Wykaz publikacji wybranego autora

Wojciech Kucewicz, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne (25%)


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne (25%)


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-2073-711X orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 11039128200

PBN: 5e70922c878c28a047391176

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
2
  • Data acquisition system for silicon ultra fast cameras for electron and gamma sources in medical applications / M. JASTRZĄB, W. KUCEWICZ, H. NIEMIEC, M. SAPOR [et al.] // W: MIXDES 2005 : MIXed DESign of integrated circuits and systems : proceedings of the 12\textsuperscript{th} international conference : Kraków, Poland 22–25 June 2004, Vol. 1 of 2 / ed. Andrzej Napieralski. — [Łodź : Technical University. Department of Microelectronics and Computer Science], 2005. — S. 601–604. — Bibliogr. s. 604, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • Design, fabrication and characterization of SOI pixel detectors of ionizing radiation / D. Tomaszewski [et al.], M. KOZIEŁ, W. KUCEWICZ, [et al.], S. KUTA, [et al.], H. NIEMIEC, M. SAPOR, M. SZELEŹNIAK // W: Science and technology of semiconductor on Insulator structures devices operating in a harsh environment [Dokument elektroniczny] : proceedings of the NATO Advanced Research Workshop : Kiev, Ukraine, 26–30 April 2004 / eds. Flandre Denis [et al.]. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Netherlands : Kluwer Academic Publishers, 2005. — (NATO Science Series. Series II: Mathematics, Physics and Chemistry ; ISSN 1568-2609 ; vol. 185). — ISBN10: 1-4020-3011-8. — S. 291–296. — Bibliogr. ekran 296, Abstr.. — Tyt. przejęto z ekranu tytułowego. — tekst: https://goo.gl/QJtj2n

  • keywords: CMOS, SOI, pixel detectors, ionizing radiation

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
5
6
7
  • Status of the SOI detector R&D / A. Bulgheroni, M. Caccia, C. Cappellini, M. JASTRZĄB, M. KOZIEŁ, W. KUCEWICZ, H. NIEMIEC, M. SAPOR, P. Grabiec, K. Kucharski, J. Marczewski, D. Tomaszewski // W: LCWS 05 : 2005 Ineternational Linear Collider Workshop : Stanford, California, USA, 18–22 March 2005. — [Stanford : s. n.], [2005]. — S. [1–3] 0812. — Bibliogr. s. [3]

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

8
  • System for noise parameterization of MOS devices / M. KOZIEŁ, T. Klatka, W. KUCEWICZ, H. NIEMIEC // W: MIXDES 2005 : MIXed DESign of integrated circuits and systems : proceedings of the 12\textsuperscript{th} international conference : Kraków, Poland 22–25 June 2004, Vol. 1 of 2 / ed. Andrzej Napieralski. — [Łodź : Technical University. Department of Microelectronics and Computer Science], 2005. — S. 365–370. — Bibliogr. s. 370, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

9
  • TSSOI as an efficient tool for diagnostics of SOI technology in Institute of Electron Technology / Mateusz Barański, [et al.], Wojciech KUCEWICZ, [et al.], Halina NIEMIEC, Maria SAPOR, [et al.] // Journal of Telecommunications and Information Technology ; ISSN 1509-4553. — 2005 no. 1, s. 85–93. — Bibliogr. s. 91, Abstr.. — tekst: https://www.itl.waw.pl/czasopisma/JTIT/2005/1/85.pdf

  • keywords: pixel detector, test structure, SOI CMOS technology

    cyfrowy identyfikator dokumentu: