Wykaz publikacji wybranego autora

Tomasz Stobiecki, prof. dr hab.

profesor zwyczajny

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne (50%)


  • 2020

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika (50%)


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-7380-2897 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 7004809636

PBN: 5e70922c878c28a0473911f7

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)



Statystyka obejmuje publikacje afiliowane AGH od 2008 roku włącznie

typ publikacji
rocznikl. publ.książkifragm.referatyartykułypatentymapyred. czas.inne
ogółem347112211186
2023321
20221082
2021624
20208422
201910451
201816853
201726188
201622193
201524177
201422193
201318126
201211155
201116151
201015105
200912102
20081266
200717125
200616106
2005972
200417413
20031239
20021376
2001633
200012165
199914104
język publikacji
rocznikrazempolskojęzyczneanglojęzycznepozostałe języki
ogółem34747300
2023312
20221028
202166
2020826
20191019
201816412
201726224
201622319
20152424
201422319
201318414
201211110
20111616
201015312
20091239
200812210
200717314
200616115
2005918
20041717
200312210
200213211
2001624
200012210
199914311
kraj wydania
rocznikrazempubl. krajowepubl. zagraniczne
ogółem347152195
2023321
20221028
2021624
2020826
20191037
201816610
201726917
201622418
201524915
2014221111
201318612
201211110
201116124
20101587
20091275
20081275
200717107
200616610
2005981
20041789
20031248
20021367
2001642
20001293
19991468
Lista Filadelfijska
rocznikrazempubl. z LFpubl. pozostałe
ogółem34790257
2023312
20221028
2021642
2020826
20191055
201816511
201726818
201622319
201524717
201422319
201318612
20121147
201116115
201015312
200912111
20081257
200717314
200616511
2005927
200417710
200312111
20021358
200166
20001239
199914410
punktacja MNiSW
rocznikrazempubl. z pkt. MNiSWpubl. pozostałe
ogółem34779268
2023312
20221028
2021642
2020835
20191064
201816610
201726818
201622517
201524717
201422319
201318612
20121165
201116115
201015510
200912210
20081266
200717512
200616214
200599
20041717
20031212
20021313
200166
200012111
19991414
publikacje recenzowane
rocznikrazempubl. recenzowanepubl. nierecenzowane
ogółem347133214
2023321
20221028
202166
2020835
20191082
20181679
2017261016
201622517
2015241113
201422319
201318612
20121165
201116115
201015510
200912210
20081284
200717512
20061679
2005927
20041798
20031284
20021367
2001624
20001257
199914410



1
2
3
  • [referat, 2013]
  • Tytuł1/f magnetic noise in MgO/CoFeB based sensors with voltage controlled perpendicular anisotropy
    AutorzyP. WIŚNIOWSKI, M. DĄBEK, T. STOBIECKI, S. Cardoso, P. P. Freitas
    ŹródłoMMM 58 [Dokument elektroniczny] : 58textsuperscript{TH} annual conference on Magnetism and magnetic materials : 4–8 November 2013, Denver : abstracts. — [USA : s. n.], [2013]. — S. 255–256
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
5
  • [referat, 2017]
  • Tytuł$^{59}Co$ NMR analysis of $CoFeB-MgO$ based magnetic tunnel junctions
    AutorzyP. Nawrocki, J. KANAK, M. Wojcik, T. STOBIECKI
    ŹródłoISMANAM 2017 [Dokument elektroniczny] : 24textsuperscript{th} International Symposium on Metastable, Amorphous and Nanostructured Materials : San Sebastián, Spain, 18textsuperscript{th}-23textsuperscript{rd} June, 2017 : abstracts book / ed. Arcady Zhukov. — [San Sebastián: s. n.], [2017]. — S. 109
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6
  • [artykuł w czasopiśmie, 2018]
  • Tytuł$^{59}Co$ NMR analysis of $CoFeB-MgO$ based magnetic tunnel junctions
    AutorzyP. Nawrocki, J. KANAK, M. Wojcik, T. STOBIECKI
    ŹródłoJournal of Alloys and Compounds. — 2018 vol. 741, s. 775–780
  • keywords: thin films, X-ray diffraction, atomic scale structure, phase transitions, amorphous materials, nuclear resonances, magnetic tunnel junction systems

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.jallcom.2018.01.071

7
  • [referat, 2016]
  • TytułAnaliza lokalnych prądów tunelowych w magnetycznym złączu tunelowym z wykorzystaniem mikroskopu C-AFM
    AutorzyJ. KANAK, S. ZIĘTEK, M. CECOT, T. STOBIECKI
    ŹródłoSTM/AFM 2016 : IX seminarium Badania prowadzone metodami skaningowej mikroskopii bliskich oddziaływań oraz IV Szkoła skaningowej mikroskopii i spektroskopii bliskich oddziaływań SPM : Zakopane, 30 listopada–4 grudnia 2016 : streszczenia / Centrum Badań Układów Nanoskopowych i Zaawansowanych Materiałów (Nanometer-scale Science and Advanced Matewrials) - NANOSAM, Instytut Fizyki Uniwersytetu Jagiellońskiego. — [Kraków : s. n.], [2016]. — S. 77
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

8
  • [referat, 2009]
  • TytułAnaliza strukturalna wielowarstw na przykładzie magnetycznych złącz tunelowych
    AutorzyJarosław KANAK, Tomasz STOBIECKI, Piotr WIŚNIOWSKI, Wiesław POWROŹNIK
    ŹródłoNANO 2009 : III krajowa konferencja nanotechnologii : Warszawa, 22–26 czerwca 2009 r. : streszczenia / red. Janusz Kaniewski. — [Warszawa : s. n.], [2009]. — S. 56
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

9
  • [referat, 2014]
  • TytułAnaliza wpływu warstw buforowych na szorstkość i własności magnetyczne złącz tunelowych z użyciem mikroskopii AFM oraz MFM
    AutorzyM. BANASIK, J. KANAK, A. ŻYWCZAK, S. ZIĘTEK, W. SKOWROŃSKI, W. POWROŹNIK, J. WRONA, T. STOBIECKI
    ŹródłoVIII Seminarium Badania prowadzone metodami skaningowej mikroskopii bliskich oddziaływań STM/AFM 2014 oraz III Szkoła skaningowej mikroskopii i spektroskopii bliskich oddziaływań SPM : Zakopane, 3–7 grudnia 2014. — Kraków : Centrum NANOSAM ; Instytut Fizyki Uniwersytetu Jagiellońskiego, [2014]. — S. 111
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

10
11
  • [artykuł w czasopiśmie, 2006]
  • TytułAnisotropic residual stresses in sputtered $TiN$ films prepared by linear periodic motion
    AutorzyF. Hubenthal, T. STOBIECKI, K. Thoma, K. Röll
    ŹródłoSurface and Coatings Technology. — 2006 vol. 201 iss. 6, s. 3399–3405. — tekst: https://goo.gl/pSgRSx
  • keywords: thin films, TiN, hard coating, anisotropic stress

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.surfcoat.2006.07.213

12
  • [referat, 2018]
  • TytułAnomalous behavior of field-like torque in metallic trilayers: theory and experiment
    AutorzyL. KARWACKI, W. SKOWROŃSKI, S. ZIĘTEK, J. KANAK, J. CHĘCIŃSKI, P. Kuswik, F. Stobiecki, J. Barnaś, T. STOBIECKI
    ŹródłoICM 2018 [Dokument elektroniczny] : 21textsuperscript{st} International Conference on Magnetism : July 15-20, 2018, San Francisco : book of abstracts. — [San Francisco : s. n.], [2018]. — S. 269 [H11-09]
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

13
  • [referat, 2008]
  • TytułAntiferromagnetic coupling in CoFeB/Ru/CoFeB prepared by sputtering and ion beam deposition
    AutorzyA. ZALESKI, M. CZAPKIEWICZ, J. KANAK, P. WIŚNIOWSKI, W. POWROŹNIK, T. STOBIECKI, S. Cardoso, P. P. Freitas
    ŹródłoWorkshop on Spin momentum transfer : Kraków 3–5 September 2008 Poland : book of abstracts / eds. Piotr Mietniowski, Zbigniew Szklarski. — Kraków : AGH University of Science and Technology. Department of Electronics, 2008. — S. 37
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

14
15
  • [referat, 2007]
  • TytułApplication of Grazing Incidence X-Ray Analysis (GIXA) for multilayer systems
    AutorzyPiotr MIETNIOWSKI, Wiesław POWROŹNIK, Jarosław KANAK, Tomasz STOBIECKI, Piotr Kuświk
    ŹródłoELTE 2007 : IX electron technology conference : Kraków 4–7.09.2007 : book of abstracts / eds. Katarzyna Zakrzewska, Halina Czternastek, Barbara Swatowska, Michał Warzecha ; AGH University of Science and Technology. Faculty of Electrical Engineering, Automatics, Computer Science and Electronics. Department of Electronics. — Kraków : Przedsiębiorstwo Wielobranżowe STABIL, [2007]. — S. 74
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

16
  • [referat, 2006]
  • TytułApplication of position-sensitive silicon strip detector for X-ray diffraction of thin films and multilayers
    AutorzyPiotr MIETNIOWSKI, Wiesław POWROŹNIK, Jarosław KANAK, Piotr MAJ, Tomasz STOBIECKI, Paweł GRYBOŚ, Władysław DĄBROWSKI
    ŹródłoE-MRS 2006 fall meeting : Warsaw (Poland), 4th – 8th September, 2006 : scientific programme and book of abstracts / European Materials Research Society. — [Warsaw : Warsaw University of Technology], [2006]. — S. 48, Poster A/PII.28
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

17
  • [referat, 2007]
  • TytułApplication of silicon strip detector for X-ray diffraction on metallic multilayer systems
    AutorzyP. MIETNIOWSKI, J. KANAK, W. POWROŹNIK, T. STOBIECKI, P. MAJ, P. GRYBOŚ
    ŹródłoSOTAMA 2007 : 2textsuperscript{nd} symposium on Texture and microstructure analysis : Kraków, 26–28 September, 2007 : book of abstracts ; lectures and posters. — [Kraków : s. n.], [2007]. — S. 18–19
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

18
  • [referat w czasopiśmie, 2008]
  • TytułApplication of silicon strip detector for X-ray diffraction on metallic multilayers
    AutorzyP. MIETNIOWSKI, J. KANAK, W. POWROŹNIK, T. STOBIECKI, P. MAJ, P. GRYBOŚ
    ŹródłoArchives of Metallurgy and Materials / Polish Academy of Sciences. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science. — 2008 vol. 53 iss. 1 spec. iss., s. 75–81
  • keywords: texture, X-ray diffraction, multi-layers, strip detector of X-ray diffractometer

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

19
  • [referat w czasopiśmie, 2009]
  • TytułApplication of spin transfer torque in magnetic tunnel junction
    AutorzyT. STOBIECKI, W. SKOWROŃSKI, M. CZAPKIEWICZ, J. KANAK, J. WRONA, K. Rott, A. Thomas, G. Reiss, S. Van Dijken
    ŹródłoActa Physicae Superficierum. — 2009 vol. 11, s. 48–50
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

20
  • [referat, 2005]
  • TytułAsymmetric magnetization reversal in exchange-biased $Co/Pt$ multilayers
    AutorzySebastiaan van Dijken, M. ŻOŁĄDŹ, M. CZAPKIEWICZ, T. STOBIECKI
    ŹródłoPhysics of Magnetism'05 : the European conference : June 24–27, 2005, Poznań, Poland : abstracts / Adam Mickiewicz University. Faculty of Physics ; Polish Academy of Sciences. Institute of Molecular Physics. — Poznań : Polish Academy of Sciences. Institute of Molecular Physics, 2005. — S. 52
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

21
22
23
24
  • [referat, 2014]
  • TytułBackhopping in magnetic tunnel junctions – micromagnetic approach and experiment
    AutorzyM. FRANKOWSKI, M. CZAPKIEWICZ, W. SKOWROŃSKI, T. STOBIECKI
    ŹródłoINTERMAG Europe 2014 [Dokument elektroniczny] : IEEE International Magnetics Conference : Dresden, Germany, May 4–8, 2014 / IEEE. — [Piscataway : IEEE], [2014]. — S. 162–163
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

25
  • [referat, 2014]
  • TytułBadania struktury domenowej w układach multiferroicznych
    AutorzyJ. KANAK, S. ZIĘTEK, T. STOBIECKI, Q. H. Qin, S. J. Hämäläinen, S. van Dijken
    ŹródłoVIII Seminarium Badania prowadzone metodami skaningowej mikroskopii bliskich oddziaływań STM/AFM 2014 oraz III Szkoła skaningowej mikroskopii i spektroskopii bliskich oddziaływań SPM : Zakopane, 3–7 grudnia 2014. — Kraków : Centrum NANOSAM ; Instytut Fizyki Uniwersytetu Jagiellońskiego, [2014]. — S. 110
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: