Wykaz publikacji wybranego autora

Edward Kusior, dr

adiunkt

* Faculty of Electrical Engineering, Automatics, Computer Science and Electronics
WEAIiE-ke


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak

OPI Nauka Polska



Statystyka obejmuje publikacje afiliowane AGH od 2008 roku włącznie

typ publikacji
rocznikl. publ.książkifragm.referatyartykułypatentymapyred. czas.inne
ogółem361521
202311
201911
201322
201222
201122
2010321
200922
2008642
200711
200622
2005211
200411
2002422
200122
2000422
199911
język publikacji
rocznikrazempolskojęzyczneanglojęzycznepozostałe języki
ogółem36630
202311
201911
201322
201222
201122
201033
200922
2008615
200711
2006211
200522
200411
2002413
200122
2000422
199911
kraj wydania
rocznikrazempubl. krajowepubl. zagraniczne
ogółem361719
202311
201911
201322
201222
2011211
2010312
200922
2008642
200711
2006211
2005211
200411
2002422
200122
2000431
199911
Lista Filadelfijska
rocznikrazempubl. z LFpubl. pozostałe
ogółem361719
202311
201911
201322
201222
201122
2010312
200922
2008624
200711
2006211
2005211
200411
2002422
2001211
200044
199911
punktacja MNiSW
rocznikrazempubl. z pkt. MNiSWpubl. pozostałe
ogółem361224
202311
201911
201322
201222
201122
2010312
200922
2008624
200711
200622
200522
200411
200244
200122
200044
199911
publikacje recenzowane
rocznikrazempubl. recenzowanepubl. nierecenzowane
ogółem362115
202311
201911
201322
201222
201122
2010312
200922
2008624
200711
2006211
2005211
200411
2002422
2001211
2000431
199911



1
2
  • Cadmium sulfide thin films manufactured by chemical bath deposition method / T. PISARKIEWICZ, E. SCHABOWSKA-OSIOWSKA, E. KUSIOR, A. Kowal // Journal of Wide Bandgap Materials ; ISSN 1524-511X. — 2001 vol. 9 no. 1–2, s. 127–132. — Bibliogr. s. 132, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
4
  • Electrodeposition of ZnTe semiconductor thin films from aqueous complex solutions : [poster] / E. Bełtowska-Lehman [et al.], E. KUSIOR // W: SOTAMA-FGM : Symposium on Texture and Microstructure Analysis of Functionally Graded Materials : 3–7 October 2004 Kraków, Poland : symposium programme and book of abstracts / [Polish Academy of Sciences. Institute of Metallurgy and Materials Science]. — [Kraków : s. n.], [2004]. — S. 46, P1

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
6
7
8
  • Influence of Cr on structural and optical properties of ${TiO_{2}:Cr}$ nanopowders prepared by Flame Spray Synthesis (FSS) / A. TRENCZEK-ZAJĄC, M. RADECKA, M. Jasiński, K. A. MICHAŁÓW, M. RĘKAS, E. KUSIOR, K. ZAKRZEWSKA, A. Heel, T. Graule // W: XI Symposium on Fast ionic conductors : 14–17 September 2008, Grybów, Poland : book of abstracts = Przewodniki szybkich jonów. — Warszawa : Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, 2008. — S. 115–116. — Bibliogr. s. 116

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

9
  • Influence of deposition temperature of ${TiO_{2}}$ on crystalline silicon solar cell parameters / Piotr Panek, Kazimierz Drabczyk, Paweł Zięba, Halina CZTERNASTEK, Edward KUSIOR // W: IMAPS Poland : XXXI international conference and exhibition IMAPS Poland 2007 : 23–26 September 2007, Rzeszów–Krasiczyn : proceedings / eds. Jerzy Potencki, Dariusz Klepacki, Alicja Bednarczyk ; International Microelectronics and Packing Society. Poland Chapter. — Rzeszów : University of Technology, [2007] + CD-ROM. — Na okł. dod.: IMAPS Poland 25 years. — Opis częśc. wg okł.. — ISBN: 978-83-917701-4-6. — S. 205–208. — Bibliogr. s. 208, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

10
  • Kontrola procesu reaktywnego rozpylania magnetronowego w układzie $Ti-O_{2}$[Control of magnetron reactive sputtering in $Ti-O_{2}$ composition] / Andrzej BRUDNIK, Adam CZAPLA, Edward KUSIOR, Witold Posadowski // W: TJ'99 : Techniki Jonowe : VI ogólnopolskie seminarium : Szklarska Poręba 3–5 marca 1999 r. / Politechnika Wrocławska. Instytut Techniki Mikrosystemów. — [Wrocław : PW], [1999]. — ISBN10: 83-7085-438-9. — S. 43–46. — Bibliogr. s. 46, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

11
  • Makro i mikroskopowe naprężenia własne miedzianych powłok na podłożu mosiądzu[Makro- and microscopic residual stresses of copper coastings on the brass substrate] / Stanisław SKRZYPEK, Joanna KOWALSKA, Edward KUSIOR, Marcin GOŁY // W: 50 Konwersatorium Krystalograficzne : II sesja naukowa PTK : Wrocław, 26–28 VI 2008 : program, streszczenia komunikatów, lista uczestników i autorów prac = Polish Crystallographic Meeting / Komitet Krystalografii PAN, Polskie Towarzystwo Krystalograficzne, Instytut Niskich Temperatur i Badań Strukturalnych PAN. — [Wrocław : s. n], [2008]. — S. 161–162. — Bibliogr. s. 162

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

12
  • Microstructure of $TiO_{2-x}$ thin films reactively sputtered by DC magnetron / K. ZAKRZEWSKA, A. BRUDNIK, E. KUSIOR, M. RADECKA, A. Kowal // W: Surface Engineering: in materials science I : proceedings of a symposium by the TMS Surface Modification & Coatings Technology Committee (SMC) and the Materials Processing and Manufacturing Division (MPMD), held during the 2000 TMS Annual Meeting : Nashville, Tennessee March 12–16, 2000 / ed. Sudipta Seal [et al.]. — Warrendale : The Minerals, Metals & Materials Society, 2000. — (A Publication of TMS). — ISBN10: 0-87339-471-2. — S. 163–172. — Bibliogr. s. 172, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

13
14
  • Opracowanie i wdrożenie nowej nieniszczącej metody pomiaru naprężeń własnych opartej na geometrii dyfrakcji promieniowania X przy stałym kącie padaniaMacro-residual stresses in tin coatings – measurement based on the $sin^{2}\psi$ method due to grazing angle incidence X-ray scattering geometry / Stanisław J. SKRZYPEK, Andrzej BACZMAŃSKI, Edward KUSIOR // Problemy Eksploatacji = Maintenance Problems ; ISSN 1232-9312. — 2000 nr 2, s. 313–333. — Bibliogr. s. 330–332, Streszcz., Summ.. — Inżynieria Powierzchni 2000 : 3 ogólnopolska konferencja naukowa : 2000, Radom–Kazimierz Dolny, Polska

  • słowa kluczowe: dyfrakcyjne metody pomiaru makro-naprężeń własnych, nieniszcząca metoda pomiaru, dyfrakcja w geometrii stałego kąta padania, warstwy TiN

    keywords: macro-residual stresses, TiN layers

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

15
16
  • Pomiary makronaprężeń własnych (NW) przy użyciu dyfrakcji promieni X przy stałym kącie padania – metoda g-$\sin^{2}\psi$Macro-residual stresses – measurements based on the g-$\sin^{2}\psi$ method due to grazing angle incidence X-ray scattering geometry / Stanisław J. SKRZYPEK, Andrzej BACZMAŃSKI, Edward KUSIOR // Zeszyty Naukowe / Politechnika Świętokrzyska ; ISSN 1897-2683. Mechanika ; ISSN 0239-4979. — 2000 [z.] 72, s. 463–470. — Bibliogr. s. 468–469, Streszcz., Summ.. — Problemy metaloznawstwa w technice XXI wieku : konferencja / kom. nauk. Jan Adamczyk [et al.]. — Kielce : Wydawnictwo Politechniki Świętokrzyskiej, 2000

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

17
  • Pomiary naprężeń w warstwie wierzchniej stali duplex metodą dyfrakcji promieniowania rentgenowskiego $g-sin^{2}\psi$Residual stress measurements in duplex steel surface layers by $g-sin^{2}\psi$ X-ray diffraction method / Agnieszka Ossowska, Jerzy Łabanowski, Edward KUSIOR // Materiały i Technologie : Roczniki Naukowe Pomorskiego Oddziału Polskiego Towarzystwa Materiałoznawczego ; ISSN 1731-223X. — 2006 nr 4, s. 169–177. — Bibliogr. s. 177, Streszcz., Summ.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

