Wykaz publikacji wybranego autora

Tomasz Stobiecki, prof. dr hab.

profesor zwyczajny

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne (50%)


  • 2020

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika (50%)


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-7380-2897 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 7004809636

PBN: 5e70922c878c28a0473911f7

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • [artykuł w czasopiśmie, 2008]
  • TytułInfluence of interface roughness, film texture, and magnetic anisotropy on exchange bias in $[Pt/Co]_{3}/IrMn$ and $IrMn/[Co/Pt]_{3}$ multilayers
    AutorzyJarosław KANAK, Tomasz STOBIECKI, Sebastiaan van Dijken
    ŹródłoIEEE Transactions on Magnetics. — 2008 vol. 44 no. 2, s. 238–245
  • keywords: magnetic anisotropy, exchange bias, Co/Pt multilayer

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/TMAG.2007.909438

2
  • [referat, 2008]
  • TytułLow noise multichannel ASIC for readout of SSD used in diffraction for powder and multilayer samples
    AutorzyPiotr MAJ, Paweł GRYBOŚ, Robert SZCZYGIEŁ, Maciej KACHEL, Piotr KMON, Tomasz STOBIECKI
    ŹródłoIUCr 2008 : XXI congress of the international union of crystallography : congress and general assembly : book of abstracts : Osaka 23–31 August 2008. — [Japan : s. n.], [2008]. — S. C184, P 01.07.43
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • [referat w czasopiśmie, 2008]
  • TytułStructural and tunneling properties of magnetic tunnel junctions with Al-O and MgO barrier
    AutorzyJ. KANAK, T. STOBIECKI, A. Thomas, J. Schmalhorst, G. Reiss
    ŹródłoVacuum : Surface Engineering, Surface Instrumentation & Vacuum Technology. — 2008 vol. 82 iss. 10 spec. iss., s. 1057–1061
  • keywords: texture, X-ray diffraction, MTJ, surface roughness, interface roughness, TMR

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.vacuum.2008.01.034

4
  • [referat, 2008]
  • TytułThe XRD analysis of pseudo and exchange bias spin valve of ${MgO}$ based magnetic tunnel junctions
    AutorzyJ. KANAK, P. WIŚNIOWSKI, A. ZALESKI, S. Cardoso, P. P. Freitas, T. STOBIECKI
    ŹródłoIntermag Europe 2008 : International Magnetic conference : Madrid, May 4 to May 8, 2008 / IEEE Magnetics Society. — [Madrid ; s. n., 2008. — S. 1484, HR-08
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5