Wykaz publikacji wybranego autora

Tomasz Stobiecki, prof. dr hab.

profesor zwyczajny

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne (50%)


  • 2020

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika (50%)


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-7380-2897 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 7004809636

PBN: 5e70922c878c28a0473911f7

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • [referat, 2014]
  • TytułAnaliza wpływu warstw buforowych na szorstkość i własności magnetyczne złącz tunelowych z użyciem mikroskopii AFM oraz MFM
    AutorzyM. BANASIK, J. KANAK, A. ŻYWCZAK, S. ZIĘTEK, W. SKOWROŃSKI, W. POWROŹNIK, J. WRONA, T. STOBIECKI
    ŹródłoVIII Seminarium Badania prowadzone metodami skaningowej mikroskopii bliskich oddziaływań STM/AFM 2014 oraz III Szkoła skaningowej mikroskopii i spektroskopii bliskich oddziaływań SPM : Zakopane, 3–7 grudnia 2014. — Kraków : Centrum NANOSAM ; Instytut Fizyki Uniwersytetu Jagiellońskiego, [2014]. — S. 111
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • [referat, 2014]
  • TytułBadania struktury domenowej w układach multiferroicznych
    AutorzyJ. KANAK, S. ZIĘTEK, T. STOBIECKI, Q. H. Qin, S. J. Hämäläinen, S. van Dijken
    ŹródłoVIII Seminarium Badania prowadzone metodami skaningowej mikroskopii bliskich oddziaływań STM/AFM 2014 oraz III Szkoła skaningowej mikroskopii i spektroskopii bliskich oddziaływań SPM : Zakopane, 3–7 grudnia 2014. — Kraków : Centrum NANOSAM ; Instytut Fizyki Uniwersytetu Jagiellońskiego, [2014]. — S. 110
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • [referat, 2014]
  • TytułPrzegląd badań AFM/MFM nanoelementów elektroniki spinowej
    AutorzyJ. KANAK, M. BANASIK, S. ZIĘTEK, A. ŻYWCZAK, T. STOBIECKI, S. van Dijken
    ŹródłoVIII Seminarium Badania prowadzone metodami skaningowej mikroskopii bliskich oddziaływań STM/AFM 2014 oraz III Szkoła skaningowej mikroskopii i spektroskopii bliskich oddziaływań SPM : Zakopane, 3–7 grudnia 2014. — Kraków : Centrum NANOSAM ; Instytut Fizyki Uniwersytetu Jagiellońskiego, [2014]. — S. 34
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: