Wykaz publikacji wybranego autora

Stanisław Nowak, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

* Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki
WEAIiE-ke, Katedra Elektroniki


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak

OPI Nauka Polska



Statystyka obejmuje publikacje afiliowane AGH od 2008 roku włącznie

typ publikacji
rocznikl. publ.książkifragm.referatyartykułypatentymapyred. czas.inne
ogółem191333
201622
201411
201111
200711
2003321
200211101
język publikacji
rocznikrazempolskojęzyczneanglojęzycznepozostałe języki
ogółem19910
201622
201411
201111
200711
2003312
20021147
kraj wydania
rocznikrazempubl. krajowepubl. zagraniczne
ogółem19163
201622
201411
201111
200711
200333
20021192
Lista Filadelfijska
rocznikrazempubl. z LFpubl. pozostałe
ogółem19118
201622
201411
201111
200711
2003312
20021111
punktacja MNiSW
rocznikrazempubl. z pkt. MNiSWpubl. pozostałe
ogółem19415
201622
201411
201111
200711
200333
20021111
publikacje recenzowane
rocznikrazempubl. recenzowanepubl. nierecenzowane
ogółem19217
201622
201411
201111
200711
2003312
20021111

Opisy publikacji wcześniejszych zobacz: bpp.agh.edu.pl/old.



1
  • Badania korozji atmosferycznej drutów na przewody ze stopów AlMgSiInvestigations of the atmospheric corrosion of wires made of AlMgSi / A. MARASZEWSKA, S. NOWAK, Z. SIERPIŃSKI, T. KNYCH // Ochrona przed Korozją ; ISSN 0473-7733. — 2002 wyd. spec., s. 227–231. — Bibliogr. s. 231, Streszcz., Abstr.. — KOROZJA 2002 : „problemy nowego tysiąclecia” : VII [siódma] ogólnopolska konferencja = the 7th Polish corrosion conference : 260 impreza Europejskiej Federacji Korozji = 260st event of European Federation of Corrosion : Kraków, 17–21 czerwca 2002 : materiały konferencyjne = proceedings / pod red. Jacek Banaś, Robert Filipek, Zbigniew Żurek. — Warszawa : Wydawnictwo Czasopism i Książek Technicznych SIGMA-NOT, [2002]

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Carbon-polymer posistors heating layer on enamelled steel substrates / Łukasik Andrzej, NOWAK Stanisław, SIWULSKI Stanisław // W: IMAPS'2003 : 27-th international conference and exhibition IMAPS [International Microelectronics and Packaging Society]-Poland 2003 : 16–19 September, 2003 Podlesice–Gliwice, Poland : proceedings / eds. Maria Drelichowska [et al.] ; IMAPS. Poland-Chapter. — [Gliwice : Silesian University of Technology], [2003]. — S. 207–210. — Bibliogr. s. 210, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • Elektronika dziś i jutro[Today and tomorrow of electronics] / Stanisław NOWAK // W: Współczesne kierunki rozwoju elektrotechniki, automatyki, informatyki, elektroniki i telekomunikacji : materiały międzynarodowej konferencji zorganizowanej z okazji Jubileuszu 50-lecia Wydziału EAIiE : Kraków, 7–8 czerwca 2002 / kom. red. Tomasz Zieliński, Dariusz Borkowski ; AGH WEAIiE. — [Kraków : WEAIiE], 2002. — Na k. tyt. dodatkowo: Złoty Jubileusz Wydziału Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki Akademii Górniczo-Hutniczej im. Stanisława Staszica w Krakowie. — S. 91–94. — Bibliogr. s. 94

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • HF PRO: program do symulacji propagacji fal radiowych w paśmie HF[HF PRO: a software for simulation of the radio waves in the band] / Janusz MŁYNARCZYK, Julien Caratori, Stanisław NOWAK // W: URSI '02 : X [dziesiąte] Krajowe Sympozjum Nauk Radiowych : Poznań, 14–15 marca 2002 / Politechnika Poznańska. Instytut Elektroniki i Telekomunikacji. — [Poznań : PP IET], [2002]. — S. 87–92. — Bibliogr. s. 92, Streszcz.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
  • Improvement in silicon thin film solar cell efficiency / A. KOŁODZIEJ, P. KREWNIAK, S. NOWAK // Opto-Electronics Review / Stowarzyszenie Elektryków Polskich, Wojskowa Akademia Techniczna. Warszawa ; ISSN 1230-3402. — 2003 vol. 11 nr 4, s. 281–289. — Bibliogr. s. 289, Abstr.

  • keywords: RF PECVD, silicon thin film solar cells, hydrogenated amorphous silicon (a-Si:H), microcrystalline silicon, single-, tandem- and triple-junction solar cells

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6
  • Influence of double-side antireflection coatings and $ZnO/p^{+} a-Si:H/i a-Si:H$ film properties on $pin a-Si:H$ solar cells performance / Andrzej KOŁODZIEJ, Paweł KREWNIAK, Stanisław NOWAK, Edward LEJA // W: IMAPS Europe Cracow 2002 : European microelectronics packaging & interconnection symposium : 16–18 June 2002 Cracow, Poland : proceedings / eds. A. Dziedzic, L. J. Golonka ; International Microelectronics and Packaging Society. Poland Chapter. — [Poland] : IMAPS. Poland Chapter, 2002. — Na obwol. dod. : Symposium proceedings. — S. 358–361. — Bibliogr. s. 361, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
  • Influence of $ZnO/p^{+}a-Si:H$ microcrystallization and antireflection coatings on pin $a-Si:H$ solar cells performance / Andrzej KOŁODZIEJ, Paweł KREWNIAK, Stanisław NOWAK // W: MRS Materials Research Society 2002 [Dokument elektroniczny] : Amorphous and heterogeneous silicon-based films–2002. symposium A, 2002 spring meeting proceedings / eds. J. R. Abelson [et al.]. — [S. l. : MRS], [2002]. — (MRS Proceedings ; ISSN 1946-4274 ; vol. 715). — Ekran A6.7.1–A6.7.6. — Tryb dostępu: http://www.mrs.org/publications/epubs/proceedings/spring2002/a/ [2003-05-20]. — Bibliogr. ekran A6.7.6, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

8
  • Microwave resonant elements up to 20 GHZ manufactured in photoimageable thick-film technology / Barbara DZIURDZIA, Stanisław NOWAK, Michał Cież, Wojciech Gregorczyk // W: IMAPS Europe Cracow 2002 : European microelectronics packaging & interconnection symposium : 16–18 June 2002 Cracow, Poland : proceedings / eds. A. Dziedzic, L. J. Golonka ; International Microelectronics and Packaging Society. Poland Chapter. — [Poland] : IMAPS. Poland Chapter, 2002. — Na obwol. dod. : Symposium proceedings. — S. 409–414. — Bibliogr. s. 414, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

9
  • Mikrosystemy i sensoryMicrosystems and sensors / Lidia MAKSYMOWICZ, Stanisław NOWAK, Edward LEJA, Tadeusz PISARKIEWICZ, Tomasz STAPIŃSKI, Katarzyna ZAKRZEWSKA // Pomiary, Automatyka, Kontrola / Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich. Sekcja Metrologii, Polskie Stowarzyszenie Pomiarów Automatyki i Robotyki POLSPAR ; ISSN 0032-4140. — 2007 nr 3, s. 63–69. — Bibliogr. s. 68–69, Streszcz., Abstr.. — AGH 55 lat Wydziału Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

10
  • Operational risk assessment of failure to obtain the properties of thermal treatment of air aluminum alloys / Stanisław NOWAK, Bogusław ŚWIĄTEK, Krzysztof ŻABA, Adam Sury, Marek Wojtas, Marcin Głodzik, Daniel POCIECHA, Sandra Puchlerska // W: WCCM XI ; ECCM V ; ECFD VI [Dokument elektroniczny] : 11th World Congress on Computational Mechanics ; 5th European Conference on Computational Mechanics : 6th European Conference on Computational Fluid Dynamics : Barcelona, Spain, 20–25 July 2014. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Barcelona : International Center of Numerical Methods Engineering], 2014. — e-ISBN: 978-84-942844-7-2. — S. [1]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: http://www.wccm-eccm-ecfd2014.org/admin/files/fileabstract/a1418.pdf [2014-09-03]

  • keywords: neural networks, aluminum, variability problems

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

11
  • Photoimageable dielectric – processing, properties, compatibility with conventional thick film conductors / Barbara DZIURDZIA, Zbigniew MAGOŃSKI, Stanisław NOWAK, Michał Cież, Wojciech Gregorczyk // W: 20 [Twenty] years IMAPS Poland 1982–2002 : XXVI [twenty sixth] international conference of International Microelectronics and Packaging Society. Poland Chapter : Warsaw, 25–27 September 2002 : proceedings / ed. Ryszard Kisiel ; IMAPS. Poland Chapter. — [Poland : IMAPS. Poland Chapter], [2002]. — Opis częśc. wg okł. — S. 134–141. — Bibliogr. s. 141, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

12
  • Photo patterned thick-film resonators / Barbara DZIURDZIA, Stanisław NOWAK, Wojciech Gregorczyk, Michał Cież // W: MIKON-2002 : XIV [fourtheenth] international conference on Microwaves, radar and wireless communications : Gdańsk, Poland, May 20–22, 2002 : conference proceedings, Vol. 2 / Telecommunications Research Institute. — [Poland : TRI], [2002]. — Opis częśc. wg okł. — S. 467–471. — Bibliogr. s. 471, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

13
  • Properties of the $n^{+}/i$ and $p^{+}/i a-Si:H$ junctions and photovoltaic effectivenes of $p^{+}/i/\mu c-Si$ and $n^{+}/i/\mu c-Si$ structures / Andrzej KOŁODZIEJ, Paweł KREWNIAK, Stanisław NOWAK // W: Seventeenth European photovoltaic solar energy conference : proceedings of the international conference : Munich, Germany, 22–26 October 2001, Vol. 3 / eds. B. McNelis [et al.]. — Munich ; Florence : WIP ; ETA, 2002. — S. 2997–3000. — Bibliogr. s. 3000, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

14
  • Properties of thick film ferroelectric compositions / D. Szwagierczak, J. Kulawik, S. NOWAK, A. Marek, J. Gandurska, I. Śnieżyńska // W: 20 [Twenty] years IMAPS Poland 1982–2002 : XXVI [twenty sixth] international conference of International Microelectronics and Packaging Society. Poland Chapter : Warsaw, 25–27 September 2002 : proceedings / ed. Ryszard Kisiel ; IMAPS. Poland Chapter. — [Poland : IMAPS. Poland Chapter], [2002]. — Opis częśc. wg okł. — S. 83–86. — Bibliogr. s. 86, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

15
  • Sposób pomiaru deformacji części składowych woskowego zestawu modelowego i układ do pomiaru deformacji części składowych woskowego zestawu modelowego[Method for measuring deformation of a wax pattern component parts and the system for measuring deformation of a wax pattern component parts] / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie ; wynalazca: ŻABA Krzysztof, NOWAK Stanisław, KWIATKOWSKI Michał, NOWOSIELSKI Maciej, KITA Paweł. — Int.Cl.: G01B 11/00\textsuperscript{(2006.01)}. — Polska. — Opis zgłoszeniowy wynalazku ; PL 411049 A1 ; Opubl. 2016-08-01. — Zgłosz. nr P.411049 z dn. 2015-01-23 // Biuletyn Urzędu Patentowego ; ISSN 0137-8015 ; 2016  nr 16, s. 33-34. — tekst: http://patenty.bg.agh.edu.pl/pelneteksty/PL411049A1.pdf

  • słowa kluczowe: deformacja, pomiar, odlewanie precyzyjne, woskowy model odlewniczy, woskowy zestaw modelowy, ceramiczna forma odlewnicza, skanowanie 3D

    keywords: deformation, measurement, investment casting, ceramic mould, wax pattern, 3D scanning, wax assembly

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

16
  • Sposób pomiaru rozkładu grubości ścianki ceramicznej zamkniętej formy odlewniczej i układ do pomiaru rozkładu grubości ścianki ceramicznej zamkniętej formy odlewniczej[Method for measuring distribution of the closed foundry mould ceramic wall thicknesses and the system for measuring distribution of the closed foundry mould ceramic wall thicknesses] / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie ; wynalazca: ŻABA Krzysztof, NOWAK Stanisław, KWIATKOWSKI Michał, NOWOSIELSKI Maciej, KITA Paweł. — Int.Cl.: G01B 11/00\textsuperscript{(2006.01)}. — Polska. — Opis zgłoszeniowy wynalazku ; PL 411050 A1 ; Opubl. 2016-08-01. — Zgłosz. nr P.411050 z dn. 2015-01-23 // Biuletyn Urzędu Patentowego ; ISSN 0137-8015 ; 2016  nr 16, s. 34. — tekst: http://patenty.bg.agh.edu.pl/pelneteksty/PL411050A1.pdf

  • słowa kluczowe: pomiar, odlewanie precyzyjne, woskowy model odlewniczy, woskowy zestaw modelowy, ceramiczna forma odlewnicza, grubość ścianki, skanowanie 3D

    keywords: measurement, investment casting, ceramic mould, wax pattern, wall thickness, 3D scanning, wax assembly

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

17
  • Termiczny miernik natężenia przepływu benzyny[Thermal flowmeter for gasoline] / Zbigniew MAGOŃSKI, Stanisław NOWAK // W: KKE'2003 : II Krajowa Konferencja Elektroniki : Kołobrzeg 9–12 czerwca 2003 : materiały konferencji, T. 2/2. — Koszalin : Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej, 2003 + CD-ROM. — ISBN10: 837365030X. — S. 579–584. — Bibliogr. s. 584, Streszcz.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

18
  • Walcarka pielgrzymowa do wytwarzania rur na zimno[Pipe cold rolling pilger mill] / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie ; wynalazca: Jan OSIKA, Czesław Boberek, Adam Machnik, Stanisław NOWAK [et al.] Andrzej PIETRZAK. — Int.Cl.: B21B 21/06\textsuperscript{(2006.01)}. — Polska. — Opis patentowy ; PL 209443 B1 ; Udziel. 2011-03-24 ; Opubl. 2011-09-30. — Zgłosz. nr P.375655 z dn. 2005-06-09. — tekst: http://patenty.bg.agh.edu.pl/pelneteksty/PL209443B1.pdf

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

19
  • Zastosowanie promieniowania UV w technologii warstw grubych światłoczułychThe application of UV radiation in photoimageable thick film technology / Barbara DZIURDZIA, Stanisław NOWAK, Wojciech Gregorczyk, Bogdan Lesiuk // W: UVR : promieniowanie UV : oddziaływania, pomiary, zagrożenia i zastosowania : konferencja naukowo-techniczna : 19–20.IX 2002 Warszawa / Instytut Elektroniki. Zakład Technik i Systemów Oświetlenia ; Główny Urząd Miar ; Polski Komitet Oświetleniowy. — [Polska. : s. n.], [2002]. — S. 167–176. — Bibliogr. s. 176, Streszcz., Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: