Wykaz publikacji wybranego autora

Jerzy Nabielec, dr inż.

adiunkt

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej
WEAIiIB-kmie, Katedra Metrologii i Elektroniki


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektrotechnika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-8185-9479 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 7801484412

PBN: 5e70922c878c28a04739119f

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Dynamic error correction for measurement system with differentiating sensors / Jerzy NABIELEC, Barbara BISZTYGA // W: XVII IMEKO world congress : metrology in the 3\textsuperscript{rd} Millennium : June 22–27, 2003 Dubrovnik, Croatia : book of summaries / eds. Damir Ilić, Mladen Boršić, Josip Butorac ; IMEKO International Measurement Confederation, HMD Croatian Metrology Society. — [Dubrovnik] : Croatian Metrology Society : International Measurement Confederation, cop. 2003. — ISBN: 9789539609397. — S. 95. — Pełny tekst w: XVII IMEKO world congress [Dokument elektroniczny] : metrology in the 3\textsuperscript{rd} Millennium : proceedings : June 22–27, 2003 Dubrovnik, Croatia / eds. Damir Ilić, Mladen Boršić, Josip Butorac ; IMEKO International Measurement Confederation, HMD Croatian Metrology Society. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Budapest] : IMEKO ; [Zagreb] : HMD, 2003. — 1 dysk optyczny. — S. 855–858. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 858, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Korekcja „w ciemno” przetworników I rzędu“Blind” correction of the I-order transducers / Jerzy NABIELEC // W: Modelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały XIII sympozjum : Krynica, 8–11 września 2003 = Measuring systems-modelling and simulation / pod red. Janusza Gajdy ; Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Katedra Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo Katedry Metrologii AGH, 2003. — ISBN10: 8391862429. — S. 87–94. — Bibliogr. s. 94, Streszcz., Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • LabVIEW w dydaktyce Zakładu Metrologii AGHExperiences in teaching LabVIEW / Jerzy NABIELEC // W: XXXV MKM 2003 : XXXV Międzyuczelniana Konferencja Metrologów : Kraków, 8–11 września 2003 r. / materiały pod red. Janusza Gajdy. — Kraków : Wydawnictwo Katedry Metrologii AGH, 2003. — ISBN10:  8391862410. — S. 275–278. — Bibliogr. s. 278, Streszcz., Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • The “blind” method of dynamic error correction for the second order system / Jerzy NABIELEC, Jacek NALEPA // W: XVII IMEKO world congress : metrology in the 3\textsuperscript{rd} Millennium : June 22–27, 2003 Dubrovnik, Croatia : book of summaries / eds. Damir Ilić, Mladen Boršić, Josip Butorac ; IMEKO International Measurement Confederation, HMD Croatian Metrology Society. — [Dubrovnik] : Croatian Metrology Society : International Measurement Confederation, cop. 2003. — ISBN: 9789539609397. — S. 93. — Pełny tekst W: XVII IMEKO world congress [Dokument elektroniczny] : metrology in the 3\textsuperscript{rd} Millennium : proceedings : June 22–27, 2003 Dubrovnik, Croatia. - Wersja do Windows. - Dane tekstowe / eds. Damir Ilić, Mladen Boršić, Josip Butorac ; IMEKO International Measurement Confederation, HMD Croatian Metrology Society. - [Budapest] : IMEKO ; [Zagreb] : HMD, 2003. - 1 dysk optyczny. - S. 841–846. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD. - Bibliogr. s. 846, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: