Wykaz publikacji wybranego autora

Edward Kusior, dr

adiunkt

* Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki
WEAIiE-ke, * Katedra Elektroniki


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak

OPI Nauka Polska




1
2
  • Cadmium sulfide thin films manufactured by chemical bath deposition method / T. PISARKIEWICZ, E. SCHABOWSKA-OSIOWSKA, E. KUSIOR, A. Kowal // Journal of Wide Bandgap Materials ; ISSN 1524-511X. — 2001 vol. 9 no. 1–2, s. 127–132. — Bibliogr. s. 132, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
4
5
6
7
  • Opracowanie i wdrożenie nowej nieniszczącej metody pomiaru naprężeń własnych opartej na geometrii dyfrakcji promieniowania X przy stałym kącie padaniaMacro-residual stresses in tin coatings – measurement based on the $sin^{2}\psi$ method due to grazing angle incidence X-ray scattering geometry / Stanisław J. SKRZYPEK, Andrzej BACZMAŃSKI, Edward KUSIOR // Problemy Eksploatacji = Maintenance Problems ; ISSN 1232-9312. — 2000 nr 2, s. 313–333. — Bibliogr. s. 330–332, Streszcz., Summ.. — Inżynieria Powierzchni 2000 : 3 ogólnopolska konferencja naukowa : 2000, Radom–Kazimierz Dolny, Polska

  • słowa kluczowe: dyfrakcyjne metody pomiaru makro-naprężeń własnych, nieniszcząca metoda pomiaru, dyfrakcja w geometrii stałego kąta padania, warstwy TiN

    keywords: macro-residual stresses, TiN layers

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

8
9
  • Pomiary makronaprężeń własnych (NW) przy użyciu dyfrakcji promieni X przy stałym kącie padania – metoda g-$\sin^{2}\psi$Macro-residual stresses – measurements based on the g-$\sin^{2}\psi$ method due to grazing angle incidence X-ray scattering geometry / Stanisław J. SKRZYPEK, Andrzej BACZMAŃSKI, Edward KUSIOR // Zeszyty Naukowe / Politechnika Świętokrzyska ; ISSN 1897-2683. Mechanika ; ISSN 0239-4979. — 2000 [z.] 72, s. 463–470. — Bibliogr. s. 468–469, Streszcz., Summ.. — Problemy metaloznawstwa w technice XXI wieku : konferencja / kom. nauk. Jan Adamczyk [et al.]. — Kielce : Wydawnictwo Politechniki Świętokrzyskiej, 2000

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

10
  • Pomiary naprężeń w warstwie wierzchniej stali duplex metodą dyfrakcji promieniowania rentgenowskiego $g-sin^{2}\psi$Residual stress measurements in duplex steel surface layers by $g-sin^{2}\psi$ X-ray diffraction method / Agnieszka Ossowska, Jerzy Łabanowski, Edward KUSIOR // Materiały i Technologie : Roczniki Naukowe Pomorskiego Oddziału Polskiego Towarzystwa Materiałoznawczego ; ISSN 1731-223X. — 2006 nr 4, s. 169–177. — Bibliogr. s. 177, Streszcz., Summ.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

11
12
13
  • Structural and optical properties of $Ti-N-O$ thin films prepared by dc-pulsed magnetron sputtering / A. TRENCZEK-ZAJĄC, M. RADECKA, K. ZAKRZEWSKA, A. BRUDNIK, E. KUSIOR, S. Bourgeois, M. Marco de Lucas, L. Imhoff // Annales de Chimie Science des Matériaux ; ISSN 0151-9107. — 2008 vol. 33 suppl. 1, s. 149–156. — Zastosowano procedurę peer review. — 15th French-Polish seminar on Reactivity of solids : June 30–July 2, 2008, Dijon, France / eds. Florence Baras [et al.]. — Paris : Editions Scientifiques Medicales Elsevier, 2008

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

14
15
16
  • The influence of surface texture and temperature deposition of $TiO_{2}$ layer on crystalline silicon solar cells parametersWpływ tekstury powierzchniowej i temperatury osadzania warstwy $TiO_{2}$ na parametry krzemowych krystalicznych ogniw słonecznych / P. Panek, K. Drabczyk, H. CZTERNASTEK, E. KUSIOR, P. Zięba, E. Bełtowska-Lehman // Archives of Metallurgy and Materials / Polish Academy of Sciences. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science ; ISSN 1733-3490. — 2008 vol. 53 iss. 1 spec. iss., s. 103–106. — Bibliogr. s. 106. — SOTAMA : symposium on Texture and microstructure analysis : September 26–28, 2007, Cracow, Poland / guest eds. Jerzy Jura, Ewa Bełtowska, Jan T. Bonarski ; Institute of Metallurgy and Materials Science of the Polish Academy of Sciences, Cracow. — Warszawa ; Kraków : PAS. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science, 2008. — Zastosowano procedurę peer review. — tekst: http://www-1imim-1pl-1atoz.wbg2.bg.agh.edu.pl/files/archiwum/Vol1_2008/artykuly/16_.pdf

  • keywords: titanium dioxide, antireflection coating, crystalline silicon solar cell

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

17
18
  • ${TiO_{2}}$-based nanopowders and thin films for photocatalytical applications / M. RADECKA, M. RĘKAS, E. KUSIOR, K. ZAKRZEWSKA, A. Heel, K. A. Michalow, T. Graule // Journal of Nanoscience and Nanotechnology ; ISSN 1533-4880. — 2010 vol. 10, s. 1032–1042. — Bibliogr. s. 1042

  • keywords: thin films, TiO2, nano powders, band gap, photocatalysis

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1166/jnn.2010.1865

19
  • Visible photocurrent response of $TiO_{2}$ anode / A. GORZKOWSKA-SOBAŚ, E. KUSIOR, M. RADECKA, K. ZAKRZEWSKA // Surface Science ; ISSN 0039-6028. — 2006 vol. 600 iss. 18 spec. iss., s. 3964–3970. — Bibliogr. s. 3969–3970, Abstr.. — 23rd European Conference on Surface Science (ECOSS-23) : Freie Univ, Berlin, GERMANY, SEP 04-09, 2005. — tekst: https://goo.gl/TGKtHD

  • keywords: titanium dioxide, photochemistry, surface electrical transport, semiconductor electrolyte interface, sputter deposition

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.susc.2006.01.108

20
21
  • X-ray, AFM, UV-VIS-IR analysis of a-Si:H/$\mu$c-Si:H supperlattice structure / Andrzej KOŁODZIEJ, Witold BARANOWSKI, Edward KUSIOR, Jarosław KANAK // Optica Applicata ; ISSN 0078-5466. — 2011 vol. 41 no. 2, s. 449–454. — Bibliogr. s. 453–454. — 10th Electron Technology ELTE 2010 and 34th International Microelectronics and Packaging IMAPS/CPMT Poland joint conference / guest eds. Andrzej Dziedzic, Jacek Radojewski, Jarosław Serafińczuk. — Wrocław : Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2011. — tekst: http://www.if.pwr.wroc.pl/ optappl/pdf/2011/no2/optappl_4102p449.pdf

  • keywords: atomic force microscopy, X-ray, UV-VIS-IR analysis, nc-Si:H multilayer structure

    cyfrowy identyfikator dokumentu: