Wykaz publikacji wybranego autora

Tomasz Stobiecki, prof. dr hab.

profesor zwyczajny

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne (50%)


  • 2020

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika (50%)


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-7380-2897 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 7004809636

PBN: 5e70922c878c28a0473911f7

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)



Statystyka obejmuje publikacje afiliowane AGH od 2008 roku włącznie

typ publikacji
rocznikl. publ.książkifragm.referatyartykułypatentymapyred. czas.inne
ogółem347112211186
2023321
20221082
2021624
20208422
201910451
201816853
201726188
201622193
201524177
201422193
201318126
201211155
201116151
201015105
200912102
20081266
200717125
200616106
2005972
200417413
20031239
20021376
2001633
200012165
199914104
język publikacji
rocznikrazempolskojęzyczneanglojęzycznepozostałe języki
ogółem34747300
2023312
20221028
202166
2020826
20191019
201816412
201726224
201622319
20152424
201422319
201318414
201211110
20111616
201015312
20091239
200812210
200717314
200616115
2005918
20041717
200312210
200213211
2001624
200012210
199914311
kraj wydania
rocznikrazempubl. krajowepubl. zagraniczne
ogółem347152195
2023321
20221028
2021624
2020826
20191037
201816610
201726917
201622418
201524915
2014221111
201318612
201211110
201116124
20101587
20091275
20081275
200717107
200616610
2005981
20041789
20031248
20021367
2001642
20001293
19991468
Lista Filadelfijska
rocznikrazempubl. z LFpubl. pozostałe
ogółem34790257
2023312
20221028
2021642
2020826
20191055
201816511
201726818
201622319
201524717
201422319
201318612
20121147
201116115
201015312
200912111
20081257
200717314
200616511
2005927
200417710
200312111
20021358
200166
20001239
199914410
punktacja MNiSW
rocznikrazempubl. z pkt. MNiSWpubl. pozostałe
ogółem34779268
2023312
20221028
2021642
2020835
20191064
201816610
201726818
201622517
201524717
201422319
201318612
20121165
201116115
201015510
200912210
20081266
200717512
200616214
200599
20041717
20031212
20021313
200166
200012111
19991414
publikacje recenzowane
rocznikrazempubl. recenzowanepubl. nierecenzowane
ogółem347133214
2023321
20221028
202166
2020835
20191082
20181679
2017261016
201622517
2015241113
201422319
201318612
20121165
201116115
201015510
200912210
20081284
200717512
20061679
2005927
20041798
20031284
20021367
2001624
20001257
199914410



1
  • 128 [Hundred twenty eight]-channel silicon strip detector implemented in a powder diffractometer
2
  • 128-channel silicon strip detector installed at a powder diffractometer
3
  • 1/f magnetic noise in MgO/CoFeB based sensors with voltage controlled perpendicular anisotropy
4
5
  • $^{59}Co$ NMR analysis of $CoFeB-MgO$ based magnetic tunnel junctions
6
  • $^{59}Co$ NMR analysis of $CoFeB-MgO$ based magnetic tunnel junctions
7
  • Analiza lokalnych prądów tunelowych w magnetycznym złączu tunelowym z wykorzystaniem mikroskopu C-AFM
8
  • Analiza strukturalna wielowarstw na przykładzie magnetycznych złącz tunelowych
9
  • Analiza wpływu warstw buforowych na szorstkość i własności magnetyczne złącz tunelowych z użyciem mikroskopii AFM oraz MFM
10
  • Angular harmonic Hall voltage and magnetoresistance measurements of Pt/FeCoB and Pt-Ti/FeCoB bilayers for spin Hall conductivity determination
11
  • Anisotropic residual stresses in sputtered $TiN$ films prepared by linear periodic motion
12
  • Anomalous behavior of field-like torque in metallic trilayers: theory and experiment
13
  • Antiferromagnetic coupling in CoFeB/Ru/CoFeB prepared by sputtering and ion beam deposition
14
  • Antiferromagnetic nano-oscillator in external magnetic fields
15
  • Application of Grazing Incidence X-Ray Analysis (GIXA) for multilayer systems
16
  • Application of position-sensitive silicon strip detector for X-ray diffraction of thin films and multilayers
17
  • Application of silicon strip detector for X-ray diffraction on metallic multilayer systems
18
  • Application of silicon strip detector for X-ray diffraction on metallic multilayers
19
  • Application of spin transfer torque in magnetic tunnel junction
20
  • Asymmetric magnetization reversal in exchange-biased $Co/Pt$ multilayers
21
  • Asymmetric magnetization reversal in exchange-biased $Co/Pt$ multilayers
22
  • Backhopping effect in magnetic tunnel junctions: comparison between theory and experiment
23
24
  • Backhopping in magnetic tunnel junctions – micromagnetic approach and experiment
25
  • Badania struktury domenowej w układach multiferroicznych