Wykaz publikacji wybranego autora

Jerzy Nabielec, dr inż.

adiunkt

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej
WEAIiIB-kmie, Katedra Metrologii i Elektroniki

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektrotechnika

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-8185-9479 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 7801484412

PBN: 5e70922c878c28a04739119f

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1

  • Korekcja „w ciemno” przetworników I rzędu — “Blind” correction of the I-order transducers / Jerzy NABIELEC // W: Modelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały XIII sympozjum : Krynica, 8–11 września 2003 = Measuring systems-modelling and simulation / pod red. Janusza Gajdy ; Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Katedra Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo Katedry Metrologii AGH, 2003. — ISBN10: 8391862429. — S. 87–94. — Bibliogr. s. 94, Streszcz., Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2

  • LabVIEW w dydaktyce Zakładu Metrologii AGH — Experiences in teaching LabVIEW / Jerzy NABIELEC // W: XXXV MKM 2003 : XXXV Międzyuczelniana Konferencja Metrologów : Kraków, 8–11 września 2003 r. / materiały pod red. Janusza Gajdy. — Kraków : Wydawnictwo Katedry Metrologii AGH, 2003. — ISBN10:  8391862410. — S. 275–278. — Bibliogr. s. 278, Streszcz., Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: