Wykaz publikacji wybranego autora

Tomasz Stobiecki, prof. dr hab.

profesor zwyczajny

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne (50%)


  • 2020

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika (50%)


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-7380-2897 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 7004809636

PBN: 5e70922c878c28a0473911f7

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • [referat, 2008]
  • TytułAntiferromagnetic coupling in CoFeB/Ru/CoFeB prepared by sputtering and ion beam deposition
    AutorzyA. ZALESKI, M. CZAPKIEWICZ, J. KANAK, P. WIŚNIOWSKI, W. POWROŹNIK, T. STOBIECKI, S. Cardoso, P. P. Freitas
    ŹródłoWorkshop on Spin momentum transfer : Kraków 3–5 September 2008 Poland : book of abstracts / eds. Piotr Mietniowski, Zbigniew Szklarski. — Kraków : AGH University of Science and Technology. Department of Electronics, 2008. — S. 37
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • [referat w czasopiśmie, 2008]
  • TytułApplication of silicon strip detector for X-ray diffraction on metallic multilayers
    AutorzyP. MIETNIOWSKI, J. KANAK, W. POWROŹNIK, T. STOBIECKI, P. MAJ, P. GRYBOŚ
    ŹródłoArchives of Metallurgy and Materials / Polish Academy of Sciences. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science. — 2008 vol. 53 iss. 1 spec. iss., s. 75–81
  • keywords: texture, X-ray diffraction, multi-layers, strip detector of X-ray diffractometer

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • [referat, 2008]
  • TytułCrystallization of CoFeB electrodes in magnetic tunnel junctions
    AutorzyJ. KANAK, P. WIŚNIOWSKI, A. ZALESKI, W. POWROŹNIK, M. CZAPKIEWICZ, S. Cardoso, P. P. Freitas, T. STOBIECKI
    ŹródłoWorkshop on Spin momentum transfer : Kraków 3–5 September 2008 Poland : book of abstracts / eds. Piotr Mietniowski, Zbigniew Szklarski. — Kraków : AGH University of Science and Technology. Department of Electronics, 2008. — S. 38
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • [referat, 2008]
  • TytułInfluence of annealing on crystallization and magnetic properties of spin valve ${MgO}$ based tunnel magnetoresistance junctions
    AutorzyA. ZALESKI, J. KANAK, P. WIŚNIOWSKI, M. CZAPKIEWICZ, T. STOBIECKI, W. POWROŹNIK, M. ŻOŁĄDŹ, S. Cardoso, P. P. Freitas
    ŹródłoPHYSICS OF MAGNETISM 2008 : the European conference : June 24–27, 2008, Poznań, Poland : abstracts / eds. F. Stobiecki [et al.] ; Polish Academy of Sciences. Institute of Molecular Physics, Adam Mickiewicz University. Faculty of Physics. — Poznań : IMP PAS, 2008. — S. 120, P-4-25
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
6
  • [referat, 2008]
  • TytułUkład do pomiaru magnetycznych złącz tunelowych
    AutorzyW. Skowroński, M. ŻOŁĄDŹ, P. WIŚNIOWSKI, T. STOBIECKI
    ŹródłoII Krajowa konferencja nanotechnologii : Kraków, 25–28 czerwca 2008 : książka streszczeń. — [Kraków : Centrum Badań Układów Nanoskopowych i Zaawansowanych Materiałów, NANOSAM, Uniwersytetu Jagiellońskiego], [2008]. — S. [1]
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
  • [artykuł w czasopiśmie, 2008]
  • TytułZastosowanie niskokątowej analizy promieniowania X (GIXA) do badań układów cienkowarstwowych
    AutorzyPiotr Mietniowski, Wiesław POWROŹNIK, Jarosław KANAK, Tomasz STOBIECKI, Piotr Kuświk
    ŹródłoElektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania (Warszawa). — 2008 R. 49 nr 1, s. 48–51
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: