Wykaz publikacji wybranego autora

Wojciech Kucewicz, prof. dr hab. inż.

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki

2023
[dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne

[dyscyplina 2] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne (25%)
2018
[dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

[dyscyplina 2] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne (25%)

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika

Identyfikatory Autora	Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych
ORCID: 0000-0002-2073-711X ResearcherID: brak Scopus: 11039128200 PBN: 5e70922c878c28a047391176	OPI Nauka Polska System Informacyjny AGH (SkOs)

Identyfikatory Autora

Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-2073-711X orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 11039128200

PBN: 5e70922c878c28a047391176

sortowanie:

1

A chip removal facility for indium bump bonded pixel detectors / A. Airoldi, [et al.], W. KUCEWICZ, [et al.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment ; ISSN 0168-9002. — 2005 vol. 540 iss. 2–3, s. 259–265. — Bibliogr. s. 265, Abstr.. — tekst: https://www-1sciencedirect-1com-10000271y08d6.wbg2.bg.agh.edu.pl/science/article/pii/S0168900204024246/pdfft?md5=c2463018b2bae2fa9f22ac586ca523db&pid=1-s2.0-S0168900204024246-main.pdf
- słowa kluczowe
- DOI
keywords: pixel detector, stripping, indium bump

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.nima.2004.11.042

2

Development of monolithic active pixel detector in SOI technology / W. KUCEWICZ, A. Bulgheroni [et al.], H. NIEMIEC // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment ; ISSN 0168-9002. — 2005 vol. 541 iss. 1–2, s. 172–177. — Bibliogr. s. 176–177, Abstr.. — tekst: https://www-1sciencedirect-1com-1000027az0290.wbg2.bg.agh.edu.pl/science/article/pii/S0168900205000665/pdfft?md5=63006a2e72c73ce64da526054e7a6be7&pid=1-s2.0-S0168900205000665-main.pdf
keywords: silicon detectors, SOI technology, active pixel detector

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Halina Niemiec

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.nima.2005.01.054

3

Monolithic active pixel sensor realized in SOI technology – concept and verification / H. NIEMIEC, [et al.], M. JASTRZĄB, W. KUCEWICZ, [et al.], S. KUTA, [et al.], M. SAPOR, [et al.] // Microelectronics Reliability ; ISSN 0026-2714. — 2005 vol. 45 iss. 7–8, s. 1202–1207. — Bibliogr. s. 1206–1207, Abstr.. — tekst: https://www-1sciencedirect-1com-1000027l00293.wbg2.bg.agh.edu.pl/science/article/pii/S0026271404004172/pdfft?md5=d2ae14d79598be95d26527995c655ec5&pid=1-s2.0-S0026271404004172-main.pdf
brak zdefiniowanych słów kluczowych

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Stanisław Kuta, Maria Sapor, Halina Niemiec, Marcin Jastrząb

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.microrel.2004.10.014

4

Monolithic silicon pixel detectors in SOI technology / J. Marczewski, [et al.], M. KOZIEŁ, W. KUCEWICZ, [et al.], S. KUTA, H. NIEMIEC, M. SAPOR, M. SZELEŹNIAK, [et al.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment ; ISSN 0168-9002. — 2005 vol. 549 iss. 1–3, s. 112–116. — Bibliogr. s. 116, Abstr.. — VERTEX 2003 : 12th International Workshop on Vertex Detectors Low Wood : 14–19 September 2003, Lake Windermere, England. — tekst: https://www-1sciencedirect-1com-1000027l002a1.wbg2.bg.agh.edu.pl/science/article/pii/S0168900205009757/pdfft?md5=dcb546d9624571bfffdca7484021294b&pid=1-s2.0-S0168900205009757-main.pdf
słowa kluczowe: pixel sensors, SOI detectors

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Stanisław Kuta, Maria Sapor, Halina Niemiec, Michał Szeleźniak, Michał Kozieł

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.nima.2005.04.035

5

TSSOI as an efficient tool for diagnostics of SOI technology in Institute of Electron Technology / Mateusz Barański, [et al.], Wojciech KUCEWICZ, [et al.], Halina NIEMIEC, Maria SAPOR, [et al.] // Journal of Telecommunications and Information Technology ; ISSN 1509-4553. — 2005 no. 1, s. 85–93. — Bibliogr. s. 91, Abstr.. — tekst: https://www.itl.waw.pl/czasopisma/JTIT/2005/1/85.pdf
keywords: pixel detector, test structure, SOI CMOS technology

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Maria Sapor, Halina Niemiec

cyfrowy identyfikator dokumentu: