Wykaz publikacji wybranego autora

Andrzej Kos, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-3089-241X orcid iD

ResearcherID: S-3300-2017

Scopus: 55568000900

PBN: 5e70922b878c28a047391164

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
2
  • Estymacja strat energii w układach cyfrowych CMOSEstimation of energy losses in CMOS digital circuits / Jacek KOŁODZIEJ, Andrzej KOS // Kwartalnik Elektroniki i Telekomunikacji = Electronics and Telecommunications Quarterly ; ISSN 0867-6747. — 2001 t. 47 z. 3, s. 303–322. — Bibliogr. s. 321–322, Summ.. — tekst: http://www.ijet.pl/old_archives/kwartalnik_elektroniki_i_telekomunikacji_47z3_2001.pdf

  • słowa kluczowe: układy cyfrowe CMOS, projektowanie układów Low Power, estymacja strat energii, straty statyczne, straty dynamiczne, program MPET

    keywords: low power design, digital CMOS circuits, estimation of power loses, static loses, dynamic loses, MPET program

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • Logic synthesis method for power dissipation reduction in combinational digital circuits / Ireneusz BRZOZOWSKI, Andrzej KOS // Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences ; ISSN 0239-7528. — 2001 vol. 49 no. 4, s. 581–594. — Bibliogr. s. 593–594, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
5
  • On thermal time constants of VLSI circuits / Andrzej KOS // W: Advances in microelectronic device technology : 7–9 November 2001 Nanjing, China / eds. Qin-Yi Tong, Ulrich M. Goesele ; SPIE [The International Society for Optical Engineering]. — [China] : SPIE, 2001. — (Proceedings of SPIE / The International Society for Optical Engineering ; ISSN 0277-786X ; vol. 4600). — ISBN10: 0-8194-4339-5. — S. 160–169. — Bibliogr. s. 169, Abstr.

  • keywords: thermal dynamics, thermal time constants, VLSI systems and circuits

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1117/12.444669

6
7
8