Analiza strukturalna wielowarstw na przykładzie magnetycznych złącz tunelowych — [Structure analysis of magnetic tunnel junction multilayers] / Jarosław KANAK, Tomasz STOBIECKI, Piotr WIŚNIOWSKI, Wiesław POWROŹNIK // W: NANO 2009 : III krajowa konferencja nanotechnologii : Warszawa, 22–26 czerwca 2009 r. : streszczenia / red. Janusz Kaniewski. — [Warszawa : s. n.], [2009]. — ISBN: 978-83-914179-7-3. — S. 56

Analiza wpływu warstw buforowych na szorstkość i własności magnetyczne złącz tunelowych z użyciem mikroskopii AFM oraz MFM — [Buffer layers influence on surface topography and magnetization properties of magnetic tunnel junctions] / M. BANASIK, J. KANAK, A. ŻYWCZAK, S. ZIĘTEK, W. SKOWROŃSKI, W. POWROŹNIK, J. WRONA, T. STOBIECKI // W: VIII Seminarium Badania prowadzone metodami skaningowej mikroskopii bliskich oddziaływań STM/AFM 2014 oraz III Szkoła skaningowej mikroskopii i spektroskopii bliskich oddziaływań SPM : Zakopane, 3–7 grudnia 2014. — Kraków : Centrum NANOSAM ; Instytut Fizyki Uniwersytetu Jagiellońskiego, [2014]. — Na okładce tytuł: Seminarium STM/AFM : streszczenia. — S. 111. — Bibliogr. s. 111. — Afiliacja autorów: Akademia Górniczo-Hutnicza ; J. Wrona - dod. afiliacja: Singulus Technologies AG, Kahl am Main, Germany

Cienkowarstwowe stopy Cu-In wytwarzane technologią impulsowego rozpylania magnetronowego — Thin film Cu-In alloys manufactured by pulse magnetron sputtering / Tadeusz PISARKIEWICZ, Henryk JANKOWSKI, Wiesław POWROŹNIK, Cezary WOREK // Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania (Warszawa) ; ISSN 0033-2089. — Tytuł poprz.: Przegląd Elektroniki. — 2002 R. 43 nr 3, s. 18–20. — Bibliogr. s. 20, Streszcz., Summ.

Co nowego w spintronice? — [What's new in spintronics?] / Tomasz STOBIECKI, Witold SKOWROŃSKI, Maciej CZAPKIEWICZ, Jarosław KANAK, Marek FRANKOWSKI, Piotr MIETNIOWSKI, Wiesław POWROŹNIK, Zbigniew SZKLARSKI, Piotr WIŚNIOWSKI, Jerzy WRONA, Antoni ŻYWCZAK // W: Nano 2013 [Dokument elektroniczny] : VI krajowa konferencja nanotechnologii = VI Polish conference on Nanotechnology : Szczecin, 9–12 lipca 2013 / oprac. edytorskie Krzysztof Lubkowski ; Zachodniopomorski Uniwersytet Technologiczny w Szczecinie. Instytut Technologii Chemicznej Nieorganicznej i Inżynierii Środowiska. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Szczecin : Przedsiębiorstwo Produkcyjno-Handlowe ZAPOL Dmochowski, Sobczyk, Sp. J., [2013]. — Dysk Flash. — e-ISBN: 978-83-7518-571-3. — S. 31. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 31. — Tyt. przejęto ze s. tytułowej. — Afiliacja autorów: Akademia Górniczo-Hutnicza

Elektronika spinowa — Spin electronics / Tomasz STOBIECKI, Maciej CZAPKIEWICZ, Jarosław KANAK, Piotr MIETNIOWSKI, Wiesław POWROŹNIK, Witold SKOWROŃSKI, Zbigniew SZKLARSKI, Piotr WIŚNIOWSKI, Jerzy WRONA, Aliaksandr ZALESKI // W: Kierunki działalności i współpraca naukowa Wydziału Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki : materiały konferencji zorganizowanej z okazji Jubileuszu 90-lecia AGH : Kraków, 28–29 maja 2009 / komitet red. Wojciech Mitkowski, Adam Piłat. — Kraków : AGH WEAIiE, cop. 2009 + CD. — ISBN: 978-83-88309-87. — S. 85–86. — Bibliogr. s. 86, Streszcz., Abstr.

Krzemowy detektor paskowy promieniowania X i jego zastosowania w dyfraktometrii — [Silicon strip detector of X-ray radiation and its applications in diffraction measurements] / Andrzej ZIĘBA, Władysław DĄBROWSKI, Paweł GRYBOŚ, Wiesław POWROŹNIK, Jacek SŁOWIK, Tomasz STOBIECKI, Krzysztof ŚWIENTEK, Piotr WIĄCEK // W: XLIV Konwersatorium krystalograficzne : Wrocław, 27–28 VI 2002 = 44\textsuperscript{th} Polish crystallographic meeting. — [Polska : s. n], 2002. — S. 29–30, 0-18. — Bibliogr. s. 30

Przykłady wykorzystania pozycjo-czułego krzemowego detektora paskowego do badań dyfrakcyjnych układów wielowarstwowych — [Examples of application position-sensitive silicon strip detector for diffraction on multilayers] / Piotr MIETNIOWSKI, Wiesław POWROŹNIK, Jarosław KANAK, Piotr MAJ, Paweł GRYBOŚ, Tomasz STOBIECKI // W: I Krajowa konferencja nanotechnologii : 26–28 kwietnia 2007 Wrocław : książka streszczeń / Politechnika Wrocławska. — [Wrocław : PWr], [2007]. — Opis częśc. wg okł.. — S. 102

Spin Orbit Torqe w hybrydowych układach metal ciężki/ferromagnetyk/antyferromagnetyk — [Spin Orbit Torque in hybrid heavy metal/ferromagnet/antiferromagnet systems] / Krzysztof GROCHOT, Łukasz Karwacki, Stanisław ŁAZARSKI, Witold SKOWROŃSKI, Jarosław KANAK, Wiesław POWROŹNIK, Piotr Kuświk, Mateusz Kowacz, Feliks Stobiecki, Tomasz STOBIECKI // W: NANO 2022 [Dokument elektroniczny] : X krajowa konferencja Nanotechnologii : Kraków, 3-8 lipca 2022, Polska : książka streszczeń / red. Benedykt R. Jany, Piotr Piątkowski, Franciszek Krok. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Kraków : Wydział Fizyki, Astronomii i Informatyki Stosowanej Uniwersytet Jagielloński, cop. 2022. — S. 76. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: https://nanosam.pl/nanotechnologia2022/resources/KKNanoAbst2022_v6_Online.pdf [2022-10-05]. — K. Grochot, T. Stobiecki - dod. afiliacja: WFiIS. — K. Grochot, S. Łazarski, W. Skowroński, J. Kanak, W. Powroźnik, T. Stobiecki - afiliacja: Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie

Tekstura magnetycznych złącz tunelowych z barierą ${MgO}$ — [Texture of magnetic tunnel junctions with ${MgO}$ barrier] / Jarosław KANAK, Tomasz STOBIECKI, Wiesław POWROŹNIK, Jerzy WRONA, Maciej Kachel, Piotr Wiśniowski // W: I Krajowa konferencja nanotechnologii : 26–28 kwietnia 2007 Wrocław : książka streszczeń / Politechnika Wrocławska. — [Wrocław : PWr], [2007]. — Opis częśc. wg okł.. — S. 139

Właściwości optyczne i strukturalne cienkich warstw ZnO i AZO otrzymywanych metodą ALD na podłożu krzemowym : [abstrakt] — [Optical and structural properties of ZnO and AZO thin films obtained on silicon substrate by ALD method : abstract] / Barbara SWATOWSKA, Tomasz STAPIŃSKI, Wiesław POWROŹNIK, Rafał Pietruszka, Bartłomiej S. Witkowski, Marek Godlewski, Gabriela Lewińska // W: XVI KKE [Dokument elektroniczny] : Krajowa Konferencja Elektroniki : Darłowo, 05–09.06.2017 : materiały konferencyjne / Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Koszalin : s. n.], [2017]. — Dysk Flash. — S. 386. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — G. Lewińska – afiliacja: Politechnika Krakowska

Zastosowanie niskokątowej analizy promieniowania X (GIXA) do badań układów cienkowarstwowych — Application of grazing incidence X-ray analysis (GIXA) for multilayer systems / Piotr Mietniowski, Wiesław POWROŹNIK, Jarosław KANAK, Tomasz STOBIECKI, Piotr Kuświk // Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania (Warszawa) ; ISSN 0033-2089. — Tytuł poprz.: Przegląd Elektroniki. — 2008 R. 49 nr 1, s. 48–51. — Bibliogr. s. 51, Streszcz., Summ.