Electrodeposition of ZnTe semiconductor thin films from aqueous complex solutions : [poster] / E. Bełtowska-Lehman [et al.], E. KUSIOR // W: SOTAMA-FGM : Symposium on Texture and Microstructure Analysis of Functionally Graded Materials : 3–7 October 2004 Kraków, Poland : symposium programme and book of abstracts / [Polish Academy of Sciences. Institute of Metallurgy and Materials Science]. — [Kraków : s. n.], [2004]. — S. 46, P1

Hierarchically structured MoOx thin films for gas sensor and OLED applications / A. RYDOSZ, K. ZAKRZEWSKA, E. KUSIOR, P. Krukowski, D. Kowalczyk, Z. Klusek // W: 2019 E-MRS fall meeting [Dokument elektroniczny] : symposium V : Bioinspired and Biointegrated Materials as New Frontiers Nanomaterials IX : September 16\textsuperscript{th}–19\textsuperscript{th}, 2019 Warsaw, Poland : [abstracts]. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Warsaw : University of Technology], [2019]. — Ekran [7]. — Tryb dostępu: https://www.european-mrs.com/nanoparticles-advances-synthesis-characterization-theoretical-modelling-and-applications-emrs-0 [2020-02-25]. — Bibliogr. w formie przypisów

Influence of Cr on structural and optical properties of ${TiO_{2}:Cr}$ nanopowders prepared by Flame Spray Synthesis (FSS) / A. TRENCZEK-ZAJĄC, M. RADECKA, M. Jasiński, K. A. MICHAŁÓW, M. RĘKAS, E. KUSIOR, K. ZAKRZEWSKA, A. Heel, T. Graule // W: XI Symposium on Fast ionic conductors : 14–17 September 2008, Grybów, Poland : book of abstracts = Przewodniki szybkich jonów. — Warszawa : Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, 2008. — S. 115–116. — Bibliogr. s. 116

Influence of deposition temperature of ${TiO_{2}}$ on crystalline silicon solar cell parameters / Piotr Panek, Kazimierz Drabczyk, Paweł Zięba, Halina CZTERNASTEK, Edward KUSIOR // W: IMAPS Poland : XXXI international conference and exhibition IMAPS Poland 2007 : 23–26 September 2007, Rzeszów–Krasiczyn : proceedings / eds. Jerzy Potencki, Dariusz Klepacki, Alicja Bednarczyk ; International Microelectronics and Packing Society. Poland Chapter. — Rzeszów : University of Technology, [2007] + CD-ROM. — Na okł. dod.: IMAPS Poland 25 years. — Opis częśc. wg okł.. — ISBN: 978-83-917701-4-6. — S. 205–208. — Bibliogr. s. 208, Abstr.

Kontrola procesu reaktywnego rozpylania magnetronowego w układzie $Ti-O_{2}$ — [Control of magnetron reactive sputtering in $Ti-O_{2}$ composition] / Andrzej BRUDNIK, Adam CZAPLA, Edward KUSIOR, Witold Posadowski // W: TJ'99 : Techniki Jonowe : VI ogólnopolskie seminarium : Szklarska Poręba 3–5 marca 1999 r. / Politechnika Wrocławska. Instytut Techniki Mikrosystemów. — [Wrocław : PW], [1999]. — ISBN10: 83-7085-438-9. — S. 43–46. — Bibliogr. s. 46, Abstr.

Makro i mikroskopowe naprężenia własne miedzianych powłok na podłożu mosiądzu — [Makro- and microscopic residual stresses of copper coastings on the brass substrate] / Stanisław SKRZYPEK, Joanna KOWALSKA, Edward KUSIOR, Marcin GOŁY // W: 50 Konwersatorium Krystalograficzne : II sesja naukowa PTK : Wrocław, 26–28 VI 2008 : program, streszczenia komunikatów, lista uczestników i autorów prac = Polish Crystallographic Meeting / Komitet Krystalografii PAN, Polskie Towarzystwo Krystalograficzne, Instytut Niskich Temperatur i Badań Strukturalnych PAN. — [Wrocław : s. n], [2008]. — S. 161–162. — Bibliogr. s. 162

Opracowanie i wdrożenie nowej nieniszczącej metody pomiaru naprężeń własnych opartej na geometrii dyfrakcji promieniowania X przy stałym kącie padania — Macro-residual stresses in tin coatings – measurement based on the $sin^{2}\psi$ method due to grazing angle incidence X-ray scattering geometry / Stanisław J. SKRZYPEK, Andrzej BACZMAŃSKI, Edward KUSIOR // Problemy Eksploatacji = Maintenance Problems ; ISSN 1232-9312. — 2000 nr 2, s. 313–333. — Bibliogr. s. 330–332, Streszcz., Summ.. — Inżynieria Powierzchni 2000 : 3 ogólnopolska konferencja naukowa : 2000, Radom–Kazimierz Dolny, Polska

Optical properties of $AlN$ thin films obtained by reactive magnetron sputtering / Andrzej BRUDNIK, Adam CZAPLA, Edward KUSIOR // Optica Applicata ; ISSN 0078-5466. — 2002 vol. 32 no. 3, s. 327–331. — Bibliogr. s. 331. — tekst: http://opticaapplicata.pwr.edu.pl/files/pdf/2002/no3/optappl_3203p327.pdf

Pomiary makronaprężeń własnych (NW) przy użyciu dyfrakcji promieni X przy stałym kącie padania – metoda g-$\sin^{2}\psi$ — Macro-residual stresses – measurements based on the g-$\sin^{2}\psi$ method due to grazing angle incidence X-ray scattering geometry / Stanisław J. SKRZYPEK, Andrzej BACZMAŃSKI, Edward KUSIOR // Zeszyty Naukowe / Politechnika Świętokrzyska ; ISSN 1897-2683. Mechanika ; ISSN 0239-4979. — 2000 [z.] 72, s. 463–470. — Bibliogr. s. 468–469, Streszcz., Summ.. — Problemy metaloznawstwa w technice XXI wieku : konferencja / kom. nauk. Jan Adamczyk [et al.]. — Kielce : Wydawnictwo Politechniki Świętokrzyskiej, 2000

Pomiary naprężeń w warstwie wierzchniej stali duplex metodą dyfrakcji promieniowania rentgenowskiego $g-sin^{2}\psi$ — Residual stress measurements in duplex steel surface layers by $g-sin^{2}\psi$ X-ray diffraction method / Agnieszka Ossowska, Jerzy Łabanowski, Edward KUSIOR // Materiały i Technologie : Roczniki Naukowe Pomorskiego Oddziału Polskiego Towarzystwa Materiałoznawczego ; ISSN 1731-223X. — 2006 nr 4, s. 169–177. — Bibliogr. s. 177, Streszcz., Summ.

Residual macrostresses of metal plates after laser forming / S. J. SKRZYPEK, Z. Wesołowski, A. BACZMAŃSKI, E. KUSIOR // W: XVIII conference on Applied crystallography : 4–7 September 2000 Katowice–Wisła, Poland and Rietveld method workshop : 7–9 September 2000 / University of Silesia ; Committee of Crystallography and Committee of Material Science of Polish Academy od Sciences. — [Katowice : UŚ], [2000]. — S. 34

Structural and electrical properties of magnetron sputtered Ti(ON) thin films: the case of TiN doped {\em in situ} with oxygen / A. TRENCZEK-ZAJĄC, M. RADECKA, K. ZAKRZEWSKA, A. BRUDNIK, E. KUSIOR, S. Bourgeois, M. C. Marco de Lucas, L. Imhoff // W: XI Symposium on Fast ionic conductors : 14–17 September 2008, Grybów, Poland : book of abstracts = Przewodniki szybkich jonów. — Warszawa : Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, 2008. — S. 55–56. — Bibliogr. s. 56

Structural properties of CdS/ZnO bilayers for photovoltaic purposes / Elżbieta SCHABOWSKA-OSIOWSKA, Henryk JANKOWSKI, Teresa KENIG, Edward KUSIOR, Tadeusz PISARKIEWICZ // W: IMAPS Poland : XXIX international conference of International Microelectronics and Packaging Society Poland Chapter : Koszalin – Darłówko 18–21 September 2005 : proceedings / eds. Piotr Majchrzak [et al.] ; International Microelectronics and Packaging Society. Poland Chapter. — [Poland] : IMAPS. Poland Chapter, 2005. — S. 247–250. — Bibliogr. s. 250, Abstr.. — Toż. W: IMAPS Poland [Dokument elektroniczny] : XXIX international conference of International Microelectronics and Packaging Society Poland Chapter : Koszalin – Darłówko, 18–21 September  2005 : proceedings. - Wersja do Windows. - Dane tekstowe / eds. Zbigniew Suszyński [et al.] ; International Microelectronics and Packaging Society. Poland Chapter. - [Poland] : IMAPS. Poland Chapter, 2005. - 1 dysk optyczny. - S. 247–250. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD. - Bibliogr. s. 250, Abstr.

The influence of surface texture and temperature deposition of $TiO_{2}$ layer on crystalline silicon solar cells parameters — Wpływ tekstury powierzchniowej i temperatury osadzania warstwy $TiO_{2}$ na parametry krzemowych krystalicznych ogniw słonecznych / P. Panek, K. Drabczyk, H. CZTERNASTEK, E. KUSIOR, P. Zięba, E. Bełtowska-Lehman // Archives of Metallurgy and Materials / Polish Academy of Sciences. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science ; ISSN 1733-3490. — 2008 vol. 53 iss. 1 spec. iss., s. 103–106. — Bibliogr. s. 106. — SOTAMA : symposium on Texture and microstructure analysis : September 26–28, 2007, Cracow, Poland / guest eds. Jerzy Jura, Ewa Bełtowska, Jan T. Bonarski ; Institute of Metallurgy and Materials Science of the Polish Academy of Sciences, Cracow. — Warszawa ; Kraków : PAS. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science, 2008. — Zastosowano procedurę peer review. — tekst: http://www-1imim-1pl-1atoz.wbg2.bg.agh.edu.pl/files/archiwum/Vol1_2008/artykuly/16_.pdf

Wpływ warunków technologicznych na własności optyczne cienkich warstw $AlN_{x}$ otrzymanych reaktywnym magnetronowym rozpylaniem — Influence of technological parameters on optical properties of $AlN_{x}$ obtained by reactive magnetron sputtering / Andrzej BRUDNIK, Adam CZAPLA, Edward KUSIOR // W: Modern plasma surface technology : 13\textsuperscript{th} International Summer School Mielno'2002 : 02–05.09.2002 / [red. nauk. Witold Precht, red. Bronisław Słowiński] ; Politechnika Koszalińska w Koszalinie. Katedra Inżynierii Materiałowej [et al.].. — Koszalin : Wydawnictwo Uczelniane PK, 2002. — S. 213–220. — Bibliogr. s. 219–220, Streszcz., Abstr.

X-ray, AFM, UV-VIS-IR analysis of a-Si:H/$\mu$c-Si:H supperlattice structure / Andrzej KOŁODZIEJ, Witold BARANOWSKI, Edward KUSIOR, Jarosław KANAK // Optica Applicata ; ISSN 0078-5466. — 2011 vol. 41 no. 2, s. 449–454. — Bibliogr. s. 453–454. — 10th Electron Technology ELTE 2010 and 34th International Microelectronics and Packaging IMAPS/CPMT Poland joint conference / guest eds. Andrzej Dziedzic, Jacek Radojewski, Jarosław Serafińczuk. — Wrocław : Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2011. — tekst: http://www.if.pwr.wroc.pl/ optappl/pdf/2011/no2/optappl_4102p449.pdf

X-ray, AFM, UV-VIS-IR analysis of multilayer a-Si:H/$\mu$c-Si:H system / Andrzej KOŁODZIEJ, Witold BARANOWSKI, Edward KUSIOR, Jarosław KANAK // W: ELTE 2010 ; IMAPS-CPMT : 10\textsuperscript{th} Electron Technology conference and 34\textsuperscript{th} international microelectronics and packaging : Wrocław, 22–25 September 2010 : book of abstracts / eds. Andrzej Dziedzic, Karol Malecha, Jacek Radojewski. — Wrocław : Wrocław University of Technology. Faculty of Microsystem Electronics and Photonics, [2010]. — Dod. na okł.: 1910–2010 100 years of Technical Universities in Wrocław. — ISBN: 978-83-917701-8-4. — S. 147. — Bibliogr. s. 147. — Pełny tekst W: ELTE 2010 ; IMAPS-CPMT [Dokument elektroniczny] : 10th electron technology conference ELTE2010 and 34th international microelectronics and packaging IMAPS-CPMT Poland conference : Wrocław, 22–25 September 2010 : proceedings of ELTE/IMPAS-CPMT 2010 conference. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe / eds. Andrzej Dziedzic [et al.]. — Wrocław : University of Technology, cop. 2010. — 1 dysk optyczny. — S. 1–4. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 4, Abstr. — ISBN 978-83-917701-9-1