18
19
  • Residual macrostresses of metal plates after laser forming / S. J. SKRZYPEK, Z. Wesołowski, A. BACZMAŃSKI, E. KUSIOR // W: XVIII conference on Applied crystallography : 4–7 September 2000 Katowice–Wisła, Poland and Rietveld method workshop : 7–9 September 2000 / University of Silesia ; Committee of Crystallography and Committee of Material Science of Polish Academy od Sciences. — [Katowice : UŚ], [2000]. — S. 34

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

20
  • Silicon strip detector applied to X-ray diffraction of thin films and superlattices / T. STOBIECKI, W. DĄBROWSKI, P. GRYBOŚ, J. Kanak, E. KUSIOR, W. POWROŹNIK, J. SŁOWIK, K. ŚWIENTEK, P. WIĄCEK, A. ZIĘBA // W: X-top 2002 : 6\textsuperscript{th} biennial conference on High resolution X-Ray diffraction and imaging : dedicated to the memory of Professor Norio Kato (1923–2002) : Grenoble and Aussois, 10–14 September 2002 : programme abstracts ; list of participants / ESRF European Synchrotron Radiation Facility Grenoble, France ; LMC Laboratoire de Minéralogie Cristallographie de Paris, France. — [France : s. n], 2002. — P126 s. 206. — Bibliogr. P126 s. 206

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

21
  • Structural and electrical properties of magnetron sputtered Ti(ON) thin films: the case of TiN doped {\em in situ} with oxygen / A. TRENCZEK-ZAJĄC, M. RADECKA, K. ZAKRZEWSKA, A. BRUDNIK, E. KUSIOR, S. Bourgeois, M. C. Marco de Lucas, L. Imhoff // W: XI Symposium on Fast ionic conductors : 14–17 September 2008, Grybów, Poland : book of abstracts = Przewodniki szybkich jonów. — Warszawa : Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, 2008. — S. 55–56. — Bibliogr. s. 56

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

22
23
  • Structural and optical properties of ${Ti-N-O}$ thin films prepared by dc magnetron sputtering : [abstract] / A. TRENCZEK-ZAJĄC, A. BRUDNIK, E. KUSIOR, M. RADECKA, K. ZAKRZEWSKA, M. C. Marco de Lucas, L. Imhoff, S. Bourgeois // W: “Reactivity of solids” : 15\textsuperscript{th} French-Polish seminar : June 30–July 2, 2008, Dijon, France / Université de Bourgogne, AGH University of Science and Technology. — [France : s. n.], [2008]. — S. [1]. — Bibliogr. s. [1]

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

24
  • Structural and optical properties of $Ti-N-O$ thin films prepared by dc-pulsed magnetron sputtering / A. TRENCZEK-ZAJĄC, M. RADECKA, K. ZAKRZEWSKA, A. BRUDNIK, E. KUSIOR, S. Bourgeois, M. Marco de Lucas, L. Imhoff // Annales de Chimie Science des Matériaux ; ISSN 0151-9107. — 2008 vol. 33 suppl. 1, s. 149–156. — Zastosowano procedurę peer review. — 15th French-Polish seminar on Reactivity of solids : June 30–July 2, 2008, Dijon, France / eds. Florence Baras [et al.]. — Paris : Editions Scientifiques Medicales Elsevier, 2008

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

25
  • Structural properties of CdS/ZnO bilayers for photovoltaic purposes / Elżbieta SCHABOWSKA-OSIOWSKA, Henryk JANKOWSKI, Teresa KENIG, Edward KUSIOR, Tadeusz PISARKIEWICZ // W: IMAPS Poland : XXIX international conference of International Microelectronics and Packaging Society Poland Chapter : Koszalin – Darłówko 18–21 September 2005 : proceedings / eds. Piotr Majchrzak [et al.] ; International Microelectronics and Packaging Society. Poland Chapter. — [Poland] : IMAPS. Poland Chapter, 2005. — S. 247–250. — Bibliogr. s. 250, Abstr.. — Toż. W: IMAPS Poland [Dokument elektroniczny] : XXIX international conference of International Microelectronics and Packaging Society Poland Chapter : Koszalin – Darłówko, 18–21 September  2005 : proceedings. - Wersja do Windows. - Dane tekstowe / eds. Zbigniew Suszyński [et al.] ; International Microelectronics and Packaging Society. Poland Chapter. - [Poland] : IMAPS. Poland Chapter, 2005. - 1 dysk optyczny. - S. 247–250. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD. - Bibliogr. s. 250, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: