Wykaz publikacji wybranego autora

Maria Sapor, dr inż.

adiunkt

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: 8716061500

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1

  • Radiation damage in transistors fabricated with lapis semiconductor 200 nm FD-SOI technology / S. GŁĄB, [et al.], M. BASZCZYK, Sz. Bugiel, R. Dasgupta, P. DOROSZ, M. IDZIK, [et al.], W. KUCEWICZ, [et al.], Ł. MIK, [et al.], M. SAPOR, [et al.] // W: 2014 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC) [Dokument elektroniczny] : 8–15 Nov. 2014, [Seattle, USA]. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Piscataway : IEEE], [2014]. — e-ISBN: 978-1-4799-6097-2. — S. [1–3]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. [3], Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2016-03-14. — tekst: https://goo.gl/qBuhGX

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Wojciech Kucewicz, Marek Idzik, Sebastian Głąb, Mateusz Baszczyk, Piotr Dorosz, Łukasz Mik

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/NSSMIC.2014.7431063