Wykaz publikacji wybranego autora

Mariusz Sokołowski, dr inż.

adiunkt

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-4028-1463 połącz konto z ORCID

ResearcherID: brak

Scopus: 57196694309

PBN: 5e70922c878c28a0473911ee

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Optical and microstructural properties of graded porous silicon layerOptyczne i mikrostrukturalne własności gradientowej warstwy z porowatego krzemu / M. Lipiński, H. CZTERNASTEK, M. SOKOŁOWSKI, P. Panek // Archives of Metallurgy and Materials / Polish Academy of Sciences. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science ; ISSN 1733-3490. — 2005 vol. 50 iss. 2 spec. iss., s. 387–393. — Bibliogr. s. 393. — SOTAMA-FGM : Symposium on Texture and Microstructure Analysis of Functionally Graded Materials : October 3–7, 2004, Kraków, Poland. — tekst: http://www.imim.pl/files/archiwum/Vol2_2005/nr_2_2005%2012.pdf

  • słowa kluczowe: porowaty krzem, warstwa przeciwodblaskowa

    keywords: porous silicon, antireflection coating, graded layer

    cyfrowy identyfikator dokumentu: