Wykaz publikacji wybranego autora

Edward Kusior, dr

adiunkt

* Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki
WEAIiE-ke, * Katedra Elektroniki


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak

OPI Nauka Polska




1
2
  • Silicon strip detector applied to X-ray diffraction of thin films and superlattices / T. STOBIECKI, W. DĄBROWSKI, P. GRYBOŚ, J. Kanak, E. KUSIOR, W. POWROŹNIK, J. SŁOWIK, K. ŚWIENTEK, P. WIĄCEK, A. ZIĘBA // W: X-top 2002 : 6\textsuperscript{th} biennial conference on High resolution X-Ray diffraction and imaging : dedicated to the memory of Professor Norio Kato (1923–2002) : Grenoble and Aussois, 10–14 September 2002 : programme abstracts ; list of participants / ESRF European Synchrotron Radiation Facility Grenoble, France ; LMC Laboratoire de Minéralogie Cristallographie de Paris, France. — [France : s. n], 2002. — P126 s. 206. — Bibliogr. P126 s. 206

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
4
  • Wpływ warunków technologicznych na własności optyczne cienkich warstw $AlN_{x}$ otrzymanych reaktywnym magnetronowym rozpylaniemInfluence of technological parameters on optical properties of $AlN_{x}$ obtained by reactive magnetron sputtering / Andrzej BRUDNIK, Adam CZAPLA, Edward KUSIOR // W: Modern plasma surface technology : 13\textsuperscript{th} International Summer School Mielno'2002 : 02–05.09.2002 / [red. nauk. Witold Precht, red. Bronisław Słowiński] ; Politechnika Koszalińska w Koszalinie. Katedra Inżynierii Materiałowej [et al.].. — Koszalin : Wydawnictwo Uczelniane PK, 2002. — S. 213–220. — Bibliogr. s. 219–220, Streszcz., Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: