Wykaz publikacji wybranego autora

Tomasz Stobiecki, prof. dr hab.

profesor zwyczajny

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne (50%)


  • 2020

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika (50%)


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-7380-2897 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 7004809636

PBN: 5e70922c878c28a0473911f7

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Układ do pomiaru magnetycznych złącz tunelowych[System for measuring of magnetic tunnel junctions] / W. Skowroński, M. ŻOŁĄDŹ, P. WIŚNIOWSKI, T. STOBIECKI // W: II Krajowa konferencja nanotechnologii : Kraków, 25–28 czerwca 2008 : książka streszczeń. — [Kraków : Centrum Badań Układów Nanoskopowych i Zaawansowanych Materiałów, NANOSAM, Uniwersytetu Jagiellońskiego], [2008]. — S. [1]

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Zastosowanie niskokątowej analizy promieniowania X (GIXA) do badań układów cienkowarstwowychApplication of grazing incidence X-ray analysis (GIXA) for multilayer systems / Piotr Mietniowski, Wiesław POWROŹNIK, Jarosław KANAK, Tomasz STOBIECKI, Piotr Kuświk // Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania (Warszawa) ; ISSN 0033-2089. — Tytuł poprz.: Przegląd Elektroniki. — 2008 R. 49 nr 1, s. 48–51. — Bibliogr. s. 51, Streszcz., Summ.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: