Wykaz publikacji wybranego autora

Wojciech Kucewicz, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki

  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne (25%)

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne (25%)

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-2073-711X orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 11039128200

PBN: 5e70922c878c28a047391176

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1

  • Data acquisition system for silicon ultra fast cameras for electron and gamma sources in medical applications / M. JASTRZĄB, W. KUCEWICZ, H. NIEMIEC, M. SAPOR [et al.] // W: MIXDES 2005 : MIXed DESign of integrated circuits and systems : proceedings of the 12\textsuperscript{th} international conference : Kraków, Poland 22–25 June 2004, Vol. 1 of 2 / ed. Andrzej Napieralski. — [Łodź : Technical University. Department of Microelectronics and Computer Science], 2005. — S. 601–604. — Bibliogr. s. 604, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Maria Sapor, Halina Niemiec, Marcin Jastrząb

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2

  • System for noise parameterization of MOS devices / M. KOZIEŁ, T. Klatka, W. KUCEWICZ, H. NIEMIEC // W: MIXDES 2005 : MIXed DESign of integrated circuits and systems : proceedings of the 12\textsuperscript{th} international conference : Kraków, Poland 22–25 June 2004, Vol. 1 of 2 / ed. Andrzej Napieralski. — [Łodź : Technical University. Department of Microelectronics and Computer Science], 2005. — S. 365–370. — Bibliogr. s. 370, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Halina Niemiec, Michał Kozieł

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3

  • TSSOI as an efficient tool for diagnostics of SOI technology in Institute of Electron Technology / Mateusz Barański, [et al.], Wojciech KUCEWICZ, [et al.], Halina NIEMIEC, Maria SAPOR, [et al.] // Journal of Telecommunications and Information Technology ; ISSN 1509-4553. — 2005 no. 1, s. 85–93. — Bibliogr. s. 91, Abstr.. — tekst: https://www.itl.waw.pl/czasopisma/JTIT/2005/1/85.pdf

  • keywords: pixel detector, test structure, SOI CMOS technology

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Maria Sapor, Halina Niemiec

    cyfrowy identyfikator dokumentu: