Wykaz publikacji wybranego autora

Tomasz Stobiecki, prof. dr hab.

profesor zwyczajny

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kfc, Katedra Fizyki Ciała Stałego

[dyscyplina wiodąca] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-7380-2897

ResearcherID: brak

Scopus: 7004809636

PBN: 909852

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Application of silicon strip detector for X-ray diffraction on metallic multilayersZastosowanie krzemowego detektora paskowego do badań dyfrakcyjnych metalicznych układów wielowarstwowych / P. MIETNIOWSKI, J. KANAK, W. POWROŹNIK, T. STOBIECKI, P. MAJ, P. GRYBOŚ // Archives of Metallurgy and Materials / Polish Academy of Sciences. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science ; ISSN 1733-3490. — 2008 vol. 53 iss. 1 spec. iss., s. 75–81. — Bibliogr. s. 81. — Zastosowano procedurę peer review. — SOTAMA : symposium on Texture and microstructure analysis : September 26–28, 2007, Cracow, Poland / guest eds. Jerzy Jura, Ewa Bełtowska, Jan T. Bonarski ; Institute of Metallurgy and Materials Science of the Polish Academy of Sciences, Cracow. — Warszawa ; Kraków : PAS. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science, 2008

  • keywords: texture, X-ray diffraction, multilayers, strip detector of X-ray diffractometer

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Influence of interface roughness, film texture, and magnetic anisotropy on exchange bias in $[Pt/Co]_{3}/IrMn$ and $IrMn/[Co/Pt]_{3}$ multilayers / Jarosław KANAK, Tomasz STOBIECKI, Sebastiaan van Dijken // IEEE Transactions on Magnetics ; ISSN 0018-9464. — 2008 vol. 44 no. 2, s. 238–245. — Bibliogr. s. 244–245

  • keywords: magnetic anisotropy, exchange bias, Co/Pt multilayer

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/TMAG.2007.909438

3
4
  • Structural and tunneling properties of magnetic tunnel junctions with Al-O and MgO barrier / J. KANAK, T. STOBIECKI, A. Thomas, J. Schmalhorst, G. Reiss // Vacuum : Surface Engineering, Surface Instrumentation & Vacuum Technology ; ISSN 0042-207X. — 2008 vol. 82 iss. 10 spec. iss., s. 1057–1061. — Bibliogr. s. 1061, Abstr.. — Zastosowano procedurę peer review. — Proceedings of the 9th Electron technology conference ELTE 2007 : Cracow, 4–7 September 2007 / guest eds. Tadeusz Pisarkiewicz, Barbara Dziurdzia. — [Dorchester] : Elsevier, 2008

  • keywords: texture, X-ray diffraction, MTJ, surface/interface roughness, TMR

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.vacuum.2008.01.034

5
6
  • Zastosowanie niskokątowej analizy promieniowania X (GIXA) do badań układów cienkowarstwowychApplication of grazing incidence X-ray analysis (GIXA) for multilayer systems / Piotr Mietniowski, Wiesław POWROŹNIK, Jarosław KANAK, Tomasz STOBIECKI, Piotr Kuświk // Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania (Warszawa) ; ISSN 0033-2089. — Tytuł poprz.: Przegląd Elektroniki. — 2008 R. 49 nr 1, s. 48–51. — Bibliogr. s. 51, Streszcz., Summ.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: