Wykaz publikacji wybranego autora

Jacek Nalepa, dr inż.

adiunkt

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej
WEAIiIB-kmie, Katedra Metrologii i Elektroniki


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak

OPI Nauka Polska


Opisy publikacji wcześniejszych zobacz: bpp.agh.edu.pl/old.



1
  • Baza testów kontrolnych w oprogramowaniu wspomagającym proces dydaktyczny w Laboratorium Metrologii[Testing questions for didactic software in Metrology Laboratory] / Andrzej ZATORSKI, Jacek NALEPA // W: KM Kongres Metrologii : metrologia w procesie poznania : Wrocław, 6–9. 09. 2004 : materiały konferencyjne, T. 1 / pod red. Janusza Mroczki. — [Zielona Góra : druk: LUMEL S. A.], 2004. — S. 55–58. — Bibliogr. s. 58, Streszcz.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Korekcja błędu dynamicznego metodą „w ciemno” – badania symulacyjne przy nieznajomości modelu toru pomiarowegoThe 'blind' dynamic error correction method – simulation study without knowing the measurement channel model / Jacek NALEPA // W: Modelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały XIV sympozjum : Krynica, 19–23 września 2004 / pod red. Janusza Gajdy ; Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Katedra Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo Katedry Metrologii AGH, 2004. — Na k. tyt. dodatkowo: Sympozjum zorganizowane w ramach obchodów 85-lecia Akademii Górniczo-Hutniczej im. St. Staszica w Krakowie. — ISBN10: 8391862445. — S. 47–54. — Bibliogr. s. 54, Streszcz., Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • Wirtualne stanowiska w laboratorium podstaw metrologiiVirtual laboratory exercises for metrology student laboratory / Bartosz Bidziński, Wojciech Gryga, Jacek NALEPA // W: MKM'04 : XXXVI Międzyuczelniana Konferencja Metrologów : Ustroń, 21–23 czerwiec 2004 : materiały konferencyjne / oprac. red. Damian Gonscz, Artur Skórkowski ; Politechnika Śląska. Instytut Metrologii i Automatyki Elektrotechnicznej. — Katowice : Komisja Metrologii Oddziału PAN, 2004. — (Prace Komisji Metrologii Oddziału PAN w Katowicach. Seria: Konferencje ; nr 6). — ISBN10: 839135525X. — S. 365–372. — Bibliogr. s. 372, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: