKO TC7 international symposium on Advances of Measurement Science : June 30–July 2, 2004, Saint-Petersburg, Russia : proceedings, Vol. 1 / ed. Sergey V. Muravyov ; International Measurement Confederation IMEKO, Technical Committee on Measurement Science – TC 7. — [Tomsk : Plutechnic University], [2004]. — S. 109–114. — Bibliogr. s. 114, Abstr.

Dydaktyka Katedry Metrologii AGH w nowych programach studiów dwustopniowych na kierunku Elektrotechnika — Metrology courses in under and postgraduate studies in Electrical Engineering in EAIiE Faculty of AGH UST / Jacek NALEPA // W: Kierunki działalności i współpraca naukowa Wydziału Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki : materiały konferencji zorganizowanej z okazji Jubileuszu 90-lecia AGH : Kraków, 28–29 maja 2009 / komitet red. Wojciech Mitkowski, Adam Piłat. — Kraków : AGH WEAIiE, cop. 2009 + CD. — ISBN: 978-83-88309-87. — S. 221–222. — Streszcz., Abstr.

Korekcja błędu dynamicznego metodą „w ciemno” – badania symulacyjne przy nieznajomości modelu toru pomiarowego — The 'blind' dynamic error correction method – simulation study without knowing the measurement channel model / Jacek NALEPA // W: Modelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały XIV sympozjum : Krynica, 19–23 września 2004 / pod red. Janusza Gajdy ; Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Katedra Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo Katedry Metrologii AGH, 2004. — Na k. tyt. dodatkowo: Sympozjum zorganizowane w ramach obchodów 85-lecia Akademii Górniczo-Hutniczej im. St. Staszica w Krakowie. — ISBN10: 8391862445. — S. 47–54. — Bibliogr. s. 54, Streszcz., Abstr.

Korekcja błędu dynamicznego pomiaru metodą „w ciemno” – badania symulacyjne obiektu pierwszego rzędu — [Dynamic error correction for “blind” method of measurement – simulation investigations of the first order object] / Jerzy NABIELEC, Jacek NALEPA // Pomiary, Automatyka, Kontrola / Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich. Sekcja Metrologii, Polskie Stowarzyszenie Pomiarów Automatyki i Robotyki POLSPAR ; ISSN 0032-4140. — 2002 nr 5/6, s. 25–28. — Bibliogr. s. 28, Streszcz., Abstr.. — VI konferencja automatyków : Rytro 2002 : jubileusz 50-lecia Wydziału Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektrotechniki / Zakład Metrologii Akademii Górniczo-Hutniczej. — Warszawa : Agencja Wydawnicza SIMP, 2002. — Zeszyt poświęcony działalności naukowej Zakładu Metrologii AGH – Kraków

Korekcja dynamiczna metodą równoważności pomiaru dwoma równoległymi torami — Dynamic error correction method by equivalence measurement with two parallel channels / Jacek NALEPA // Zeszyty Naukowe Politechniki Rzeszowskiej = Folia Scientiarum Universitatis Technicae Resoviensis ; nr 207. Seria: Elektrotechnika = Journal of Electrical Engineering ; ISSN 0209-2662. — 2003 z. 25, s. 215–224. — Bibliogr. s. 223, Streszcz., Abstr.. — Metody i technika przetwarzania sygnałów w pomiarach fizycznych = Methods and technics of signal processing in physical measurements : materiały XI międzynarodowego seminarium metrologów : Rzeszów 17–20.09.2003. — Rzeszów : Oficyna Wydawnicza Politechniki Rzeszowskiej, 2003

Master-degree specialization in Computer Engineering in Electrical Systems, carried in English at the AGH-UST / CIEŚLA Antoni, HANZELKA Zbigniew, NALEPA Jacek, ORZECHOWSKI Tadeusz, RUSEK Jan // W: ICEE'2005 : International Conference on Engineering Education “Global education interlink” : proceedings of the International Conference on Engineering Education ICEE'2005 : July 25–29, 2005, Gliwice, Poland : conference proceedings, Vol. 2 / eds. Jerzy Mościński, Marcin Maciążek. — Gliwice : Silesian University of Technology, 2005. — S. 459–464. — Abstr.

Modelling and simulation of A/D converters operating in measurement systems / Jacek NALEPA // W: MOSIS'99 : Modelling and Simulation of System : 33rd spring international conference : April 27–29, 1999 Rožnov pod Radhoštěm Czech Republic : proceedings, Vol. 1 / Department of Computer Science of FEEI VŠB – TU Ostrava ; Department of Computer Science of FEECS VUT Brno. — Ostrava : MARQ, 1999. — ISBN10: 80-85988-32-1. — S. 167–172. — Bibliogr. s. 172, Abstr.

Modelling and simulation of measuring systems using the simulink specialised toolbox / J. NALEPA // W: IMEKO 2000 [International Measurement Confederation] : XVI IMEKO world congress : Sept. 25–28, 2000 Vienna : proceedings. Vol. 5, Top. 7 : Measurement science ; Top. 8 : Traceability in metrology ; Top. 11 : Metrological infrastructur / eds. A. Afjehi-Sadat, M. N. Durakbasa, P. H. Osanna. — Wien : Abteilung Austauschbau und Messtechnik, 2000. — S. 141–146. — Bibliogr. s. 146, Abstr.

Modelowanie i symulacja procesów i urządzeń pomiarowych jako element nauczania metrologii — Modelling and simulation of measuring processes and systems as a part of metrological education / Jacek NALEPA // W: XXXI Międzyuczelniana Konferencja Metrologów : Białystok, 7–10 września 1999 r. / [red. Arkadiusz Łukjaniuk] ; Politechnika Białostocka. Wydział Elektryczny. Katedra Elektrotechniki Teoretycznej i Metrologii. — Białystok : PB, 1999. — ISBN10: 83-86272-98-8. — S. 113–118. — Bibliogr. s. 118, Abstr.

Modelowanie matematyczne i symulacja komputerowa procesów i urządzeń pomiarowych w dydaktyce metrologii — Modelling and computer simulation of measuring instruments and processes in metrology education / Jacek NALEPA // W: XXXV MKM 2003 : XXXV Międzyuczelniana Konferencja Metrologów : Kraków, 8–11 września 2003 r. / materiały pod red. Janusza Gajdy. — Kraków : Wydawnictwo Katedry Metrologii AGH, 2003. — ISBN10:  8391862410. — S. 261–265. — Bibliogr. s. 265, Streszcz., Abstr.

Ocena skuteczności korekcji błędu dynamicznego metodą „w ciemno” – badania symulacyjne toru inercyjnego pierwszego rzędu — Effectiveness evaluation of the “blind” dynamical error correction – simulation of inertial first order measurement channel / Jacek NALEPA // W: Modelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały XI [jedenastego] sympozjum : Krynica, 17–21 września 2001 / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Zakład Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo Zakładu Metrologii AGH, 2001. — ISBN10: 8390829592. — S. 167–173. — Bibliogr. s. 173, Streszcz., Abstr.

Ocena skuteczności trzech algorytmów korekcji dynamicznej pomiaru metodą „w ciemno” dla obiektu pierwszego rzędu - badania symulacyjne — [Evaluation of the effectiveness of three algorithms for dynamic correction of the measurement by the „blind method” for the first-order object - simulation tests] / Jerzy NABIELEC, Jacek NALEPA // W: KKM 2001 : Krajowy Kongres Metrologii : metrologia u progu trzeciego Millenium : Warszawa 24–27 czerwca 2001 r. : materiały kongresu, T. 1 / red. Jacek Dusza, Zygmunt Jabłoński. — Warszawa : BEL Studio Sp z o. o., 2001. — ISBN10: 83-88442-16-3 . — S. 247–250. — Bibliogr. s. 250, Streszcz.

Oprogramowanie wspomagające laboratorium „Podstaw Metrologii” — Computer software for the “Basics of Metrology” students' laboratory / Jacek NALEPA // W: XXXII [Trzydziesta druga] Międzyuczelniana Konferencja Metrologów : MKM'2000 : Rzeszów–Jawor, 11–15 września 2000 r., T. 1 / red. Roman Tabisz z zespołem: Barbara Wilk, Włodzimierz Stec, Anna Szlachta ; Politechnika Rzeszowska. Wydział Elektryczny. Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych. — Rzeszów : Oficyna Wydawnicza Politechniki Rzeszowskiej, 2000. — Na okł. także: 50 lat 1951–2001 Wyższego Szkolnictwa Technicznego w Rzeszowie. — S. 117–120. — Bibliogr. s. 120

Podsumowanie badań symulacyjnych systemu korekcji dynamicznej metodą równoważności pomiaru dwoma torami — Dynamic error correction by equivalence method of the measurement with two channels – summary of simulation experiments / Jacek NALEPA // Pomiary, Automatyka, Kontrola / Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich. Sekcja Metrologii, Polskie Stowarzyszenie Pomiarów Automatyki i Robotyki POLSPAR ; ISSN 0032-4140. — 2010 vol. 56 nr 8, s. 887–889. — Bibliogr. s. 889, Streszcz., Abstr.

Podsumowanie badań symulacyjnych systemu korekcji dynamicznej metodą równoważności pomiaru dwoma torami — Dynamic error correction method by equivalence measurement with two channels – summary of simulation experiments / Jacek NALEPA // W: KM 2010 : V Kongres Metrologii : Łódź, 6–8 września 2010 : materiały / oprac. red. Krzysztof Gniotek, Zygmunt Kuśmierek. — Łódź : Politechnika Łódzka, 2010. — S. 96–97. — Bibliogr. s. 97, Streszcz., Summ.. — Pełny tekst W: V Kongres Metrologii [Dokument elektroniczny] : Łódź, 6–8 września 2010 r. : materiały. — Wersja do Windows. — Dane Tekstowe / Politechnika Łódzka. — [Łódź : PŁ, 2010]. — 1 dysk optyczny. — S. [1–3]. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. [3], Streszcz., Abstr

Próba oceny wybranych postaci kryterium błędu dynamicznego przy małej wartości tego błędu — A trial of assessment of selected criteria of dynamic error in cases of small value of error / Jacek NALEPA // W: Modelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały IX sympozjum : Krynica, 20–24 września 1999 / Akademia Górniczo-Hutnicza. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Zakład Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo ZM AGH, 1999. — ISBN10: 83-908295-3-3. — S. 279–283. — Bibliogr. s. 283, Streszcz., Abstr.

Przedmioty metrologiczne w programach dwustopniowych studiów na kierunku Elektrotechnika na Wydziale EAIiE AGH — Metrology courses for under and postgraduate studies in Electrical Engineering at the Faculty of EAIiE of AGH UST / Jacek NALEPA // Pomiary, Automatyka, Kontrola / Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich. Sekcja Metrologii, Polskie Stowarzyszenie Pomiarów Automatyki i Robotyki POLSPAR ; ISSN 0032-4140. — 2008 vol. 54 nr 12, s. 892–894. — Bibliogr. s. 894, Streszcz., Abstr.

The “blind” method of dynamic error correction for the second order system / Jerzy NABIELEC, Jacek NALEPA // W: XVII IMEKO world congress : metrology in the 3\textsuperscript{rd} Millennium : June 22–27, 2003 Dubrovnik, Croatia : book of summaries / eds. Damir Ilić, Mladen Boršić, Josip Butorac ; IMEKO International Measurement Confederation, HMD Croatian Metrology Society. — [Dubrovnik] : Croatian Metrology Society : International Measurement Confederation, cop. 2003. — ISBN: 9789539609397. — S. 93. — Pełny tekst W: XVII IMEKO world congress [Dokument elektroniczny] : metrology in the 3\textsuperscript{rd} Millennium : proceedings : June 22–27, 2003 Dubrovnik, Croatia. - Wersja do Windows. - Dane tekstowe / eds. Damir Ilić, Mladen Boršić, Josip Butorac ; IMEKO International Measurement Confederation, HMD Croatian Metrology Society. - [Budapest] : IMEKO ; [Zagreb] : HMD, 2003. - 1 dysk optyczny. - S. 841–846. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD. - Bibliogr. s. 846, Abstr.