Wykaz publikacji wybranego autora

Wojciech Kucewicz, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne (25%)


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne (25%)


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-2073-711X orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 11039128200

PBN: 5e70922c878c28a047391176

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Development of monolithic active pixel sensor in SOI technology fabricated on the wafer with thick device layer / W. KUCEWICZ, B. M. Armstrong, H. S. Gamble, P. Grabiec, K. Kucharski, J. Marczewski, W. MAZIARZ, H. NIEMIEC, F. H. Ruddell, M. SAPOR, D. Tomaszewski // W: 2008 IEEE NSS/MIC/RTSD conference record [Dokument elektroniczny] : Nuclear Science Symposium (NSS) ; Medical Imaging Conference (MIC) ; 16th international workshop on Room-Temperature Semiconductor X- and Gamma-Ray Detectors (RTSD) : 19–25 October 2008 Dresden, Germany / guest ed. Paul Sellin ; Nuclear & Plasma Sciences Society, Institute of Electrical and Electronics Engineers. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [New York] : IEEE, 2008. — 1 dysk optyczny. — (IEEE conference record – Nuclear Science Symposium & Medical Imaging Conference ; ISSN 1082-3654). — e-ISBN: 978-1-4244-2715-4. — S. 1123–1125. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 1125, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Fabrication and characterisation of high resistivity SOI substrates for monolithic high energy physics detectors / F. H. Rudell, [et al.], H. NIEMIEC, W. KUCEWICZ // Solid-State Electronics ; ISSN 0038-1101. — 2008 vol. 52 iss. 12, s. 1849–1853. — Bibliogr. s. 1853, Abstr.. — tekst: http://goo.gl/G3k4UF

  • keywords: silicon on insulator technology, silicon monolithic radiation detector

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.sse.2008.06.057

3
4
  • Technology of SOI monolithic active pixel detectors for improvement of I–V caracteristics and reliability / H. NIEMIEC, W. KUCEWICZ, M. SAPOR, P. Grabiec, K. Kucharski, J. Marczewski, D. Tomaszewski, B. M. Armstrong, M. Bain, P. Baine, H. S. Gamble, S. L. Suder, F. H. Ruddell // W: MIXDES 2008 : MIXed DESign of integrated circuits and systems : proceedings of the 15\textsuperscript{th} international conference : Poznań, Poland, 19–21 June, 2008 / ed. Andrzej Napieralski. — Łódź : Department of Microelectronics and Computer Science, Technical University of Łódź, cop. 2008 + CD-ROM. — ISBN10: 83-922632-7-8. — S. 463–465. — Bibliogr. s. 465, Abstr.. — W bazie Web of Science ISBN: 978-83-922632-7-2

  • keywords: SOI, monolithic active pixel sensors, silicon detectors, silicon on insulator technology

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
  • The two channel CMOS converter for silicon photomultiplier / Wojciech KUCEWICZ, Jerzy Barszcz, Jan Juraszek, Rafał Mos, Maria SAPOR // W: ICSES'2008 : ICSES 2008 international conference on Signals and electronic systems : September 14–17, 2008, Kraków, Poland : conference proceedings / eds. Stanisław Kuta, Witold Machowski. — Kraków : Department of Electronics, AGH University of Science and Technology, cop. 2008. — ISBN: 978-83-88309-52-6. — S. 165–168. — Bibliogr. s. 168, Abstr.. — Toż W: ICSES 2008 international conference on Signals and electronic systems [Dokument elektroniczny] : Kraków, September 14–17, 2008. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe / eds. Stanisław Kuta, Witold Machowski. — Kraków : Department of Electronics, AGH University of Science and Technology, cop. 2008. — 1 dysk optyczny. — ISBN 978-83-88309-52-6. — W bazie Web of Science ISBN: 978-83-88309-47-2

  • keywords: CMOS, silicon photomultiplier, photon detector, photon counting, transimpedance amplifier, flash ADC

    cyfrowy identyfikator dokumentu: