Wykaz publikacji wybranego autora

Tomasz Stobiecki, prof. dr hab.

profesor zwyczajny

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kfc, Katedra Fizyki Ciała Stałego

[dyscyplina wiodąca] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-7380-2897

ResearcherID: brak

Scopus: 7004809636

PBN: 909852

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Antiferromagnetic coupling in CoFeB/Ru/CoFeB prepared by sputtering and ion beam deposition / A. ZALESKI, M. CZAPKIEWICZ, J. KANAK, P. WIŚNIOWSKI, W. POWROŹNIK, T. STOBIECKI, S. Cardoso, P. P. Freitas // W: Workshop on Spin momentum transfer : Kraków 3–5 September 2008 Poland : book of abstracts / eds. Piotr Mietniowski, Zbigniew Szklarski. — Kraków : AGH University of Science and Technology. Department of Electronics, 2008. — S. 37

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Application of silicon strip detector for X-ray diffraction on metallic multilayersZastosowanie krzemowego detektora paskowego do badań dyfrakcyjnych metalicznych układów wielowarstwowych / P. MIETNIOWSKI, J. KANAK, W. POWROŹNIK, T. STOBIECKI, P. MAJ, P. GRYBOŚ // Archives of Metallurgy and Materials / Polish Academy of Sciences. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science ; ISSN 1733-3490. — 2008 vol. 53 iss. 1 spec. iss., s. 75–81. — Bibliogr. s. 81. — Zastosowano procedurę peer review. — SOTAMA : symposium on Texture and microstructure analysis : September 26–28, 2007, Cracow, Poland / guest eds. Jerzy Jura, Ewa Bełtowska, Jan T. Bonarski ; Institute of Metallurgy and Materials Science of the Polish Academy of Sciences, Cracow. — Warszawa ; Kraków : PAS. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science, 2008

  • keywords: texture, X-ray diffraction, multilayers, strip detector of X-ray diffractometer

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • Crystallization of CoFeB electrodes in magnetic tunnel junctions / J. KANAK, P. WIŚNIOWSKI, A. ZALESKI, W. POWROŹNIK, M. CZAPKIEWICZ, S. Cardoso, P. P. Freitas, T. STOBIECKI // W: Workshop on Spin momentum transfer : Kraków 3–5 September 2008 Poland : book of abstracts / eds. Piotr Mietniowski, Zbigniew Szklarski. — Kraków : AGH University of Science and Technology. Department of Electronics, 2008. — S. 38

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • Influence of annealing on crystallization and magnetic properties of spin valve ${MgO}$ based tunnel magnetoresistance junctions / A. ZALESKI, J. KANAK, P. WIŚNIOWSKI, M. CZAPKIEWICZ, T. STOBIECKI, W. POWROŹNIK, M. ŻOŁĄDŹ, S. Cardoso, P. P. Freitas // W: PHYSICS OF MAGNETISM 2008 : the European conference : June 24–27, 2008, Poznań, Poland : abstracts / eds. F. Stobiecki [et al.] ; Polish Academy of Sciences. Institute of Molecular Physics, Adam Mickiewicz University. Faculty of Physics. — Poznań : IMP PAS, 2008. — ISBN10: 83-922407-5-8. — S. 120, P-4-25

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
  • Influence of interface roughness, film texture, and magnetic anisotropy on exchange bias in $[Pt/Co]_{3}/IrMn$ and $IrMn/[Co/Pt]_{3}$ multilayers / Jarosław KANAK, Tomasz STOBIECKI, Sebastiaan van Dijken // IEEE Transactions on Magnetics ; ISSN 0018-9464. — 2008 vol. 44 no. 2, s. 238–245. — Bibliogr. s. 244–245

  • keywords: magnetic anisotropy, exchange bias, Co/Pt multilayer

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/TMAG.2007.909438

6
  • Low noise multichannel ASIC for readout of SSD used in diffraction for powder and multilayer samples / Piotr MAJ, Paweł GRYBOŚ, Robert SZCZYGIEŁ, Maciej KACHEL, Piotr KMON, Tomasz STOBIECKI // W: IUCr 2008 : XXI congress of the international union of crystallography : congress and general assembly : book of abstracts : Osaka 23–31 August 2008. — [Japan : s. n.], [2008] + CD-ROM. — S. C184, P 01.07.43

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
8
  • Structural and tunneling properties of magnetic tunnel junctions with Al-O and MgO barrier / J. KANAK, T. STOBIECKI, A. Thomas, J. Schmalhorst, G. Reiss // Vacuum : Surface Engineering, Surface Instrumentation & Vacuum Technology ; ISSN 0042-207X. — 2008 vol. 82 iss. 10 spec. iss., s. 1057–1061. — Bibliogr. s. 1061, Abstr.. — Zastosowano procedurę peer review. — Proceedings of the 9th Electron technology conference ELTE 2007 : Cracow, 4–7 September 2007 / guest eds. Tadeusz Pisarkiewicz, Barbara Dziurdzia. — [Dorchester] : Elsevier, 2008

  • keywords: texture, X-ray diffraction, MTJ, surface/interface roughness, TMR

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.vacuum.2008.01.034

9
10
  • The XRD analysis of pseudo and exchange bias spin valve of ${MgO}$ based magnetic tunnel junctions / J. KANAK, P. WIŚNIOWSKI, A. ZALESKI, S. Cardoso, P. P. Freitas, T. STOBIECKI // W: Intermag Europe 2008 : International Magnetic conference : Madrid, May 4 to May 8, 2008 / IEEE Magnetics Society. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Madrid ; s. n., 2008. — 1 dysk optyczny. — S. 1484, HR-08. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Brak afiliacji AGH dla P. Wiśniowski

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

11
  • Układ do pomiaru magnetycznych złącz tunelowych[System for measuring of magnetic tunnel junctions] / W. Skowroński, M. ŻOŁĄDŹ, P. WIŚNIOWSKI, T. STOBIECKI // W: II Krajowa konferencja nanotechnologii : Kraków, 25–28 czerwca 2008 : książka streszczeń. — [Kraków : Centrum Badań Układów Nanoskopowych i Zaawansowanych Materiałów, NANOSAM, Uniwersytetu Jagiellońskiego], [2008]. — S. [1]

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

12
  • Zastosowanie niskokątowej analizy promieniowania X (GIXA) do badań układów cienkowarstwowychApplication of grazing incidence X-ray analysis (GIXA) for multilayer systems / Piotr Mietniowski, Wiesław POWROŹNIK, Jarosław KANAK, Tomasz STOBIECKI, Piotr Kuświk // Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania (Warszawa) ; ISSN 0033-2089. — Tytuł poprz.: Przegląd Elektroniki. — 2008 R. 49 nr 1, s. 48–51. — Bibliogr. s. 51, Streszcz., Summ.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: