Wykaz publikacji wybranego autora

Wojciech Kucewicz, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne (25%)


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne (25%)


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-2073-711X orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 11039128200

PBN: 5e70922c878c28a047391176

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Silicon microstrip detectors of ionizing radiation / J. Marczewski, B. Jaroszewicz, W. KUCEWICZ, P. Grabski // Electron Technology ; ISSN 0070-9816. — 1999 vol. 32 no. 1/2, s. 191–192. — Bibliogr. s. 192, Abstr.. — 4th Symposium “Diagnostics and Yield: SOI [Silicon-On-Insulator]-Materials, Devices and Characterization” : Warszawa, April 22–24, 1998 / ed. Andrzej Jakubowski, Romuald B. Beck, Tomasz Janik ; Institute of Microelectronics and Optoelectronics, Warsaw University of Technology. — Warszawa : Institute of Electron Technology, 1999

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: