Wykaz publikacji wybranego autora

Stanisław Nowak, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

* Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki
WEAIiE-ke, * Katedra Elektroniki


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak

OPI Nauka Polska




1
  • Sposób pomiaru deformacji części składowych woskowego zestawu modelowego i układ do pomiaru deformacji części składowych woskowego zestawu modelowego[Method for measuring deformation of a wax pattern component parts and the system for measuring deformation of a wax pattern component parts] / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie ; wynalazca: ŻABA Krzysztof, NOWAK Stanisław, KWIATKOWSKI Michał, NOWOSIELSKI Maciej, KITA Paweł. — Int.Cl.: G01B 11/00\textsuperscript{(2006.01)}. — Polska. — Opis zgłoszeniowy wynalazku ; PL 411049 A1 ; Opubl. 2016-08-01. — Zgłosz. nr P.411049 z dn. 2015-01-23 // Biuletyn Urzędu Patentowego ; ISSN 0137-8015 ; 2016  nr 16, s. 33-34. — tekst: http://patenty.bg.agh.edu.pl/pelneteksty/PL411049A1.pdf

  • słowa kluczowe: deformacja, pomiar, odlewanie precyzyjne, woskowy model odlewniczy, woskowy zestaw modelowy, ceramiczna forma odlewnicza, skanowanie 3D

    keywords: deformation, measurement, investment casting, ceramic mould, wax pattern, 3D scanning, wax assembly

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Sposób pomiaru rozkładu grubości ścianki ceramicznej zamkniętej formy odlewniczej i układ do pomiaru rozkładu grubości ścianki ceramicznej zamkniętej formy odlewniczej[Method for measuring distribution of the closed foundry mould ceramic wall thicknesses and the system for measuring distribution of the closed foundry mould ceramic wall thicknesses] / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie ; wynalazca: ŻABA Krzysztof, NOWAK Stanisław, KWIATKOWSKI Michał, NOWOSIELSKI Maciej, KITA Paweł. — Int.Cl.: G01B 11/00\textsuperscript{(2006.01)}. — Polska. — Opis zgłoszeniowy wynalazku ; PL 411050 A1 ; Opubl. 2016-08-01. — Zgłosz. nr P.411050 z dn. 2015-01-23 // Biuletyn Urzędu Patentowego ; ISSN 0137-8015 ; 2016  nr 16, s. 34. — tekst: http://patenty.bg.agh.edu.pl/pelneteksty/PL411050A1.pdf

  • słowa kluczowe: pomiar, odlewanie precyzyjne, woskowy model odlewniczy, woskowy zestaw modelowy, ceramiczna forma odlewnicza, grubość ścianki, skanowanie 3D

    keywords: measurement, investment casting, ceramic mould, wax pattern, wall thickness, 3D scanning, wax assembly

    cyfrowy identyfikator dokumentu: