Wykaz publikacji wybranego autora

Tomasz Stobiecki, prof. dr hab.

profesor zwyczajny

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne (50%)


  • 2020

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika (50%)


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-7380-2897 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 7004809636

PBN: 5e70922c878c28a0473911f7

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Backhopping effect in magnetic tunnel junctions: comparison between theory and experiment / Witold SKOWROŃSKI, Piotr Ogrodnik, Jerzy WRONA, Tomasz STOBIECKI, Renata Świrkowicz, Józef Barnaś, Günter Reiss, Sebastiaan van Dijken // Journal of Applied Physics ; ISSN 0021-8979. — 2013 vol. 114 iss. 23, s. 233905-1–233905-6. — Bibliogr. s. 233905-6. — Publikacja dostępna online od: 2013-12-17. — tekst: https://aip.scitation.org/doi/pdf/10.1063/1.4843635

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1063/1.4843635

2
  • Influence of MgO tunnel barrier thickness on spin-transfer ferromagnetic resonance and torque in magnetic tunnel junctions / Witold SKOWROŃSKI, Maciej CZAPKIEWICZ, Marek FRANKOWSKI, Jerzy WRONA, Tomasz STOBIECKI, Günter Reiss, Khattiya Chalapat, Gheorghe S. Paraoanu, Sebastiaan van Dijken // Physical Review. B, Condensed Matter and Materials Physics ; ISSN 1098-0121. — Tytuł poprz.: Physical Review B : Condensed Matter. — 2013 vol. 87 iss. 9, s. 094419-1–094419-5. — Bibliogr. s. 094419-5. — tekst: http://prb.aps.org/pdf/PRB/v87/i9/e094419

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1103/PhysRevB.87.094419

3
  • Research into the relationship between the surface topography, texture and mechanical properties of PVD-Cu/Ni multilayers / B. Kucharska, E. Kulej, G. Pyka, J. KANAK, T. STOBIECKI // Materials Science Poland ; ISSN 2083-1331. — Tytuł poprz.: Materials Science (Poland) ; ISSN: 0137-1339. — 2013 vol. 31 no. 1, s. 1–7. — Bibliogr. s. 7. — Publikacja była prezentowana podczas 12th Seminar on Surface and Thin-Film-Structures (SemiPiSC), Szklarska Poręba 2012. — tekst: http://link.springer.com/content/pdf/10.2478%2Fs13536-012-0078-0.pdf

  • keywords: atomic force microscopy, texture, X-ray diffraction, Cu/Ni multilayers, thermal stability

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.2478/s13536-012-0078-0

4
5
6